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Enhanced Ferroelectric Properties of Predominantly (100)-oriented Ca_(0.4)Sr_(0.6)Bi_4Ti_4O_(15) Thin Films on Pt/Ti/SiO_2/Si Substrates

引用

Journal of Materials Science & Technology 2010年第11期26卷 981-985页

作者： suhue fan quande che fengqing zhang ran yu wei hu College of Material Science and Engineering Shandong Jianzhu University Jinan 250101 China

Predominantly （100）-oriented Ca0.4Sr0.6Bi4Ti4O15 （C0.4S0.6BTi） thin films were prepared on Pt （111）/Ti/SiO2/Si substrates by a sol-gel method at annealing temperatures ranging from 650 to 850 ℃.The growth mode of the predominantly （100）-oriented C0.4S0.6 BTi thin films fabricated by the sequential layer annealing was discussed based on the structure evolution with the annealing *** remnant polarization and coercive field of the C0.4S0.6 BTi film annealed at 800 ℃ are 16.1 μC/cm 2 and 85 kV/cm,*** evident fatigue can be observed after 10 9 switching cycles.

关键词： Ca0.4Sr0.6Bi4Ti4O15 Ferroelectric film Orientation

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