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检索条件"作者=Wim H.Van der Putten"
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Effects of plant-soil feedback on tree seedling growth under arid conditions
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Journal of Plant Ecology 2011年 第4期4卷 193-200页
作者: Seline S.Meijer Milena holmgren wim h.van der putten Resource Ecology Group Wageningen UniversityPO Box 476700 AA WageningenThe Netherlands University College Dublin Forestry Agriculture&Food Science CentreUniversity College DublinBelfieldDublin 4Ireland World Agroforestry Centre(ICRAF) PO Box 30798LilongweMalawi Department of Terrestrial Ecology Netherlands Institute of Ecology(NIOO-KNAW)PO Box 506708 PB WageningenThe Netherlands Laboratory of Nematology Wageningen UniversityPO Box 81236700 ES WageningenThe Netherlands
Plants are able to influence their growing environment by changing biotic and abiotic soil *** soil conditions in turn can influence plant growth conditions,which is called plant–soil ***–soil feedback is known to b... 详细信息
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Plant responses to variable timing of aboveground clipping and belowground herbivory depend on plant age
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Journal of Plant Ecology 2018年 第5期11卷 696-708页
作者: Minggang Wang T.Martijn Bezemer wim hvan der putten E.Pernilla Brinkman Arjen Biere Department of Terrestrial Ecology Netherlands Institute of Ecology(NIOO-KNAW)Droevendaalsesteeg 106708 PB WageningenThe Netherlands Institute of Biology Section Plant Ecology and PhytochemistryLeiden UniversityPO Box 95052300 RA LeidenThe Netherlands Laboratory of Nematology Wageningen UniversityP.O.Box 81326700 ES WageningenThe Netherlands
Aims Plants use different types of responses such as tolerance and induced defense to mitigate the effects of *** direc-tion and magnitude of both these plant responses can vary with plant ***,most studies have focuse... 详细信息
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Quantifying source-sink relationships in leaf-color modified rice genotypes during grain filling
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Journal of Integrative Agriculture 2024年 第9期23卷 2923-2940页
作者: Zhenxiang Zhou Paul CStruik Junfei Gu Peter E.L.van der putten Zhiqin Wang Jianchang Yang Xinyou Yin Centre for Crop Systems Analysis Department of Plant SciencesWageningen University&ResearchWageningen 6700 AKThe Netherlands College of Agriculture Yangzhou UniversityYangzhou 225009China
Leaf-color modification can affect canopy photosynthesis,with potential effects on rice yield and yield *** source-sink relationships through crop management is often used to improve crop *** study investigated whethe... 详细信息
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CT Output Dose Performance-Conventional Approach versus the Dose Equilibrium Method
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International Journal of Medical Physics, Clinical Engineering and Radiation Oncology 2018年 第1期7卷 15-26页
作者: Ahmad Albngali Andy Shearer Wil van der putten Brendan Tuohy Niall Colgan Department of Physics National University of Ireland Galway Ireland Department of Medical Physics and Clinical Engineering Galway University Hospitals Galway Ireland
Current output dose measurement in CT is based on (CTDI). The conventional methodology of CT dosimetric performance characterization is not appropriate to modern CT scanners with helical scanning modes, dose modulatio... 详细信息
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The opinion and experience of surgeons with laparoscopic bowel grasper haptics
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Journal of Biomedical Science and Engineering 2010年 第4期3卷 422-429页
作者: Eleonora P. Westebring-van der putten Margriet C. J. Berben Richard h. M. Goossens Jack J. Jakimowicz Jenny Dankelman 不详
Background: In order to develop new and better laparoscopic bowel instruments, which reduces patient risks, the opinions and experience that surgeons have with current laparoscopic bowel grasper haptics is important. ... 详细信息
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管理会计创造可持续价值
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新会计 2015年 第4期 36-37页
作者: wim van der Stede
“这场危机给会计师们帮了一个忙。过去经理们总是等待会计专家通知讨论绩效。而现在会计师们会收到来自公司上下的请求,请在一系列策略性问题上提供建议和支持。”这是2009年《欧洲CFO》杂志上的一句话。这同时适用于东西方吗?伦敦... 详细信息
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标准化:大规模部署的关键
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网络电信 2005年 第11期7卷 56-59页
作者: F.van der putten S.Ooghe
标准使DSL技术成为Triple-play(三重播放)部署的一个可信任的部分。
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“问诊”企业治理
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新理财(公司理财) 2010年 第2期 110-111页
作者: wim van der STEDE 罗睿杰
监审态度与经济周期的错位,常常导致业绩和风险管理失衡的局面。在大家都沉浸在成功的喜悦中时,企业应当考虑采取措施来平衡业绩审查循环,大胆地提出一些尖锐的问题,将是一个好的开始。
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绩效奖励的陷阱
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新理财(公司理财) 2009年 第2期 111-112页
作者: wim van der Stede 董左卉子
物质性奖励并非多多益善。实际上,绩效奖励的负效应与其使用强度相应成比例。
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Non-isoplanatic lens aberration correction in dark-field digital holographic microscopy for semiconductor metrology
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Light(Advanced Manufacturing) 2023年 第4期4卷 117-129页
作者: Tamar van Gardingen-Cromwijk Sander Konijnenberg wim Coene Manashee Adhikary Teus Tukker Stefan Witte Johannes F.de Boer Arie den Boef Department of Physics and Astronomy and LaserLaBVrije UniversiteitDe Boelelaan 10811081 HV AmsterdamThe Netherlands Advanced Research Center for Nanolithography(ARCNL) Science Park 1061098 XG AmsterdamThe Netherlands ASML Netherlands B.V. De Run 65015504 DRVeldhovenThe Netherlands Department Imaging Physics Delft University of TechnologyVan der Maasweg 92629 HZ DelftThe Netherlands
In the semiconductor industry,the demand for more precise and accurate overlay metrology tools has increased because of the continued shrinking of feature sizes in integrated *** achieve the required sub-nanometre pre... 详细信息
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