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一种新型的高性能微通道板离子阻挡膜

电子学报 2004年第6期32卷 1023-1025页

作者：闫金良烟台师范学院物理系山东烟台264025

微通道板 (MCP)离子阻挡膜在Ⅲ代微光像管中起到延长寿命的关键作用 .分析了目前离子阻挡膜制备方法的优缺点 ,提出一种在MCP输入面制备离子阻挡膜的新型工艺 ,此工艺不造成MCP通道壁内表面碳污染 .在MCP输入面制备了 4nm厚Al2 O3 离子... 详细信息

微通道板 (MCP)离子阻挡膜在Ⅲ代微光像管中起到延长寿命的关键作用 .分析了目前离子阻挡膜制备方法的优缺点 ,提出一种在MCP输入面制备离子阻挡膜的新型工艺 ,此工艺不造成MCP通道壁内表面碳污染 .在MCP输入面制备了 4nm厚Al2 O3 离子阻挡膜 ,测量了MCP离子阻挡膜的离子阻挡特性和电子透过特性 .实验表明 ,4nm厚Al2 O3 离子阻挡膜能有效地阻止反馈离子 ,透过电子 .

关键词：微通道板离子阻挡膜像管

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微光像增强管离子阻挡膜质量测试技术研究

应用光学 2009年第3期30卷 482-485页

作者：贺英萍张太民石峰朱宇峰拜晓锋微光夜视技术国防科技重点实验室陕西西安710065 西安应用光学研究所陕西西安710065

鉴于通常制作的离子阻挡膜存在通孔,在阴极低电压下,经MCP电子倍增在荧光屏上显示为亮孔,为测试出规则与不规则亮孔的大小和数量,提出了一种像管的离子阻挡膜质量测试方法。该方法是在规定电压和光阴极照度的条件下,使像管光阴极接收约... 详细信息

鉴于通常制作的离子阻挡膜存在通孔,在阴极低电压下,经MCP电子倍增在荧光屏上显示为亮孔,为测试出规则与不规则亮孔的大小和数量,提出了一种像管的离子阻挡膜质量测试方法。该方法是在规定电压和光阴极照度的条件下,使像管光阴极接收约2lx的光照射,给像管各极施加电压使像管荧光屏上离子阻挡膜亮孔清晰可见,用10倍显微镜或相机拍照,观察荧光屏所成的离子阻挡膜通孔图像。试验结果表明:在相同的测试条件下,离子阻挡膜的制作工艺不同,离子阻挡膜质量亦不同。

关键词：微光像管微通道板离子阻挡膜膜质量测试

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一种新型MCP离子阻挡膜制备工艺研究

光电子技术 2021年第2期41卷 132-134,142页

作者：汪述猛唐光华杨炳辰中国电子科技集团公司第五十五研究所南京210016

三代微光像增强管需在所使用的微通道板(microchannel plate,MCP)输入面制备离子阻挡膜,以阻挡正离子轰击NEA光电阴极,维持和提高器件使用寿命。为此,研究开发了一种新的MCP离子阻挡膜制备工艺,先采用专用胶体填充MCP微孔,再用电子束蒸... 详细信息

三代微光像增强管需在所使用的微通道板(microchannel plate,MCP)输入面制备离子阻挡膜,以阻挡正离子轰击NEA光电阴极,维持和提高器件使用寿命。为此,研究开发了一种新的MCP离子阻挡膜制备工艺,先采用专用胶体填充MCP微孔,再用电子束蒸发Al_(2)O_(3)膜,蒸发速率为0.05 nm/s,蒸镀后用异丙醇去除微孔中的胶体。实验结果表明,该工艺制备的MCP离子阻挡膜具有膜基结合强度高、通孔面积小、成像质量一致性高等优点,满足三代像增强管对MCP离子阻挡膜的要求。

关键词：离子阻挡膜电子束蒸发微通道板 Al_(2)O_(3)膜胶体填孔

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微通道板离子阻挡膜对三代像管分辨率的影响

应用光学 1997年第6期18卷 24-26,43页

作者：闫金良向世明北京理工大学北京100081 西安应用光学研究所西安710100

分析传统的微通道板离子阻挡膜对三代像管分辨率的影响，指出离子阻挡膜衰减碰撞通道壁的一次电子数及其工艺引起的通道内壁碳污染是导致带膜三代像管分辨率下降的主要原因，提出降低离子阻挡膜对三代像管分辨率影响的主要技术途径。

关键词：离子阻挡膜三代像管分辨率微通道板 MCP

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微通道板离子阻挡膜

应用光学 1996年第1期17卷 12-14页

作者：闫金良北京理工大学

微通道板离子阻挡膜在第三代微光像增强器中起着重要作用，本文在分析离子阻挡膜形成原理的基础上，给出了实验方案。最后，测量和分析了带膜微通过板的性能。

关键词：微通道板离子阻挡膜微光技术

无膜微通道板第三代像增强器的可行性及技术途径探究

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光学学报 2012年第3期32卷 273-279页

作者：潘京生吕景文李燕红周建勋长春理工大学材料科学和工程学院吉林长春120022 北方夜视技术股份有限公司南京分公司江苏南京211102 北京理工大学光电学院北京100081

