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近距离雾的激光多次散射模拟

光子学报 2017年第8期46卷 201-210页

作者：童广德王占山沈正祥王彪同济大学先进微结构材料教育部重点实验室上海200092 同济大学物理科学与工程学院精密光学工程技术研究所上海200092 电磁散射重点实验室上海200092

为了满足精确快速获取雾的多次散射仿真需求,在近程雷达距离较近情况下,将雷达方程和Mie散射理论相结合,提出一种快速有效的激光多次散射计算方法.首先通过雾滴谱模型建立雾颗粒的几何模型,然后根据Mie散射理论获得的单个粒子的散射函... 详细信息

为了满足精确快速获取雾的多次散射仿真需求,在近程雷达距离较近情况下,将雷达方程和Mie散射理论相结合,提出一种快速有效的激光多次散射计算方法.首先通过雾滴谱模型建立雾颗粒的几何模型,然后根据Mie散射理论获得的单个粒子的散射函数计算激光在雾模型中单个颗粒的一次散射和二次散射功率密度,结合雷达方程推导出雾的多次等效散射截面和散射系数计算函数.模拟计算表明:雾的激光二次等效散射截面与雾浓度的2/3次方成正比,二次散射系数随能见度增加的衰减比一次散射系数快.

关键词：激光多次散射雷达散射截面仿真模拟雾滴谱能见度

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太赫兹QCL技术研究进展

材料导报 2013年第19期27卷 109-116页

作者：沈昌乐王雪敏黎维华阎大伟赵妍罗跃川彭丽萍吴卫东唐永建中国工程物理研究院激光聚变研究中心等离子体物理重点实验室中国工程物理研究院太赫兹研究中心绵阳621900

综述了太赫兹QCL(THz QCL)有源区结构设计与制备、波导结构设计和频率控制3方面的基本原理及研究进展。THz QCL有源区薄膜厚度、组分和掺杂浓度的精确控制是材料制备过程的关键。通过提高注入电流和器件温度的稳定性可以有效减小THz QC... 详细信息

综述了太赫兹QCL(THz QCL)有源区结构设计与制备、波导结构设计和频率控制3方面的基本原理及研究进展。THz QCL有源区薄膜厚度、组分和掺杂浓度的精确控制是材料制备过程的关键。通过提高注入电流和器件温度的稳定性可以有效减小THz QCL线宽和提高频率稳定性。随着器件功率和频率特性的提升,THz QCL将在通讯、成像和谱分析等技术领域获得广泛的应用。

关键词：太赫兹 QCL 有源区波导频率稳定性

表面解吸常压化学电离质谱法直接测定奶粉中三聚氰胺

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分析化学 2009年第5期37卷 691-694页

作者：杨水平胡斌李建强韩京张燮陈焕文刘清刘清珺郑建东华理工大学应用化学系北京市理化分析测试中心吉林大学化学学院

应用表面解吸常压化学电离(SDAPCI)质谱法,在无需样品预处理的情况下,直接测定了奶粉中三聚氰胺,并用串联质谱法对测定结果进行了鉴定。采用手动进样,单个样品测定时间少于0.5 min,回收率为86.7%～112.8%;相对标准偏差(RSD)为4.3%～10.... 详细信息

应用表面解吸常压化学电离(SDAPCI)质谱法,在无需样品预处理的情况下,直接测定了奶粉中三聚氰胺,并用串联质谱法对测定结果进行了鉴定。采用手动进样,单个样品测定时间少于0.5 min,回收率为86.7%～112.8%;相对标准偏差(RSD)为4.3%～10.3%;对奶粉中三聚氰胺的检出限为8.8μg/kg。方法适用于批量样品的快速半定量检测。

关键词：表面解吸常压化学电离源质谱三聚氰胺奶粉快速检测

复杂条件下地下水磁共振探测与灾害水源探查研究进展

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吉林大学学报（地球科学版） 2012年第5期42卷 1560-1570页

作者：林君蒋川东段清明王应吉秦胜伍林婷婷吉林大学仪器科学与电气工程学院/地球信息探测仪器教育部重点实验室长春130026

磁共振地下水探测是一种直接非侵害性探测地下水的地球物理新方法,与传统地球物理探测地下水方法相比,具有高分辨力、高效率、信息量丰富和解唯一等优点。近年来地下水磁共振探测技术发展迅速,不仅用于缺水地区的地下水勘查,还在地下灾... 详细信息

