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检索条件"作者=johan Hektor"
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Integration of machine learning with phase field method to model the electromigration induced Cu_(6)Sn_(5) IMC growth at anode side Cu/Sn interface
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Journal of Materials Science & Technology 2020年 第24期59卷 203-219页
作者: Anil Kunwar Yuri Amorim Coutinho johan hektor Haitao Ma Nele Moelans Department of Materials Engineering KU LeuvenKasteelpark Arenberg 44LeuvenB-3001Belgium LUNARC-Centre for Scientific and Technical Computing at Lund University Lund UniversityP.O.Box 118SE-22100LundSweden Deutsches Elektronen-Synchrotron(DESY) Notkestrasse 85Hamburg22607Germany School of Materials Science and Engineering Dalian University of TechnologyDalian116024China
Currently,in the era of big data and 5G communication technology,electromigration has become a serious reliability issue for the miniaturized solder joints used in microelectronic *** the effective charge number(Z*)is... 详细信息
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