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检索条件"作者=hu Chun-guang hu Xiao-dong xu Lin-yan GUO Tong hu Xiao-tang"
30 条 记 录,以下是1-10 订阅
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3-D profile measurement for complex micro-structures
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Optoelectronics Letters 2005年 第3期1卷 205-208页
作者: hu chun-guang hu xiao-dong xu lin-yan guo tong hu xiao-tang State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments Tianjin University Tianjin 300072 China
Micro-structures 3-D profile measurement is an important measurement content for research on micro-machining and characterization of micro-dimension. In this paper,a new method involved 2-D structure template, which g... 详细信息
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复杂微结构三维形貌测量方法的研究
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光电子.激光 2006年 第1期17卷 98-101页
作者: 胡春光 胡晓东 徐临燕 郭彤 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
微结构三维形貌测量是研究微加工工艺和微尺寸特性的重要测试内容。本文提出一种基于相移显微干涉术、利用干涉图建立二维结构模板指导相位展开的新方法,它不仅适用于静态测量,而且能应用于在动态测量中,特别是微机电系统(MEMS)器件的... 详细信息
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3-D profile measurement for complex micro-structures
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Optoelectronics Letters 2005年 第3期 51-54页
作者: hu chun-guang~(**), hu xiao-dong, xu lin-yan, guo tong, and hu xiao-tangState Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments,Tianjin University,Tianjin 300072,China
Micro-structures 3-D profile measurement is an important measurement content for research on micro-machining and characterization of micro-dimension. In this paper,a new method involved 2-D structure template, which g... 详细信息
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利用微运动分析仪研究MEMS器件的运动特性
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光电子.激光 2006年 第4期17卷 386-391页
作者: 郭彤 胡春光 胡晓东 栗大超 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
介绍了一种计算机控制的微运动分析仪(MMA),用来研究微机电系统(MEMS)中可动部件的运动特性。它采用了2种光学无损测量方法:计算机微视觉方法用于面内运动测量;相移干涉方法用于离面运动测量。这个高度集成的系统包括了高性能成像系统... 详细信息
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微结构运动特性表征中的全场三维重建方法
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光电工程 2006年 第9期33卷 75-79页
作者: 郭彤 胡春光 胡晓东 栗大超 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
微机电系统(MEMS)测试的主要目的是为工程开发中的设计和模拟过程提供数据反馈,其中一个重要方面就是MEMS器件运动特性的高速可视化。基于计算机控制的频闪干涉测试系统,文中提出了一种时间轴和空间轴双向解包裹的干涉条纹分析方法,实现... 详细信息
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利用光切方法测量微结构的三维微运动
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光学技术 2005年 第4期31卷 568-571,574页
作者: 郭彤 胡春光 胡晓东 栗大超 金翠云 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
微结构动态特性的测试方法对研发可靠的、能市场化的微机电系统(MEMS)是必需的。开发出了一种测试系统,能使微结构的三维运动可视化。系统包括:利用光学显微镜来实现微结构的放大,并将图像投影到CCD摄像机上;利用光切方法来获取一系列图... 详细信息
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利用五帧相移算法进行纳米台阶高度的表征
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计量学报 2007年 第4期28卷 302-305页
作者: 郭彤 胡春光 陈津平 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
描述了一种用于纳米级台阶高度表征的相移显微干涉测量方法,它被广泛用于高精度的表面测量上。系统采用集成了高分辨力(0.7 nm)电容传感器的纳米定位器实现移相、健壮的Hariharan五帧相移算法,利用ISO5436-1:2000国际标准对纳米台阶高... 详细信息
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采用差分相位测量方法的MEMS运动表征系统
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光电子.激光 2007年 第11期18卷 1340-1343页
作者: 郭彤 胡春光 陈津平 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
介绍了一种基于计算机控制的频闪干涉测试系统,用于测量可动微机电系统(MEMS)器件的离面运动,实现了nm级分辨力。系统采用五步相移高精度干涉测量方法,通过选择器件上的固定点作为参考点,实现差分测量模式,有效消除了随机误差的影响,提... 详细信息
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时间相移显微干涉术用于微机电系统的尺寸表征
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纳米技术与精密工程 2008年 第1期6卷 44-49页
作者: 郭彤 胡春光 陈津平 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
提出了将时间相移显微干涉测量方法用于微结构和器件的几何特性检测上.该方法速度快、无损、非接触、易在晶片级进行,具有亚微米级的水平分辨力,垂直分辨力在纳米量级.测量系统采用Mirau显微干涉物镜,利用高性能压电陶瓷物镜纳米定位器... 详细信息
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MEMS动态测试中频闪同步控制系统
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天津大学学报(自然科学与工程技术版) 2005年 第1期38卷 47-51页
作者: 胡春光 胡晓东 金翠云 栗大超 郭彤 傅星 胡小唐 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072
频闪同步控制系统是微机电系统(MEMS)动态测试系统中的重要组成部分.为了满足MEMS发展对测试系统的需求,基于频闪成像技术,设计了一套频闪同步控制系统,用于采集高速运动的MEMS器件的清晰图像.系统采用虚拟仪器方式,通过软件控制波形发... 详细信息
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