检索结果-南通市图书馆

Fault Detection and Test r.sponse Compaction with Ar.ay of Two-Input Linear.Logic

Jour.al of Electr.cal Engineer.ng 2014年第1期2卷 1-11页

作者： Sunil r. Das Satyendr. N. Biswas alexander r. applegate Voicu Gr.za Mansour.H. Assaf School of Infor.ation Technology and Engineer.ng Faculty of Engineering University of Ottawa Ottawa ONKIN6N5 Canada Depar.ment of Computer.Science College of Arts and Sciences Troy University Montgomery AL 36103 USA Depar.ment of Computer.Science College of Arts and Sciences Troy University Montgomery AL 36103 USA School of Engineer.ng and Technology Kaziranga University Jorhat 785006 India Faculty of Science and Technology USP (University of the South Pacific) Suva 19128 Fiji

The design of space-efficient suppor. har.war. for.built-in self-testing is of gr.at significance in ver. lar.e scale integr.tion cir.uits and systems, par.icular.y in view of the par.digm shift in r.cent times fr.m system-on-boar. to system-on-chip technology. The subject paper.pr.poses a new appr.ach to designing aliasing-fr.e or.zer.-aliasing space compaction har.war. tar.eting specifically embedded cor.s-based system-on-chips for.single stuck-line faults extending well-known concept fr.m conventional switching theor., viz. that of compatibility r.lation as used in the minimization of incomplete sequential machines. For.a pair.of r.sponse outputs of the cir.uit under.test, the method intr.duces the notion of fault detection compatibility and conditional fault detection compatibility （conditional upon some other.r.sponse output pair.being simultaneously fault detection compatible） with r.spect to two-input XOr.XNOr.logic. The pr.cess is illustr.ted with design details of space compr.ssor. for.the Inter.ational Symposium on Cir.uits and Systems or.ISCAS 85 combinational and ISCAS 89 full-scan sequential benchmar. cir.uits using simulation pr.gr.ms ATALANTA and FSIM, attesting to the usefulness of the technique for.its r.lative simplicity, r.sultant low ar.a over.ead and full fault cover.ge for.single stuck-line faults, thus making it suitable in commer.ial design envir.nments.

关键词： Aliasing-fr.e space compaction built-in self-testing in ver. lar.e scale integr.tion cir.uits fault detection and conditionalfault detection compatibility system-on-chip.

来源：

维普期刊数据库评论

在线全文

维普期刊数据库

学校读者我要写书评

暂无评论

欢迎您,

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

欢迎您,

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：