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  • 23 篇 期刊文献

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  • 23 篇 电子文献
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  • 22 篇 工学
    • 17 篇 电子科学与技术(可...
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    • 1 篇 信息与通信工程
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  • 1 篇 理学
    • 1 篇 物理学
  • 1 篇 农学
    • 1 篇 农业资源与环境
    • 1 篇 林学

主题

  • 4 篇 静电放电
  • 2 篇 高频板材
  • 2 篇 高增益
  • 2 篇 质子辐照
  • 2 篇 静电防护
  • 2 篇 tem小室
  • 2 篇 s参数
  • 1 篇 passive circuits
  • 1 篇 vivaldi天线
  • 1 篇 低损耗
  • 1 篇 微带传输线
  • 1 篇 相位测量
  • 1 篇 电磁兼容
  • 1 篇 实验研究
  • 1 篇 功率放大器
  • 1 篇 delays
  • 1 篇 reflection
  • 1 篇 prototypes
  • 1 篇 野生动物
  • 1 篇 对跖vivaldi天线

机构

  • 21 篇 南京信息工程大学
  • 5 篇 北京东方计量测试...
  • 2 篇 中国移动通信集团...
  • 2 篇 浙江华正新材料股...
  • 1 篇 四川草业科学研究...
  • 1 篇 北京卫星环境工程...
  • 1 篇 海南大学
  • 1 篇 德宏州野生动物收...
  • 1 篇 江苏北斗卫星导航...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 中国人民解放军陆...
  • 1 篇 aix-marseille un...
  • 1 篇 四川农业大学
  • 1 篇 气象灾害预报预警...
  • 1 篇 陆军工程大学
  • 1 篇 加拿大国立科学研...
  • 1 篇 中国科学院硅器件...
  • 1 篇 université clerm...
  • 1 篇 中国电子科技集团...
  • 1 篇 中国电子技术标准...

作者

  • 21 篇 万发雨
  • 4 篇 季启政
  • 4 篇 葛俊祥
  • 4 篇 陈军
  • 3 篇 周蓓
  • 3 篇 杨铭
  • 2 篇 范盼
  • 2 篇 任英杰
  • 2 篇 刘傲
  • 2 篇 刘峻
  • 2 篇 陈佳慧
  • 2 篇 傅凡
  • 2 篇 冯娜
  • 2 篇 王健
  • 2 篇 李彬鸿
  • 2 篇 杜宏宇
  • 2 篇 汪项伟
  • 2 篇 于兵
  • 1 篇 夏敏峰
  • 1 篇 吴慧芳

