检索结果-南通市图书馆

计量学报 1992年第3期13卷 202-207,225页

作者：徐可为陈瑾西安交通大学金属材料及强度研究所西安710049

针对Rigaku公司的Dmax系列X射线衍射仪,研究了准聚焦光学系统下,DS/RS/SS光阑配制及试样设置偏差对常规法应力测量精度的影响。确定了优化的光阑配置参数,并排除光阑的作用对试样设置偏差的影响作了正确评价。

关键词：衍射仪光阑测量应力

液相外延(BiTm)_3(FeGa)_5O_(12)石榴石单晶薄膜的X射线双晶衍射仪研究

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物理学报 1989年第10期38卷 1704-1709页

作者：田亮光刘湘林许顺生韩效溪中国科学院上海冶金研究所上海交通大学应用物理系

本文用X射线双晶衍射仪和光学偏光显微镜对不同液相外延温度生长的(BiTm)(FeGa)_5O_(12)石榴石单晶薄膜进行了研究。发现随着生长温度的下降,薄膜的点阵常数增加,比法拉第旋转角θ_F增大。同时发现液相外延单晶石榴石薄膜是由点阵常数... 详细信息

本文用X射线双晶衍射仪和光学偏光显微镜对不同液相外延温度生长的(BiTm)(FeGa)_5O_(12)石榴石单晶薄膜进行了研究。发现随着生长温度的下降,薄膜的点阵常数增加,比法拉第旋转角θ_F增大。同时发现液相外延单晶石榴石薄膜是由点阵常数或取向略有差别的两层组成。当薄膜的晶格失配大于10^(-3)时薄膜将破裂。

关键词：液相外延单晶薄膜 X射线衍射仪

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用双晶衍射仪作小角散射测量

物理学报 1990年第2期39卷 225-230页

作者：魏铭鉴武汉工业大学武汉430070

双晶衍射仪的分辨本领高,测量范围小,最适合作小角散射测量。可是长期以来都认为它的背底较重,能掩盖小角散射的讯号而未能普遍应用。本文指出这种背底主要来自两个方面:一是第二晶体的荧光;一是晶体摆动曲线的尾部效应。前者可以用波... 详细信息

双晶衍射仪的分辨本领高,测量范围小,最适合作小角散射测量。可是长期以来都认为它的背底较重,能掩盖小角散射的讯号而未能普遍应用。本文指出这种背底主要来自两个方面:一是第二晶体的荧光;一是晶体摆动曲线的尾部效应。前者可以用波高分析器来扣除。本文提出一种对尾部效应的扣除方法。经实测验证,这个方法是满意的。

关键词：衍射仪小角散射测量双晶

高分辨率多晶多反射X射线衍射仪在半导体材料分析中的应用

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光子学报 1997年第11期26卷 1003-1006页

作者：朱李安高鸿楷何益民贺丽赛小锋侯洵中国科学院西安光学精密机械研究所半导体室西安710068

用高分辨率多晶多反射X射线衍射仪进行衍射空间的二维扫描是目前非损伤性表征半导体材料质量的手段之一．不同质量的材料在二维衍射空间中的衍射图形状不同．本文以GaAS／AlGaAs为例，展示了如何利用X射线的二维衍射空间图的形状来定性... 详细信息

用高分辨率多晶多反射X射线衍射仪进行衍射空间的二维扫描是目前非损伤性表征半导体材料质量的手段之一．不同质量的材料在二维衍射空间中的衍射图形状不同．本文以GaAS／AlGaAs为例，展示了如何利用X射线的二维衍射空间图的形状来定性地分析半导体单晶样品的宏观弯曲、微观倾斜、组分梯度、应变、弛豫以及平行于界面的连续性等问题．所得结果同样适用于其它半导体材料．

关键词： X射线衍射仪倒易空间多晶多反射半导体晶体

HX-1B四圆单晶衍射仪微机控制系统及晶体结构自动解析系统的研制成功

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地质科技情报 1992年第1期11卷 80-82页

作者：沈令川金星杨代华中国地质大学测试中心华星高技术研究所武汉430074

开发具有各种特殊性能的结晶功能材料是国民经济及高新技术产业的核心任务之一,各种结晶材料的性能主要取决于它们的微观晶体结构,即取决于组成该物质的原子的空间排列形式。目前测定晶体结构的主要方法仍然是x射线单晶结构分析,四圆单... 详细信息

开发具有各种特殊性能的结晶功能材料是国民经济及高新技术产业的核心任务之一,各种结晶材料的性能主要取决于它们的微观晶体结构,即取决于组成该物质的原子的空间排列形式。目前测定晶体结构的主要方法仍然是x射线单晶结构分析,四圆单晶衍射仪是用来准确鉴定微细结晶颗粒并进行原子及分子水平结构研究的最有效的手段。

