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CCD/EMCCD光电参数测试系统的设计与应用
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中国光学（中英文） 2024年 第3期17卷 693-703页
作者： 沈吉 VIACHESLAV V.Zabudsky 常维静 那启跃 简云飞 OLEG V.Rikhalsky OLEKSANDR G.Golenkov volodymyr p.reva 华东光电集成器件研究所 江苏苏州215263 乌克兰科学院V.E.Lashkaryov半导体物理研究所 乌克兰基辅01001 乌克兰科学院Bogomoletz生理学研究所 乌克兰基辅01001
本文开发了一种用于测量CCD和EMCCD(电子倍增CCD)芯片光电参数的测试系统。该测试系统通过自动模式或手动模式间的切换,测量器件的暗电流、读出放大器的响应度、电荷转移效率、电荷容量和其他参数。该测试系统可以针对不同规格和结构的C... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 博看期刊 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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