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硅光电池的激光损伤机制

应用激光 1995年第6期15卷 255-256页

作者：蒋志平钟海荣陆启生刘泽金国防科技大学应用物理系

研究了激光对硅光电池的损伤，实验表明，损伤前后的饱和开路电压相等，损伤程度取决于损伤面积，损伤后伏安曲线变得平直，说明文献［１］提出的锑化钢光伏型探测器激光损伤的并联电阻模型有普遍意义。实验还发现激光损伤将导致反向击... 详细信息

研究了激光对硅光电池的损伤，实验表明，损伤前后的饱和开路电压相等，损伤程度取决于损伤面积，损伤后伏安曲线变得平直，说明文献［１］提出的锑化钢光伏型探测器激光损伤的并联电阻模型有普遍意义。实验还发现激光损伤将导致反向击穿电压降低。

关键词：激光损伤硅光电池伏安特性光电探测器

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不同波长三倍频DKDP晶体的激光损伤

强激光与粒子束 2010年第2期22卷 323-326页

作者：刘宝安孙绍涛季来林赵元安胡国行徐明霞高慧王正平孙洵许心光山东大学晶体材料国家重点实验室济南250100 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所上海201800 中国科学院上海光学精密机械研究所上海201800

采用传统降温法,利用高纯原料从氘化程度为80%的溶液生长了四方相磷酸二氘钾(DKDP)晶体,并按Ⅱ类三倍频方式切割晶体。三倍频用DKDP晶体的最大问题在于其抗光伤阈值低于KDP晶体,严重限制了激光输出的能量密度和晶体使用寿命。考察了不... 详细信息

采用传统降温法,利用高纯原料从氘化程度为80%的溶液生长了四方相磷酸二氘钾(DKDP)晶体,并按Ⅱ类三倍频方式切割晶体。三倍频用DKDP晶体的最大问题在于其抗光伤阈值低于KDP晶体,严重限制了激光输出的能量密度和晶体使用寿命。考察了不同波长下三倍频DKDP晶体的损伤阈值,以及激光退火效应。实验表明,激光退火对于DKDP晶体的损伤阈值有显著的提升作用,基频、倍频、三倍频的提升效果分别达到1.4,1.9,2.7倍,是改善DKDP晶体抗光伤能力的有效途径。

关键词：四方相磷酸二氘钾晶体三倍频激光损伤激光退火

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脉冲宽度对CCD探测器激光损伤效果的影响

红外与激光工程 2013年第S02期42卷 403-406页

作者：李化王玺聂劲松卞进田雷鹏郝向南脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院) 安徽合肥230037

采用1 064 nm激光在5 kHz、不同脉宽条件下对CCD探测器进行了损伤实验,观察到饱和干扰、线状损伤和完全损伤等一系列的损伤现象,并测量计算了各种损伤现象相应的损伤阈值,研究了损伤阈值与脉冲宽度之间的关系。结果表明,脉冲宽度不同的5... 详细信息

采用1 064 nm激光在5 kHz、不同脉宽条件下对CCD探测器进行了损伤实验,观察到饱和干扰、线状损伤和完全损伤等一系列的损伤现象,并测量计算了各种损伤现象相应的损伤阈值,研究了损伤阈值与脉冲宽度之间的关系。结果表明,脉冲宽度不同的5 kHz重频激光的损伤阈值基本相同,CCD探测器的损伤效果与重频激光的脉冲宽度变化关系不大。影响可见光CCD探测器激光损伤阈值的主要因素是单脉冲功率密度的量级大小,当脉宽减小导致单脉冲功率密度的量级显著增大时,损伤阈值减小;当单脉冲功率密度的量级不变时,损伤阈值也基本不变。

关键词：激光损伤高重频激光损伤阈值脉冲宽度

用第一性原理研究K空位对KDP晶体激光损伤的影响

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强激光与粒子束 2006年第4期18卷 583-586页

