咨询与建议
  • 全部检索
  • 电子图书
  • 电子期刊
  • 纸本馆藏
  • 南通市公共图书馆
高级检索

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 理学
    • 1 篇 物理学
    • 1 篇 化学
    • 1 篇 地球物理学
    • 1 篇 地质学
  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程（可...
    • 1 篇 矿业工程

主题

  • 1 篇 computer
  • 1 篇 simulation
  • 1 篇 volume
  • 1 篇 semiconducting
  • 1 篇 point
  • 1 篇 silicon
  • 1 篇 defects
  • 1 篇 defect
  • 1 篇 nucleation

作者

  • 1 篇 sunao abe takahi...

语言

  • 1 篇 英文
检索条件"作者=Sunao Abe Takahiro Terada Yasutada Nakagawa Kazuhiko Kashima"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
详细 简洁
排序：
Determination of Ring-OSF Position in Czochralski Silicon Single Crystals by Numerical Analysis of Distribution of Grown-in Defects
收藏
分享
引用
Journal of Rare Earths 2006年 第Z1期24卷 213-216页
作者： sunao abe takahiro terada yasutada nakagawa kazuhiko kashima Silicon Company Toshiba Ceramics Co.Ltd. 6-861-5 Higashikou Seirou-machi Niigata 957-0197 Japan Corporate Manufacturing Engineering Center Toshiba Corp. 33 Shin-isogo Isogo-ku Yokohama Kanagawa 235-0017 Japan Corporate Manufacturing Engineering Center Toshiba Corp. 33 Shin-isogo Isogo-ku Yokohama Kanagawa 235-0017 Japan New Business Creation Division Toshiba Ceramics Co.Ltd. 1-6-3 Osaki Shinagawa-ku Tokyo 141-0032 Japan
A numerical analysis technique that incorporates Voronkov's model were examined and used to estimate the distribution of defects during crystal growth. By comparisons of the distribution of the density of LSTD and the... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页 <<  < 1 >  >>
回到顶部
执行限定条件