语言

  • 22 篇 中文
  • 1 篇 英文
检索条件"作者=WAn Fayu"
23 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
高压GGNMOS器件结构及工艺对ESD防护特性的影响
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固体电子学研究与进展 2024年 第2期44卷 178-182页
作者: 傅凡 万发雨 汪煜 洪根深 南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210000 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214072
基于高压CMOS工艺,对高压栅极接地N型金属氧化物半导体(Highvoltagegrounded-gate N-metal-oxide-semiconductor, HV-GGNMOS)的静电放电(Electrostatic discharge, ESD)防护性能进行研究。由于强折回特性以及失效电流低,HV-GGNMOS在实... 详细信息
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带电器件模型静电放电等效仿真电路与计算分析
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航天器环境工程 2024年 第4期41卷 468-475页
作者: 夏敏峰 张宇 高志良 冯娜 万发雨 南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210044 北京东方计量测试研究所 北京100094
带电器件模型(CDM)静电放电描述的是器件自身出现静电感应带电进而形成静电放电冲击的过程,是航天器电子产品地面电装/装联过程中面临的主要静电放电风险之一。针对CDM静电放电开展等效电路模型研究与设计,对其充/放电原理及发生过程进... 详细信息
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NGD Analysis of Defected Ground and SIW-Matched Structure
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Chinese Journal of Electronics 2023年 第2期32卷 343-352页
作者: GU Taochen wan fayu GE Junxiang Lalléchère Sébastien Rahajandraibe Wenceslas Ravelo Blaise Nanjing University of Information Science & Technology (NUIST) Université Clermont Auvergne (UCA) CNRS SIGMA Clermont Aix-Marseille University CNRS University of Toulon
A bandpass negative group delay(NGD)passive circuit based on defect ground structure(DGS)and substrate integrated waveguide(SIW)-matched is developed in the paper. The NGD DGS topology is originally built with notched... 详细信息
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基于人体起电实验外推超低电压研究
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电波科学学报 2022年 第1期37卷 33-39页
作者: 刘斌 万发雨 王健 季启政 杨铭 冯娜 南京信息工程大学 南京210044 北京东方计量测试研究所 北京100086
随着电子工业技术的飞速发展,电子产品静电放电(electrostatic discharge, ESD)敏感度电压已经低于人体模型(human body model,HBM)电压50 V,然而现有防静电工作区(electrostatic discharge protected area, EPA)配置要求标准只是针对于... 详细信息
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质子辐照对AlGaN/GaN HEMT亚阈值摆幅特性的影响
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半导体技术 2023年 第2期48卷 110-116页
作者: 刘峻 季启政 杨铭 万发雨 傅凡 南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210044 陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室 石家庄050003 北京东方计量测试研究所 北京100086
研究了具有不同栅漏间距的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的亚阈值摆幅特性在0.4 MeV质子辐照(质子总注量为2.16×10^(12)cm^(-2))后的变化规律。质子辐照前,各器件的亚阈值摆幅基本一致;质子辐照后,器件的亚阈值摆幅随着栅漏间距... 详细信息
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AlGaN/GaN HEMT质子辐射效应研究进展
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航天器环境工程 2022年 第4期39卷 436-445页
作者: 季启政 刘峻 杨铭 胡小锋 万发雨 刘尚合 中国人民解放军陆军工程大学电磁环境效应重点实验室 石家庄050003 北京卫星环境工程研究所 北京100094 南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210044 北京东方计量测试研究所 北京100086
氮化镓(GaN)基异质结材料以其宽禁带、耐高温、高击穿电压以及优异的抗辐射性能成为航天领域半导体材料的研究和应用热点。而基于GaN材料的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)因其制备过程带来的缺陷和损伤,性能将受到空间辐射的严峻挑... 详细信息
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基于谐振环法板材介电常数高精度测试研究
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电子测量与仪器学报 2022年 第11期36卷 42-49页
作者: 刘傲 陈佳慧 任英杰 杜宏宇 万发雨 周蓓 南京信息工程大学 南京210044 浙江华正新材料股份有限公司 杭州311100
介电常数是影响高频板材性能的重要参数,板材介电常数的准确性及空间分布均匀性都会对微波电路的性能产生重要影响。本文首先设计了增强型耦合环、屏蔽通孔和共面波导技术的谐振环电路,增强环对外界的抗干扰能力并使S21分布在-30~-20 dB... 详细信息
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空气放电重复性机理研究进展
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安全与电磁兼容 2023年 第5期 16-22,41页
作者: 魏继晨 万发雨 崔强 南京信息工程大学电子与信息工程学院 中国电子技术标准化研究院
随着电子科学技术的飞速发展,电子器件特征尺寸越来越小,静电放电(ESD)给电子器件、设备、系统带来的干扰和损坏问题日益严重。空气放电是静电放电的主要形式,影响空气放电过程的因素众多且复杂,导致空气放电的重复性较差。该文介绍了... 详细信息
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一种超宽带高增益对踵Vivaldi天线
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南京信息工程大学学报(自然科学版) 2021年 第4期13卷 461-466页
作者: 陈军 万发雨 中国移动通信集团江苏有限公司泰州分公司 泰州225300 南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210044
本文设计了一种带宽3.3~40 GHz的新型超宽带高增益对踵Vivaldi天线,该天线介质板两侧采用相同的辐射结构,由一个微带线和两条指数型槽线构成.在天线辐射方向添加一块梯形结构介质板,将天线正反两面的表面电流限制在天线辐射方向,既可以... 详细信息
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静电放电辐射场模拟及干扰预测
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高电压技术 2017年 第10期43卷 3396-3402页
作者: 汪项伟 万发雨 冯超超 范盼 南京信息工程大学 南京210044 江苏北斗卫星导航检测中心有限公司 南京210044
为了深入研究静电放电(ESD)过程及其辐射场情况,解决实验测量数据重复性差、近场辐射场特性难以观测等问题。通过电磁仿真与实验相结合的方法建立ESD模拟器3维电磁模型,验证分析对水平耦合板放电的辐射场特性和受试设备(EUT)的耦合电压... 详细信息
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