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锁相环路由于具有环路跟踪特性，窄带滤波特性，无频差的闭环控制系统和易于集成等优点，故此，这门锁相新技术得到了广泛的应用。可是，设计一个应用锁相环的电路系统之前，必须先了解该锁相环的主要指标，特别是它的捕捉带宽和同步带宽。这两项指标就象晶体管关键指标放大系数β值和特征频率ｆＴ一样重要。所以，如何准确地测量出锁相环的捕捉带和同步带就成为应用它的一个重要问题。传统的测量方法是用一频稳度较高的振荡频率连续可变的电压Ｕｉ（ｔ）作为参考频率源，与锁相环的ＶＣＯ输出电压Ｕｏ（ｔ）一起分别输入双踪示波器，在荧光屏上观察它们的跟踪特性，并以频率计数器监测而测得捕捉带和同步带。然而，这样的测量方法观察不到从失锁到入锁的快捕过程和从入锁到失锁的过渡过程，因此测得的结果误差较大（可大于５％）。于是，我们改进了上述的测量方法，那就是用电子示波器监测Ｕｉ（ｔ）和Ｕｏ（ｔ）的Ｘ—Ｙ图形。从荧光屏上不仅能清晰地观察到从失锁到入锁的快捕过程，从入锁到失锁的过渡过程、完全入锁及失锁的四种Ｘ—Ｙ图形，而且进一步减小了测量误差（不大于１％）。这样改进的测量方法，使锁相环指标的测量工作面貌一新。在应用锁相环的工作中，更加安全可靠。

关键词：锁相环路捕捉带同步带测量锁相技术

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