砷化镓光阴极的量子效率大大优于超二代多碱光阴极,但由于微通道板(MCP)输入面上的离子阻挡膜的存在,第三代像增强器,即使是薄膜第三代像增强器,相比于同时期技术水平的超二代像增强器,在标准测试条件下的信噪比和分辨力等参数上并无明... 详细信息

砷化镓光阴极的量子效率大大优于超二代多碱光阴极,但由于微通道板(MCP)输入面上的离子阻挡膜的存在,第三代像增强器,即使是薄膜第三代像增强器,相比于同时期技术水平的超二代像增强器,在标准测试条件下的信噪比和分辨力等参数上并无明显优势。通过引入MCP噪声因子的概念,对像增强器光阴极量子效率的有效利用率进行了评价。强调了实现无膜MCP第三代像增强器的必要性,并指明了目前的无膜MCP第三代像增强器开发中所存在的问题,对改善MCP耐电子清刷除气能力及进一步地减少MCP中的有害物种含量的有效方法进行了研究,进而明确了实现高可靠性高性能无膜MCP第三代像增强器的可行性和有效技术途径。

关键词：探测器像增强器无膜MCP第三代像增强器微通道板(MCP) 离子阻挡膜砷化镓光阴极

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MCP与荧光屏组件的噪声特性测试与分析

MCP与荧光屏组件的噪声特性测试与分析

作者：梁旗南京理工大学

学位级别：硕士

MCP (Micro-channel Plates)与荧光屏组件作为微光像增强器的核心部件之一,其性能的好坏直接决定了像管质量的优劣。MCP因其优异的电子倍增功能而成为微光像增强器核心部件,荧光屏作为微光像增强器中人眼获取微光图像的直接来源而倍受... 详细信息

MCP (Micro-channel Plates)与荧光屏组件作为微光像增强器的核心部件之一,其性能的好坏直接决定了像管质量的优劣。MCP因其优异的电子倍增功能而成为微光像增强器核心部件,荧光屏作为微光像增强器中人眼获取微光图像的直接来源而倍受重视。本文通过对MCP与荧光屏组件噪声特性的测试与分析,为客观评价MCP与荧光屏组件噪声特性以及制备高性能的微光像增强器提供实验依据。本文在研究了MCP、荧光屏的工作原理及其结构特性的基础上,充分模拟微光像增强器噪声测试条件,设计出MCP与荧光屏组件噪声特性的测试方案。为实现对MCP与荧光屏组件噪声特性的测试,对原有噪声测试系统进行了改进。设计了MCP与荧光屏组件噪声特性测试的夹具,考虑到观察窗的结构尺寸、组件固定位置以及杂散光的干扰,设计了一套光学系统用来调试和处理输出光信号,为了采集输出光信号,设计了以高性能光电倍增管为核心的光电信号采集系统。应用Matlab编程实现了信号的傅立叶变换、功率谱估计等信号分析方法。通过软硬件的协调配合,测试系统能够实现MCP与荧光屏组件的噪声特性测试。设计了多组对比试验,应用噪声特性测试系统对同一片通道板镀膜部分与未镀膜部分、镀有不同厚度离子阻挡膜的通道板的噪声特性进行了测试,对比测试结果,分析造成噪声特性差异的原因。多组实验表明MCP与荧光屏组件的信噪比、噪声频谱与引入噪声的原因以及组件的性能表现相符,说明噪声特性测试系统能够测试MCP与荧光屏组件的噪声特性,并且可以为制备高性能的微光像增强器提供测试参考。

关键词：微通道板荧光屏信噪比噪声频谱离子阻挡膜

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光放大、控制及器件

中国光学 1997年第4期11卷 73-74页

TN144 97042620微通道板离子阻挡膜=Microchannel plate ionbarrier film[刊,中]/闫金良(北京理工大学.北京(100081))//应用光学.—1996,17(1).—12-14在分析离子阻挡膜形成原理的基础上,给出了实验方案。测量和分析了带膜微通道板的性... 详细信息

TN144 97042620微通道板离子阻挡膜=Microchannel plate ionbarrier film[刊,中]/闫金良(北京理工大学.北京(100081))//应用光学.—1996,17(1).—12-14在分析离子阻挡膜形成原理的基础上,给出了实验方案。测量和分析了带膜微通道板的性能。图2表1参2(严兰)

关键词：应用光学带膜微通道板离子阻挡膜光电倍增管理工大学西安形成原理等效背景实验方案研究所

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带膜微通道板的探测效率

长春光学精密机械学院学报 1996年第4期19卷 17-20页

作者：闫金良孟素英姜德龙李野卢耀华西安应用光学研究所长春光学精密机械学院

本文介绍了微通道板离子阻挡膜在成像器件中的作用,测量了带膜微通道板的探测效率。实验发现,带膜微通道板的探测效率不是膜厚的单调函数。最后,从理论上对带膜微通道板的探测效率进行了半定量分析。

关键词：微通道板离子阻挡膜探测效率光电器件