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检索条件"作者=X.Dollat"
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Very-high-frequency probes for atomic force microscopy with silicon optomechanics
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Microsystems & Nanoengineering 2022年 第2期8卷 35-48页
作者: L.Schwab P.E.Allain N.Mauran x.dollat L.Mazenq D.Lagrange M.Gély S.Hentz G.Jourdan I.Favero B.Legrand Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systemes Universite de ToulouseCNRS UPR 800131031 ToulouseFrance Laboratoire Materiaux et Phenomenes Quantiques Universite de ParisCNRS UMR 716275013 ParisFrance Universite Grenoble Alpes CEALETIMinatec Campus38000 GrenobleFrance
Atomic force microscopy(AFM)has been consistently supporting nanosciences and nanotechnologies for over 30 years and is used in many fields from condensed matter physics to *** enables the measurement of very weak for... 详细信息
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