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检索条件"作者=tomoo Sigehuzi"
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Research Activities of Nanodimensional Standards Using Atomic Force Microscopes,Transmission Electron Microscope,and Scanning Electron Microscope at the National Metrology Institute of Japan
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Nanomanufacturing and Metrology 2022年 第2期5卷 83-90页
作者： Ichiko Misumi Ryosuke Kizu Hiroshi Itoh Kazuhiro Kumagai Keita Kobayashi tomoo sigehuzi National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST Tsukuba Central 51-1-1 HigashiIbaraki305-8565TsukubaJapan
With the progress in nanotechnology,the importance of nanodimensional standards is *** nanodimensional standards requires multiple types of high-precision microscopy *** National Metrology Institute of Japan(NMIJ),one... 详细信息
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