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基于改进型SAT求解器算法的组合电路等价性检查研究
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微电子学 2023年 第1期53卷 109-114页
作者: 屈展 李康 刘鸿瑾 张绍林 李宾 周游 史江义 祁仲冬 西安电子科技大学微电子学院 西安710071 北京轩宇空间科技有限公司 北京100190
随着工艺节点的缩小,集成电路规模的增加,集成电路设计过程中逻辑等价性检查在确保设计功能正确性方面起着重要作用。文章研究了组合电路逻辑等价性检查技术,针对该领域常用的DPLL和CDCL算法存在的问题,提出了一种基于蒙特卡洛树搜索的... 详细信息
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组合电路复杂度与面积的翻转信息熵估计方法
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清华大学学报(自然科学版) 2004年 第4期44卷 542-545页
作者: 张盛 王乃龙 周润德 清华大学微电子学研究所 北京100084
为了提高在信息论基础上的逻辑电路面积和功耗分析方法的估计精度,在传统输出信息熵估计理论基础上,提出了利用翻转信息熵进行电路实现复杂度和面积估计的理论方法。概率的方法被用于对组合逻辑电路的输入输出信号翻转行为的相关和相似... 详细信息
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用AIG推理检验组合电路的等价性
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西安电子科技大学学报 2009年 第5期36卷 877-884页
作者: 范全润 段振华 徐国培 西安电子科技大学计算机学院 陕西西安710071
大部分基于SAT的组合电路等价性检验方法是将两个待检验的电路组合成一个miter电路,将这个电路变换成CNF形式,然后调用一个SAT判定器来确定这个CNF是否是可满足的.但是,当miter电路被变换成CNF之后,就丢掉了电路的结构信息.针对这种方... 详细信息
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基于分布估计算法的组合电路测试生成
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电子学报 2006年 第B12期34卷 2384-2386页
作者: 赵中煜 彭宇 彭喜元 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 黑龙江哈尔滨150080
基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法.本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于,组合电路测试生成过程中存在高阶、长距离模式,从而导致遗传算法容易陷入局部极值或早熟收敛.为此,本文首次提出使用分布估计... 详细信息
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基于神经网络的组合电路测试生成算法
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哈尔滨工业大学学报 2002年 第2期34卷 255-257页
作者: 刘晓东 孙圣和 哈尔滨工业大学计算机与电气学院 黑龙江哈尔滨150001
介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能... 详细信息
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组合电路等价性检验方法研究
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计算机工程 2007年 第4期33卷 253-255页
作者: 曾琼 闫炜 中国科学院成都计算机应用研究所
分析了数字电路等价性检验方法的基本原理,对组合电路等价性检验方法进行了综合研究,讨论了各种方法的特点,指出了各种方法的优缺点及其适用场合,总结了组合电路等价性检验方法的发展规律,指出了未来的发展方向。
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组合电路功能级测试生成的临界二元树方法
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电子学报 1996年 第8期24卷 68-71页
作者: 陈朝阳 陈光禹 虞厥邦 成都电子科技大学CAT实验室
本文描述了电路基于呆滞型故障模型的功能级测试生成的概念及临界二元树(Criti-calBinaryTree,CBT)用于功能级测试生成的方法,提出了一种新的临界输入动态识别方法,以求获得较小的CBT规模,加速测试生成... 详细信息
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基于紧致遗传算法的组合电路测试集压缩
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仪器仪表学报 2008年 第11期29卷 2384-2388页
作者: 赵中煜 彭宇 彭喜元 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 哈尔滨150080
随着电路集成度和复杂度的不断增加,电路测试所需的测试矢量集的规模也迅速增长。本文针对现有测试集压缩算法全局寻优能力不足的问题,提出一种基于紧致遗传算法的组合电路测试集压缩方法。紧致遗传算法不但具有良好的全局搜索能力,而... 详细信息
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组合电路测试生成的神经网络建模研究与实现
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仪器仪表学报 2002年 第Z3期23卷 137-140页
作者: 徐红兵 祝颖 王厚军 电子科技大学自动化工程学院 成都610054
针对组合电路的测试生成 ,采用神经网络进行了建模平台的研究与实现。通过建立神经网络基本单元库 ,对于注入故障的组合电路采用神经网络编译器自动生成神经网络模型 ,以完成组合电路基于神经网络算法的测试生成。实验验证表明了建模平... 详细信息
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组合电路测试生成的一种新方法
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弹箭与制导学报 2006年 第S5期26卷 293-296页
作者: 赵春晖 侯艳丽 廖艳苹 哈尔滨工程大学信息与通信工程学院 哈尔滨150001
提出了一种基于改进粒子群算法的组合电路测试生成算法,即在故障模拟的基础上应用改进粒子群算法来进行组合电路的测试生成。在一些电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间。
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