作者：王坤鹏张建秀房昌水于文涛王圣来顾庆天孙洵山东大学晶体材料国家重点实验室济南250100

用基于密度泛函理论及超软赝势的第一性原理研究了KH2PO4(KDP)晶体中K空位的电子结构、形成能及驰豫构型。讨论了K空位形成后电荷密度的重新分布、相应的电子态密度和能带结构等性质。计算得到中性K空位的形成能为6.5 eV,远小于间隙K原... 详细信息

用基于密度泛函理论及超软赝势的第一性原理研究了KH2PO4(KDP)晶体中K空位的电子结构、形成能及驰豫构型。讨论了K空位形成后电荷密度的重新分布、相应的电子态密度和能带结构等性质。计算得到中性K空位的形成能为6.5 eV,远小于间隙K原子点缺陷形成能13.07 eV。K空位的存在使晶胞体积增大,分别沿结晶学轴a方向增大近0.8%,b方向增大近0.87%,c方向增大近1.2%,同时使与之配位的8个氧原子发生较大位移,使这8个氧形成的空腔体积增大近3.2%。空腔体积的增大不仅促进了各种点缺陷的扩散迁移,而且有利于其它杂质原子的填隙。K原子迁移率的增大会引起离子电导率的增大,因而会降低KDP的激光损伤阈值,因此从这个方面讲,K空位的存在是不利的。但是如果能从实验上(如热退火)利用K空位所造成的扩散通道排出或改善缺陷结构,则可提高KDP晶体的光学质量。

关键词： KDP晶体 K空位激光损伤第一性原理

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外加偏置电场下类金刚石薄膜激光损伤形貌

强激光与粒子束 2012年第1期24卷 207-209页

作者：吴慎将苏俊宏施卫王馨梅徐均琪西安理工大学应用物理系西安710048 西安工业大学光电工程学院西安710032

使用非平衡测控溅射技术沉积了类金刚石薄膜,对比了外加偏置电场前后薄膜的抗激光损伤表面形貌变化,发现薄膜施加偏置电场后,薄膜的激光损伤区域内有大量丝状薄膜,损伤形貌存在明显不同,损伤面积减小,薄膜的激光损伤情况得到改善。这表... 详细信息

使用非平衡测控溅射技术沉积了类金刚石薄膜,对比了外加偏置电场前后薄膜的抗激光损伤表面形貌变化,发现薄膜施加偏置电场后,薄膜的激光损伤区域内有大量丝状薄膜,损伤形貌存在明显不同,损伤面积减小,薄膜的激光损伤情况得到改善。这表明外加偏置电场对薄膜的损伤有影响,激光在薄膜中激励产生的光生电子在电场作用下产生快速漂移,间接降低了激光辐照区域内的局部能量密度,减缓了薄膜的石墨化,提高了薄膜的抗激光损伤能力。

关键词：外加偏置电场类金刚石薄膜激光损伤损伤形貌

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激光损伤防治研究进展

激光与红外 2007年第8期37卷 705-708页

作者：孙嵘罗振坤刘海峰军事医学科学院放射与辐射医学研究所北京100850

简要阐述激光损伤的类型和机理,重点分析国内外激光安全标准、激光防护器材、激光损伤防治药物研究的最新进展。

关键词：激光损伤安全标准防护器材防治药物

用1064nm激光增强HfO_2/SiO_2薄膜的抗激光损伤能力的实验研究

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强激光与粒子束 2003年第11期15卷 1053-1056页

作者：胡建平马平许乔成都精密光学工程研究中心四川成都610041

　用1064nm激光实验研究了HfO2/SiO2薄膜的激光损伤增强效应,实验以薄膜激光损伤阈值70%的激光能量开始,采用N ON 1方式处理薄膜,激光脉冲的能量增量为5J/cm2。实验结果表明,激光处理薄膜表面能使激光损伤阈值平均提高到3倍左右,并且薄... 详细信息

