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Versatile domain mapping of scanning electron nanobeam diffraction datasets utilising variational autoencoders

npj Computational materials 2023年第1期9卷 2213-2230页

作者： A.Bridger W.I.F.David T.J.Wood m.danaie K.T.Butler Inorganic Chemistry Laboratory University of OxfordOxford OX13QRUK ISIS Neutron and muon Spallation Source STFC Rutherford Appleton LaboratoryOxfordshire OX110QXUK Electron Physical Science Imaging Centre Diamond Light Source Ltd.DidcotUK School of Engineering and materials Science Queen Mary University of LondonMile End RoadLondon E14NSUK

Characterisation of structure across the nanometre scale is key to bridging the gap between the local atomic environment and macro-scale and can be achieved by means of scanning electron nanobeam diffraction(SEND).As a technique,SEND allows for a broad range of samples,due to being relatively tolerant of specimen thickness with low electron ***,coupled with the capacity for automation of data collection over wide areas,allows for statistically representative probing of the *** paper outlines a versatile,data-driven approach for producing domain maps,and a statistical approach for assessing their *** workflow utilises a Variational AutoEncoder to identify the sources of variance in the diffraction signal,and this,in combination with clustering techniques,is used to produce domain *** approach is agnostic to domain crystallinity,requires no prior knowledge of crystal structure,and does not require simulation of a library of expected diffraction patterns.

关键词： mapping beam dosage

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