咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 光学工程
    • 1 篇 仪器科学与技术
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 ccd
  • 1 篇 emccd
  • 1 篇 测试系统
  • 1 篇 光电参数

机构

  • 1 篇 乌克兰科学院v.e....
  • 1 篇 乌克兰科学院bogo...
  • 1 篇 华东光电集成器件...

作者

  • 1 篇 oleg v.rikhalsky
  • 1 篇 简云飞
  • 1 篇 常维静
  • 1 篇 沈吉
  • 1 篇 viacheslav v.zab...
  • 1 篇 oleksandr g.gole...
  • 1 篇 volodymyr p.reva
  • 1 篇 那启跃

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"作者=vIACHe.LAv v.Zabudsky"
1 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
CCD/EMCCD光电参数测试系统的设计与应用
收藏 引用
中国光学(中英文) 2024年 第3期17卷 693-703页
作者: 沈吉 viache.lav v.zabudsky 常维静 那启跃 简云飞 OLEG v.Rikhalsky OLEKSANDR G.Golenkov vOLODYMYR P.Reva 华东光电集成器件研究所 江苏苏州215263 乌克兰科学院v.E.Lashkaryov半导体物理研究所 乌克兰基辅01001 乌克兰科学院Bogomoletz生理学研究所 乌克兰基辅01001
本文开发了一种用于测量CCD和EMCCD(电子倍增CCD)芯片光电参数的测试系统。该测试系统通过自动模式或手动模式间的切换,测量器件的暗电流、读出放大器的响应度、电荷转移效率、电荷容量和其他参数。该测试系统可以针对不同规格和结构的C... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 博看期刊 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论