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Localized-states quantum confinement induced by roughness in CdMnTe/CdTe heterostructures grown on Si(111) substrates

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Journal of Semiconductors 2024年第9期45卷 28-35页

作者： Leonarde N.Rodrigues Wesley F.Inoch Marcos L.F.Gomes odilon d.d.couto jr. Bráulio S.Archanjo Sukarno O.Ferreira Physics department Federal University of ViçosaViçosa36570-900Minas GeraisBrazil Instituto de Física Gleb Wataghin Universidade Estadual de CampinasCampinas13083-859São PauloBrazil National Institute of Metrology Quality and Technology(Inmetro) Materials Metrology Division(DIMAT)Xerém2525-020Rio de JaneiroBrazil

This work shows that despite a lattice mismatch of almost 20%, CdMnTe/CdTe/CdMnTe heterostructures grown directly on Si(111) have surprisingly good optical emission properties. The investigated structures were grown by molecular beam epitaxy and characterized by scanning transmission electron microscopy, macro-and micro-photoluminescence. Low temperature macro-photoluminescence experiments indicate three emission bands which depend on the CdTe layer thickness and have different confinement characteristics. Temperature measurements reveal that the lower energy emission band (at 1.48 eV)is associated to defects and bound exciton states, while the main emission at 1.61 eV has a weak 2d character and the higher energy one at 1.71 eV has a well-defined (zero-dimensional, 0d) 0d nature. Micro-photoluminescence measurements show the existence of sharp and strongly circularly polarized (up to 40%) emission lines which can be related to the presence of Mn in the heterostructure. This result opens the possibility of producing photon sources with the typical spin control of the diluted magnetic semiconductors using the low-cost silicon technology.

关键词： CdMnTe/CdTe/CdMnTe heterostructure CdTe/CdMnTe quantum emitters quantum dot-like emission silicon(111)substrate

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Localized-states quantum confinement induced by roughness in CdMnTe/CdTe heterostructures grown on Si(111) substrates

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Journal of Semiconductors 2024年第9期 34-42页

作者： Leonarde do Nascimento Rodrigues Wesley Fiorio lnoch Marcos L.F.Gomes odilon d.d.couto jr. Bráulio S.Archanjo Sukarno Olavo Ferreira Physics department Federal University of Vi?osa Instituto de Física Gleb Wataghin Universidade Estadual de Campinas National Institute of Metrology Quality and Technology (Inmetro) Materials Metrology Division (DIMAT)

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