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X-Ray Diffraction Analysis of Thermally Evaporated Copper Tin Selenide Thin Films at Different Annealing Temperature
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材料科学与工程（中英文版） 2010年 第12期4卷 28-33页
作者： Mohd Amirul Syafiq Mohd Yunos Zainal Abidin Talib Wan Mahmood Mat Yunus Meor Yusoff MeorSulaiman Josephine Liew Ying Chyi wilfred sylvester paulus Physics Department Faculty of Science Universiti Putra Malaysia UPM Serdang 43400 Selangor Darul Ehsan Malaysia Industrial Technology Division Malaysian Nuclear Agency Bangi Kajang 43000 Selangor Darul Ehsan Malaysia
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