磁共振地下水探测是一种直接非侵害性探测地下水的地球物理新方法,与传统地球物理探测地下水方法相比,具有高分辨力、高效率、信息量丰富和解唯一等优点。近年来地下水磁共振探测技术发展迅速,不仅用于缺水地区的地下水勘查,还在地下灾害水源(由于地下水引起的灾害如堤坝渗漏、隧道/矿井水害、滑坡、海水入侵等)的探测预警中进行了探索性研究。综述了复杂条件下地下水磁共振探测技术的研究现状,包括强电磁干扰环境的自适应噪声压制、地下小水体的2D/3D磁共振探测、复杂条件的数据处理与反演、针对喀斯特地貌等地质环境的地下水磁共振与瞬变电磁联合探测研究成果,简要介绍了磁共振技术用于滑坡、海水入侵和隧道涌水等灾害水源探查的探索性研究示例,展望了地下水磁共振探测技术的未来发展趋势。

关键词：地下水磁共振测深复杂条件灾害水源探查研究现状发展趋势

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超低空状态下海面激光后向散射测量与仿真

光子学报 2016年第8期45卷 1-6页

作者：童广德王占山沈正祥王彪同济大学先进微结构材料教育部重点实验室上海200092 同济大学物理科学与工程学院精密光学工程技术研究所上海200092 电磁散射国家重点实验室上海200092

海面的激光散射特性是制约激光雷达对低空飞行器进行探测与识别的关键因素之一.模拟超低空状态,通过人工造渡池模拟不同海情的海面,采用激光散射测量装置在典型海情下近距离海面获取了激光后向散射数据;采用网格化分割海面,根据Pierson-... 详细信息

海面的激光散射特性是制约激光雷达对低空飞行器进行探测与识别的关键因素之一.模拟超低空状态,通过人工造渡池模拟不同海情的海面,采用激光散射测量装置在典型海情下近距离海面获取了激光后向散射数据;采用网格化分割海面,根据Pierson-Moscowitz谱构建了三维时变海面几何模型,利用Torrance-Sparrow模型模拟分析海面的近距离激光后向散射特性.测量和仿真数据表明:实测与仿真结果一致,海面的激光散射受海面几何波形调制;其强度随擦地角增大而增大;由于海面的随机起伏,海面散射极大值存在较大范围波动,并且波动随擦地角减小而增大.

关键词：超低空海面激光后向散射双向反射函数人工造波池测量与仿真

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kHz激光与固体靶相互作用产生的X射线源

物理学报 2013年第20期62卷 328-332页

作者：黄开闫文超李明华陶孟泽陈燕萍陈洁远晓辉赵家瑞马勇李大章高杰陈黎明张杰中国科学院物理研究所光物理重点实验室北京100190 上海交通大学激光等离子体教育部重点实验室上海200240 中国科学院高能物理研究所北京100049

利用kHz激光与固体靶相互作用产生了平均流强为1.3×107photons·sr 1·s 1的X射线源,研究了激光的对比度和能量对激光与固体靶相互作用产生的X射线能谱及Kα产额的影响,使用刀边成像技术测量了X射线源的源尺寸,并进行了初步的成像实验... 详细信息

利用kHz激光与固体靶相互作用产生了平均流强为1.3×107photons·sr 1·s 1的X射线源,研究了激光的对比度和能量对激光与固体靶相互作用产生的X射线能谱及Kα产额的影响,使用刀边成像技术测量了X射线源的源尺寸,并进行了初步的成像实验.实验中观察到对于非相对论级别的激光脉冲,降低激光的对比度有利于提高Kα产额,而使用高对比度高强度激光,更有利于获得高通量高信噪比X射线源.

关键词： kHz激光固体靶 X射线

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金属/分子/金属结的电子输运机理与表征

高等学校化学学报 2015年第1期36卷 9-23页

作者：杨扬刘俊扬晏润文吴德印田中群固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学化工学院化学系厦门361005

金属/分子/金属结是分子电子学中的基本单元.根据电子的相位是否发生改变,分子结中的电子输运可以分为相干输运和非相干输运两类.在实验上,分子结的表征方法可以分为电学性质表征和非电学性质表征两类.本文借助能级图,首先对分子结的电... 详细信息

金属/分子/金属结是分子电子学中的基本单元.根据电子的相位是否发生改变,分子结中的电子输运可以分为相干输运和非相干输运两类.在实验上,分子结的表征方法可以分为电学性质表征和非电学性质表征两类.本文借助能级图,首先对分子结的电子输运机理作了简明解释.在此基础上,结合文献报道和本课题组此前的工作,对分子结的一些常用电学表征方法,包括电流-电压特性曲线、电流-时间曲线、电导统计柱状图、转变电压谱、散粒噪声测试、非弹性电子隧道谱和热电效应法进行了介绍.

