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电话语音识别中通道补偿方法的性能比较

计算机科学 1999年第7期26卷 54-56页

作者：韩纪庆王承发高文哈尔滨工业大学计算机科学与工程系哈尔滨150001

1.引言语音信号在进入语音识别系统之前,通常受到一些诸如语音产生过程、记录过程以及传输过程中产生的通道畸变的影响。例如:麦克风依赖于其类型和位置的不同能明显地影响语音信号的频谱,电话线网络的频率特性也对语音信号产生了频谱... 详细信息

1.引言语音信号在进入语音识别系统之前,通常受到一些诸如语音产生过程、记录过程以及传输过程中产生的通道畸变的影响。例如:麦克风依赖于其类型和位置的不同能明显地影响语音信号的频谱,电话线网络的频率特性也对语音信号产生了频谱畸变的影响。这些由于传输通道而引入的频谱畸变将直接影响到语音信号的短时频谱分析结果,目前所有的语音识别系统中的参数计算,以及相似度测度都直接或间接地依赖于语音信号的短时频谱分析结果,

关键词：电话语音识别通道补偿语音信号

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超高频RFID系统信号损失与覆盖模型研究

哈尔滨工程大学学报 2008年第2期29卷 162-166页

作者：刘嵩岩綦志强苟鹏飞李瑞林哈尔滨工业大学微电子中心黑龙江哈尔滨150001

在高密度RFID读写器环境中,读写器间存在着同一信道内的频率冲突问题,这种频率冲突导致了标签不能被读写器正确地识别.根据无线电波的传输机制建立起RFID系统信号损失模型,并推导出多读写器能够同时工作的安全距离.根据该结论,提出"高... 详细信息

在高密度RFID读写器环境中,读写器间存在着同一信道内的频率冲突问题,这种频率冲突导致了标签不能被读写器正确地识别.根据无线电波的传输机制建立起RFID系统信号损失模型,并推导出多读写器能够同时工作的安全距离.根据该结论,提出"高处布置方向性天线读写器"的覆盖模型,通过设定RFID系统的各项参数计算出系统能够正常工作的各个参数,并分析证明该布局在一定程度上能够减少读写器的频率冲突,对实际应用如仓储、超市等具有较高的指导意义.

关键词：频率冲突无线电波传输信号损失模型覆盖模型

电镀Zn－Co合金钝化膜的X光电子能谱分析

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材料科学与工艺 1995年第4期3卷 86-90页

作者：安茂忠张景双李文良杨哲龙屠振密哈尔滨工业大学

Ｘ光电子能谱（ＸＰＳ）分析表明，电镀Ｚｎ－Ｃｏ合金钝化膜与电镀锌钝化膜一样，均由ＣｒＯ_３、Ｃｒ_２Ｏ_３、Ｚｎ（ＯＨ）_２、ＺｎＯ及Ｈ_２Ｏ等组成，但Ｚｎ－Ｃｏ合金钝化膜中高价铬含量较高，且在钝化膜的较深层处有原子态钴... 详细信息

Ｘ光电子能谱（ＸＰＳ）分析表明，电镀Ｚｎ－Ｃｏ合金钝化膜与电镀锌钝化膜一样，均由ＣｒＯ_３、Ｃｒ_２Ｏ_３、Ｚｎ（ＯＨ）_２、ＺｎＯ及Ｈ_２Ｏ等组成，但Ｚｎ－Ｃｏ合金钝化膜中高价铬含量较高，且在钝化膜的较深层处有原子态钴存在，这是该合金钝化膜具有高耐蚀性的主要原因。

关键词：电镀钝化 XPS分析锌合金镀层

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矩形介质内辐射换热的有限元法

计算物理 2004年第6期21卷 547-550页

作者：齐宏阮立明谭建宇哈尔滨工业大学能源科学与工程学院黑龙江哈尔滨150001

　利用有限单元法离散求解辐射传递方程和能量控制方程.分别计算了边界为黑体和灰体条件下矩形吸收、发射、各向同性散射介质内的平均入射强度和温度分布,并同蒙特卡罗法(M C法)计算结果进行了比较.

