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The Third Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar

作者： Tetsuo Oikawa Seiichi Suzuki tadami taoka JEOL LTD .1418 NakagamiAkishimaTokyo 196Japan

*** Analytical electron microscopy for microcharacterization is now well known as a powerful technique in both basic and applied materials scinece.)There are,however,several limitations in analytical microscopy in lower voltage(100～200 kV)microscopes because of most notable multiple scattering of electrons in ***, essential advantages of higher voltage analtytical microscopy has been

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超高压电子显微镜在金属材料性能研究中的应用

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金属学报 1981年第3期 307-351页

作者：田岡忠美邹本三日本职业训练大学基础学科

一、前言目前,电子显微镜作为研究材料性能的一个有力手段,正在开辟它独立的应用领域。这是因为电镜是能对原子排列、晶体微观结构、各种晶体缺陷进行观察的唯一手段。并且,还因为它能分析出包含缺陷的微区成分;有时,也能分析其状态。... 详细信息

一、前言目前,电子显微镜作为研究材料性能的一个有力手段,正在开辟它独立的应用领域。这是因为电镜是能对原子排列、晶体微观结构、各种晶体缺陷进行观察的唯一手段。并且,还因为它能分析出包含缺陷的微区成分;有时,也能分析其状态。但是为了得到这样高分辨率的图象,使用目前100kV(或200kV)商品电镜时,允许观察

关键词：加速电压厚度衬度电镜电子显微镜原位观察晶体薄膜超高压电子显微镜性能研究金属材料

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