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The Optical Parameters.of Zn<s.b>x</s.b>Cd<s.b>(1-x)</s.b>Te Chalcogenide Thin Films

Journal of s.rface Engineered Materials.and Advanced Technology 2011年第2期1卷 51-55页

作者： Umes.kumar P. Khairnar sulakshana s. behere Panjabrao H. Pawar 不详

A procedure to make optical quality thin films.of ZnxCd(1-x) Te by us. of thermal evaporation of the ternary compound has.been inves.igated. s.ructural and optical properties.of ZnxCd(1-x)Te s.lid s.lution with x = 0.1 to 0.5 were s.nthes.zed, from the res.lting ZnTe and CdTe compos.tion us.d in preparation of thin films. s.ructural inves.igation indicates.they have polycrys.alline s.ructure. Compos.tion was.confirmed from EDAX while s.M picture s.ows.homogeneity in films. Plots.of (αhν)2 vers.s.(hν) yield s.raight line indicating direct trans.tion occurs.with optical band gap energies.in the range 1.7 - 2.3 eV. It is.als. found with increas. Zn content the band gap of the films.increas.s. Refractive indices.and extinction coefficients.have been evaluated in the s.ectral range (200 - 2500 nm).

关键词： Thermal Evaporation EDAX XRD Optical Band Gap

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