　用1064nm激光实验研究了HfO2/SiO2薄膜的激光损伤增强效应,实验以薄膜激光损伤阈值70%的激光能量开始,采用N ON 1方式处理薄膜,激光脉冲的能量增量为5J/cm2。实验结果表明,激光处理薄膜表面能使激光损伤阈值平均提高到3倍左右,并且薄膜的损伤尺度也明显减小。对有缺陷的薄膜,其缺陷经低能量激光后熔和消除,其抗激光损伤能力得到增强,但增强得并不显著,而薄膜本身的激光预处理,可以使其激光损伤阈值大大提高。

关键词：激光损伤激光预处理 HfO2/Si02高反膜

溶胶-凝胶法制备抗激光损伤SiO_2疏水减反射膜

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强激光与粒子束 2004年第1期16卷 40-44页

作者：徐耀范文浩黄祖鑫章斌吴东蒋晓东孙予罕魏晓峰中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室山西太原030001 中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900

　通过溶胶凝胶法,在碱性条件下水解缩聚正硅酸乙酯获得含有SiO2颗粒的溶胶;以甲基三乙氧基硅烷在酸性条件下水解缩聚获得双链聚合物溶液,作为疏水基团的引入剂。用两者的混合物在玻璃片上旋转镀膜。利用光子相干光谱法、透射电子显微... 详细信息

　通过溶胶凝胶法,在碱性条件下水解缩聚正硅酸乙酯获得含有SiO2颗粒的溶胶;以甲基三乙氧基硅烷在酸性条件下水解缩聚获得双链聚合物溶液,作为疏水基团的引入剂。用两者的混合物在玻璃片上旋转镀膜。利用光子相干光谱法、透射电子显微镜、小角X射线散射等方法研究了溶胶微结构,利用紫外可见光谱仪和接触角测定仪测量薄膜的透射率和疏水性。单面反射率最低降至0.01%,对水接触角最高为118°。利用Nd:YAG激光(1064nm)测量了薄膜的激光损伤阈值,随混合溶胶中双链聚合物含量的增加损伤阈值减小,但均高于20J/cm2(1ns脉冲)。由于薄膜既保持了纳米氧化硅薄膜的多孔性,又在颗粒及孔表面以甲基修饰,水对薄膜的浸润能力大大降低,因此薄膜的时间稳定性大大增强,同时也保证了较高的损伤阈值和透射率。

关键词：溶胶-凝胶疏水性减反射膜二氧化硅激光损伤

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亚表面杂质对熔石英激光损伤的影响

电子科技大学学报 2012年第2期41卷 238-241,304页

作者：蒋晓东郑直祖小涛李春宏周信达黄进郑万国中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900 电子科技大学物理电子学院成都610054 北京科技大学物理系北京海淀区100083

采用HF酸对熔石英材料刻蚀不同的时间,利用同步辐射X射线荧光成像方法(SXRF)研究熔石英材料亚表面区域的杂质种类和相对含量,利用AFM和白光干涉仪研究刻蚀区域表面形貌和表面粗糙度,并采用R:1方式测试激光损伤阈值。实验结果表明,熔石... 详细信息

采用HF酸对熔石英材料刻蚀不同的时间,利用同步辐射X射线荧光成像方法(SXRF)研究熔石英材料亚表面区域的杂质种类和相对含量,利用AFM和白光干涉仪研究刻蚀区域表面形貌和表面粗糙度,并采用R:1方式测试激光损伤阈值。实验结果表明,熔石英亚表面的杂质主要包括Fe、Cu、Ce,其相对含量随刻蚀时间的增加而降低。在刻蚀时间小于30 min时,损伤阈值明显提升;继续增加刻蚀时间,阈值降低。当刻蚀时间较短时,Cu、Ce等杂质含量对损伤阈值影响较大。刻蚀时间过长时,元件表面粗糙度成为影响损伤阈值的主要因素。

关键词：熔石英 HF酸刻蚀激光损伤 X射线荧光成像方法