关键词：矩形求解平均离散各向同性介质蒙特卡罗法方程计算结果条件

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稀土对铝硅共晶熔体的物性及凝固组织的影响

材料科学与工艺 1995年第1期3卷 84-88页

作者：李培杰贾均李庆春哈尔滨工业大学

通过测量不同含Ｃｅ、Ｌａ量的Ａｌ－Ｓｉ共晶合金熔体的密度、粘度和电阻率，考察了熔体的物性变化与凝固组织之间的相互关系。结果表明，物性变化的转折点与共晶Ｓｉ形貌的改变具有对应的关系。

关键词：熔体物性铝硅合金稀土金属凝固组织

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液压流体粘温关系研究

润滑与密封 1998年第5期23卷 35-37页

作者：姜继海季天晶李运张冬泉哈尔滨工业大学 150001 北方工业大学

本文以实验所测得的粘温离散值数据为基础,分析和比较了几种常用粘温关系式的精度,并采用数值分析工具,构造了各种粘温关系式,为变粘度流体流动特性研究提供了可靠方法和手段。

关键词：液压油粘度粘温关系粘温方程

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基于计量学的线边缘粗糙度定义

机械工程学报 2007年第1期43卷 214-218页

作者：赵学增李洪波褚巍肖增文李宁哈尔滨工业大学机电工程学院哈尔滨150001

对目前线边缘粗糙度(Line edge roughness,LER)的研究进行了分类,区分线宽变化率、线的边缘粗糙度和侧墙(边缘)粗糙度的物理本质。重新给出一个LER定义,定义LER是由加工工艺和材料本身结构引起的刻线侧墙的表面形貌微观不规则程度,并分... 详细信息

对目前线边缘粗糙度(Line edge roughness,LER)的研究进行了分类,区分线宽变化率、线的边缘粗糙度和侧墙(边缘)粗糙度的物理本质。重新给出一个LER定义,定义LER是由加工工艺和材料本身结构引起的刻线侧墙的表面形貌微观不规则程度,并分析给出定义的合理性。给出该定义和ITRS定义间的换算关系。结合刻线的加工过程主要发生在刻线的边缘表面,且该加工过程发生于深纳米尺度,给出一种基于原子尺度的LER计量模型,在该模型中分离了材料本质粗糙度。

关键词：纳米计量临界尺寸线边缘粗糙度材料本质粗糙度扫描电子显微镜(SEM) 原子力显微镜(AFM)

使用原子力显微镜测量刻线边缘粗糙度的影响因素

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光学精密工程 2009年第4期17卷 839-848页

作者：赵学增李宁周法权李洪波哈尔滨工业大学机械电子工程学院黑龙江哈尔滨150001

为了满足微电子制造技术中不断提高的刻线边缘粗糙度测量与控制精度的要求,对使用原子力显微镜(AFM)测量刻线边缘粗糙度的影响因素进行了研究。基于图像处理技术从单晶硅刻线样本的AFM测量图像中提取出线边缘粗糙度,并确定出其量化表征... 详细信息

为了满足微电子制造技术中不断提高的刻线边缘粗糙度测量与控制精度的要求,对使用原子力显微镜(AFM)测量刻线边缘粗糙度的影响因素进行了研究。基于图像处理技术从单晶硅刻线样本的AFM测量图像中提取出线边缘粗糙度,并确定出其量化表征的参数。然后,根据线边缘粗糙度测量与表征的特点,对各种影响因素,包括探针针尖尺寸与形状的非理想性、AFM扫描图像的噪声、扫描采样间隔、压电晶体驱动精度、悬臂梁振动以及线边缘检测算法中的自由参数等进行了理论和实验分析,并分别提出了抑制及修正的方法。研究表明,在分析各种可能导致测量误差的影响因素的基础上,消除或减小其影响,可以提高刻线边缘粗糙度测量的准确度,为实现纳米尺度刻线形貌测量的精度要求提供理论与方法上的支持。

关键词：纳米测量线边缘粗糙度原子力显微镜测量误差分析

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基于日地月方位信息的近地轨道卫星自主导航

宇航学报 2003年第4期24卷 418-420,428页

作者：荆武兴哈尔滨工业大学航天学院哈尔滨150001

研究了用日地月方位信息进行卫星自主导航的方法。给出一种最小二乘导航算法。用 Gorddard空间飞行中心发布的我国实践 5号卫星的轨道数据 ,在对地定向三轴稳定的姿态运行模式下 ,模拟出了日、地、月在卫星本体坐标系中的方位测量数据... 详细信息

研究了用日地月方位信息进行卫星自主导航的方法。给出一种最小二乘导航算法。用 Gorddard空间飞行中心发布的我国实践 5号卫星的轨道数据 ,在对地定向三轴稳定的姿态运行模式下 ,模拟出了日、地、月在卫星本体坐标系中的方位测量数据。数字仿真实验结果表明 ,在地球敏感器噪声 0 .10°( 3σ) ,日、月敏感器噪声 0 .0 3°( 3σ)情况下 ,一天之内的导航径向误差在 - 30 0 m～ 2 0 0 m波动 ,相对地心的方位误差不超过 0 .0 4

关键词：自主导航轨道确定最小二乘轨道动力学卫星自主生存