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液固界面滑移研究进展

实验流体力学 2020年第2期34卷 80-88页

作者：郑旭李战华中国科学院力学研究所非线性力学国家重点实验室北京100190

滑移边界条件是流体力学研究中一个悠久而重要的科学问题,在微纳流控研究中备受关注。近年来,对简单流体(如水)在光滑液固界面的滑移长度的量级逐渐取得共识,而对复杂流体在液固界面的滑移研究方兴未艾。本文综述了从简单流体扩展至复... 详细信息

滑移边界条件是流体力学研究中一个悠久而重要的科学问题,在微纳流控研究中备受关注。近年来,对简单流体(如水)在光滑液固界面的滑移长度的量级逐渐取得共识,而对复杂流体在液固界面的滑移研究方兴未艾。本文综述了从简单流体扩展至复杂流体的研究过程中,滑移实验研究的新的测量结果以及理论描述方法。重点介绍了近期Charlaix教授课题组采用表面力仪测量高分子电解液的滑移结果,以从介观角度理解复杂流体在液固界面的滑移及其影响因素。

关键词：滑移液固界面复杂流体微纳流控表面力仪黏弹性

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表面电荷及外电场对液固界面热阻的影响

物理化学学报 2012年第12期28卷 2939-2943页

作者：葛宋陈民清华大学工程力学系北京100084

采用非平衡分子动力学方法模拟了外电场及固体表面电荷对水与固体间界面热阻的影响.结果表明,外加电场平行于界面时,其对界面热阻几乎没有影响,而垂直于界面时,界面热阻将随着电场强度的增大而减小.壁面带正电荷或负电荷都将使得界面热... 详细信息

采用非平衡分子动力学方法模拟了外电场及固体表面电荷对水与固体间界面热阻的影响.结果表明,外加电场平行于界面时,其对界面热阻几乎没有影响,而垂直于界面时,界面热阻将随着电场强度的增大而减小.壁面带正电荷或负电荷都将使得界面热阻减小.界面热阻与表面电荷密度及电场强度均满足二次函数关系.模拟结果表明施加外电场和表面电荷是控制液固界面热阻的有效方法.

关键词：表面电荷外电场液固界面界面热阻分子动力学模拟

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反应型液固界面润湿性的数学表征

西安交通大学学报 1997年第10期31卷 94-99页

作者：朱定一金志浩王永兰浩宏奇西安交通大学

用热力学参数构建了润湿角θ与反应型液固界面各相性质及温度的数学关系，简明地将润湿角θ与液固相材料性质之间的内在关系连系在一起，解释了异种材料在钎焊、复合过程中的现象和事实．

关键词：液固界面焊接复合材料润湿性反应型

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液固界面上酯化反应的动力学研究

化学通报 1989年第4期 47-49页

作者：徐桂芸竺安中国科学院化学研究所

关于酯化反应的动力学,前人已经做了大量工作。在研究痕量分析技术时,作者发展了界面衍生法,适合于ppm级的有机酸,酚类以及黄腐酸类物质。此法回收率较高而重复性好,且操作手续简单。为了进一步探讨界面衍生化技术。

关键词：酯化反应动力学液固界面

液固界面的1,9-二苯基-1,3,6,8-壬四烯-5酮分子的STM研究

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化学通报 1993年第6期 31-33页

作者：王忠怀张平城朱传凤白春礼中国科学院化学所北京100080

对于固液界面分子行为的研究在以下几个方面有着重要意义,如对润滑和吸附的更深入的了解、液晶在表面的取向、界面的分子的识别现象、催化、电荷及物质在超薄有机层中的传输等。从理论角度来说,单分子层的有序性也是人们非常感兴趣的课... 详细信息

对于固液界面分子行为的研究在以下几个方面有着重要意义,如对润滑和吸附的更深入的了解、液晶在表面的取向、界面的分子的识别现象、催化、电荷及物质在超薄有机层中的传输等。从理论角度来说,单分子层的有序性也是人们非常感兴趣的课题。扫描隧道显微镜(STM)是80年代初发展起来的一种新型表面分析工具。

关键词：液固界面二苯基壬四烯酮分子

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液固界面反射的柱面波和头波的相位差和干涉

科学通报 2001年第8期46卷 655-659页

作者：傅德永刘亮陈以方陈以方诸国桢清华大学物理系北京100084 清华大学机械系北京100084

用数值方法和实验方法研究了脉冲柱面波在液固界面上的反射声场．计算出以灰度表示的声场图像，并给出了反射波的波阵面上一系列暗区所对应的入射角θｎ（ｎ＝１，２，３，…）．从ｓｃｈｌｉｅｒｅｎ系统获得的声场照片中量出暗区的位... 详细信息

用数值方法和实验方法研究了脉冲柱面波在液固界面上的反射声场．计算出以灰度表示的声场图像，并给出了反射波的波阵面上一系列暗区所对应的入射角θｎ（ｎ＝１，２，３，…）．从ｓｃｈｌｉｅｒｅｎ系统获得的声场照片中量出暗区的位置与数值计算结果一致．暗区的形成，一是由于辐射头波的损耗，二是由于头波和反射波的干涉．假定头波的相位超前于反射波约３π／４，可以较准确地解释严格的理论计算结果及实验照片．

关键词：液固界面瞬态柱面波场头波反射波相位差干涉声场

基于AFM胶体探针测量液固界面DLVO力及表面电势

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实验流体力学 2017年第4期31卷 16-21页

作者：田维芳郑旭李战华徐征大连理工大学机械工程学院辽宁大连116024 中国科学院力学研究所非线性力学国家重点实验室北京100190

表面电势是微纳流控芯片中流体流动的重要参数。本文介绍了基于AFM胶体探针技术测量液固界面DLVO力并进一步测量表面电势及表面电荷密度的方法。本文改进了胶体探针制作的技术手段,并提出用双探针法测量胶体探针的弹性系数。在0.1~1mM... 详细信息

表面电势是微纳流控芯片中流体流动的重要参数。本文介绍了基于AFM胶体探针技术测量液固界面DLVO力并进一步测量表面电势及表面电荷密度的方法。本文改进了胶体探针制作的技术手段,并提出用双探针法测量胶体探针的弹性系数。在0.1~1mM浓度范围内的NaCl溶液中,测量了硅、二氧化硅和氮化硅液固界面双电层内的DLVO力及表面电势。实验结果表明胶体探针技术可以很好地测量液固界面的DLVO力,尤其对静电力指数变化段非常敏感。通过DLVO力曲线可以间接测量表面电势、表面电荷密度等重要参数,是微纳流动及界面属性测量的有效手段。此外,在不同硅基材料表面的测量结果显示了硅烷醇基密度对表面电势起主导作用,可以通过选用不同硅烷醇基密度的材料来有效调控表面电势,从而在硅基材料制作的微流控芯片中调控电动流动的强弱。

关键词： AFM 胶体探针液固界面 DLVO力表面电势