咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 2 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 2 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 1 篇 光学工程
    • 1 篇 仪器科学与技术
    • 1 篇 材料科学与工程(可...
    • 1 篇 电子科学与技术(可...
  • 1 篇 理学
    • 1 篇 物理学

主题

  • 1 篇 光致发光
  • 1 篇 应变像
  • 1 篇 半导体量子点
  • 1 篇 high-resolution ...
  • 1 篇 高分辨透射电子术...
  • 1 篇 定量高分辨透射电...
  • 1 篇 distortion analy...

机构

  • 1 篇 max-planck-inst....
  • 1 篇 max-planck-insti...

作者

  • 1 篇 y.rau n.y.jin-ph...
  • 1 篇 金能韫

语言

  • 1 篇 英文
  • 1 篇 中文
检索条件"作者=y.Rau, N.y.jin-Phillipp and F.PhillippMax-Planck-Institut fiir Metallforschung, Heisenbergstrasse 1, Stuttgart, D-70569, Germany "
2 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
Lattice distortion Analysis directly from High Resolution Transmission Electron Microscopy Images —the LAdIA Program Package
收藏 引用
Journal of Materials Science & Technology 2002年 第2期18卷 135-138页
作者: y.rau, n.y.jin-phillipp and f.phillippmax-planck-institut fiir metallforschung, heisenbergstrasse 1, stuttgart, d-70569, germany [ Manuscript received november 22, 2001] Max-planck-Inst. für Metall. Heisenbergstrasse 1 D-70569 Stuttgart Germany
direct strain mapping from high resolution transmission electron microscopy images is possible for coherent structures. At proper imaging conditions the intensity peaks in the image have a constant spatial relationshi... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
晶格畸变分析及其在半导体量子点结构中的应用(英文)
收藏 引用
电子显微学报 2006年 第3期25卷 190-199页
作者: 金能韫 Max-planck-institut fuer metallforschung D-70569 Stuttgart Germany
在适当的成像条件下可以直接从高分辨透射电子像(HRTEM)以接近原子级的分辨率进行晶格畸变分析。本综述介绍晶格畸变分析(LAdIA)程序包及其在半导体自组装量子点(Qd)系统中的应用。对多层InP小Qd系统中畸变分布的分析表明:光致发光(PL)... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论