关键词：分子电子学金属/分子/金属结电子输运自组装单分子电导

两种荧光粉混合涂覆的白光LED的光谱方程的建立

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光谱学与光谱分析 2020年第3期40卷 799-803页

作者：许建文陈国庆吴亚敏马超群辜姣江南大学理学院江苏无锡214122 江苏省轻工光电工程技术研究中心江苏无锡214122

为了有效地模拟两种荧光粉混合涂覆的白光LED的发光光谱,选用了硅酸盐系列的绿色荧光粉与高显粉系列的红色荧光粉,应用英国Edinburgh FLS920P型荧光光谱仪,对绿色荧光粉与红色荧光粉进行荧光光谱的实验测量,得到绿色荧光粉发射峰在527 ... 详细信息

为了有效地模拟两种荧光粉混合涂覆的白光LED的发光光谱,选用了硅酸盐系列的绿色荧光粉与高显粉系列的红色荧光粉,应用英国Edinburgh FLS920P型荧光光谱仪,对绿色荧光粉与红色荧光粉进行荧光光谱的实验测量,得到绿色荧光粉发射峰在527 nm,红色荧光粉发射峰在641 nm。配置浓度为7%~17%,比例为3∶1~3∶2的样本,共144个,应用杭州远方色谱有限公司的HAAS-2000高精度光谱辐射计测量LED发光光谱,最后处理数据,得到拟合函数,在这些函数的基础上构建出了光谱方程,该光谱方程是模拟两种荧光粉的浓度和比例的系统方法。为了较为准确的预测出两种荧光粉混合后涂覆于蓝光芯片的发光光谱,对于实验中的数据进行了三维曲面拟合,得出荧光粉的浓度与比例和绿修正系数与红修正系数之间的函数关系式。将得出的绿修正系数和红修正系数的函数关系式应用到光谱方程中,得出最终模拟白光LED发光光谱的一种新方法。并且用了两组的模拟光谱图与实验的光谱图进行对比,发现两种光谱图的吻合效果都较为良好。说明这种模拟白光LED的新方法确实可行,且预测的两种荧光粉混合后涂覆于蓝光芯片的发光光谱较为准确。该方法将具体的荧光粉的质量比和浓度与LED的发光光谱图联系了起来,而之前的大多数研究都是将光谱功率分布与LED发光光谱图联系起来,并未涉及到荧光粉的质量比与浓度。在建立了具体的光谱方程之后,可以在没有实验仪器和不做实验的情况下,根据两种荧光粉的质量比,以及与AB胶混合后的浓度直接得出最终的模拟白光光谱,可以摆脱实验仪器以及其他因素的限制。并且为制备具有特定光谱特性的白光LED提供了新思路,具有一定的实用价值。

关键词：发光二极管荧光粉浓度比例光谱

非绝热近场光学诱导平滑硅表面微结构的电场模拟

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红外与激光工程 2014年第3期43卷 800-805页

作者：孙晓雁沈正祥童广德张锦龙王占山沈正祥童广德张锦龙王占山先进微结构材料教育部重点实验室上海200092 同济大学物理科学与工程学院精密光学工程技术研究所上海200092 上海无线电设备研究所电磁散射国家重点实验室上海200092

如何进一步降低超光滑光学元件表面缺陷是现代超精密光学元件制作技术研究的热点之一。在传统抛光方法的基础上,引入非绝热近场光学诱导平滑硅表面微结构这一新型方法,进一步去除超光滑抛光表面残留的纳米级表面微缺陷,降低表面粗糙度... 详细信息

如何进一步降低超光滑光学元件表面缺陷是现代超精密光学元件制作技术研究的热点之一。在传统抛光方法的基础上,引入非绝热近场光学诱导平滑硅表面微结构这一新型方法,进一步去除超光滑抛光表面残留的纳米级表面微缺陷,降低表面粗糙度。通过建立超光滑硅表面的微结构几何模型,采用时域有限差分法对表面微结构凸起在532 nm激光作用下的局域电场增强进行数值模拟。对比不同尺度的微结构所激发的最大电场强度表明,在基底峰谷值小于25.5 nm时,随微结构尺度递增,所激发的局域电场强度最大值约呈线性增长;随微结构倾斜率的逐渐递增,电场强度最大值也呈递增趋势。通过对激光诱导表面微结构调制电场的数值模拟,构建了硅表面微结构诱导平滑的物理图像,为描绘激光辐照下非绝热近场光学诱导平滑表面微结构的物理过程提供了有力的理论支持。

关键词：近场光学超光滑时域有限差分电场模拟光化学反应