关键词：晶体结构衍射仪控制系统晶体

用微机控制的高分辨率三晶体X射线衍射仪究研GaInP外延层的超结构

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计量学报 1992年第1期13卷 59-63页

作者： M.Sutton 顾天巨石玉山梁家昌加拿大McGill大学物理系中国民航学院基础部

本文介绍自制具有极高分辨率的微机控制的三晶体X射线衍射仪。利用这台仪器测量了用MOCVD方法生长的Ga_(0.52)In_(0.48)P外延层的超结构。我们发现,在Ga_(0.52)In_(0.48)P外延薄膜内由In平面和Ga平面交替组成的(111)平面中,存在着交替... 详细信息

本文介绍自制具有极高分辨率的微机控制的三晶体X射线衍射仪。利用这台仪器测量了用MOCVD方法生长的Ga_(0.52)In_(0.48)P外延层的超结构。我们发现,在Ga_(0.52)In_(0.48)P外延薄膜内由In平面和Ga平面交替组成的(111)平面中,存在着交替的In丰与Ga丰平面。这种In丰与Ga丰的附加浓度可达4～6%。

关键词：微机 X射线衍射仪 GaInP 合金

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X射线衍射仪数据控制器的研制

X射线衍射仪数据控制器的研制

作者：董广芹吉林大学

学位级别：硕士

X射线衍射仪是利用X射线照射到不同的物质时，由于构成不同物质的晶体结构不同，就产生不同的衍射条纹，是一种研究晶体结构的分析方法，而不是研究样品内含有元素种类及含量的一种方法。X射线衍射仪数据控制器是X射线衍射仪的主要组成... 详细信息

X射线衍射仪是利用X射线照射到不同的物质时，由于构成不同物质的晶体结构不同，就产生不同的衍射条纹，是一种研究晶体结构的分析方法，而不是研究样品内含有元素种类及含量的一种方法。X射线衍射仪数据控制器是X射线衍射仪的主要组成部分，其测量和控制的对象： 1、X射线发生器的直流高压工作电压、电流的检测可调整：工作电压的检测：是通过对工作电压分压采样经A/D转换成计算机可以接受的数字量。工作电流的检测：是通过对工作电流取样电阻采样，再经A/D转换成计算机可以接受的数字量。工作电压的控制：通过计算机输出数字量经D/A转换器转换成模拟电压量控制X射线发生器的输入端的高压电源的电压。工作电流的控制：通过计算机输出数字量经D/A转换器转换成模拟电压量，控制X射线发生器阴极灯丝电压。衍射角测定单元的检测和控制：通过控制两组或多组步进电机实现对样品台与样品检测器以及X射线聚焦狭缝系统的联动装置的控制;通过控制狭缝快门实现对X射线源的控制;检测联动装置的上限（起始位置）、下限（终止位置）。 3、X射线强度记录单元：包括对检测器（计数管），比例放大器，窗口电压比较放大器和脉冲计数测量部分的测量和控制。在X射线衍射仪中X射线不能直接测量，必须把它转换成可测量的电信号，然后经过计数器转换成数字量。通常采用的闪烁计数器作为检测器。闪烁计数器是由闪烁体和光电倍增管组成，当X射线射入闪烁体时，使闪烁体产生一定数量的可见光子，可见光子的数量与X射线光子的能量成正比。闪烁体发出的光子被光电倍增管检测并放大，形成检测器的输出脉冲。检测器产生的脉冲幅度都很小（约几个到几十个毫伏），其幅度必须经放大器比例放大。经比例放大器放大后幅值约为5V左右。经比例放大器放大后的脉冲信号经窗口电压比较放大器消除干扰给计数器。根据X射线衍射仪的工作原理以及其所测量和控制的对象，本文围绕着X射线衍射仪数据控制器的研制过程展开了详细的论述。其主要研究工作及研究内容如下： 1、对X射线衍射仪工作原理及仪器结构的分析，讨论了X射线衍射仪的测控对象。 2、根据测控对象，给出X射线衍射仪数据控制器的整体结构。X射线衍射仪数据控制器采用了多CPU总线系统集成技术，是一个多CPU系统控制器，每个CPU控制一个模块，每一个模块都是一个独立的计算机系统，各个系统之间靠底板上的总线连接在一起，通过主控模块完成上层管理机的数据处理系统对各个模块的控制以及各个模块之间的信息交换，根据控制器的整体结构，进一步论述了构成控制器整体结构的总线标准，标准通讯代码和命令，主控制模块，步进电机模块，检测模块，AD/DA模块，I/O模块，继电器等模块的硬件设计等。 3、根据X射线衍射仪的工作原理及仪器构成部件，研究了X射线衍射的工作流程，主控模块与上层管理机以及主控模块与各子模块之间的通讯协议及通讯流程，步进电机驱动流程，检测计数工作方法，窗口电压放大器窗口电压的选取方法，以及光电倍增管高压选取方法。 4、总结了X射线衍射仪数据控制器的主要技术指标，给出了控制器部分性能测试及样品实验结果，对部分测试结果进行了误差分析，提示了数据控制器不足之处，初步拟定了系统改进方案（有待下一步工作继续研究）。

关键词： X射线衍射仪控制器窗口电压放大器光电倍增管计数器脉冲幅度分析器