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Test access to deeply embedded analog terminals within an A/MS SoC

Journal of Zhejiang University-Science A(Applied Physics & Engineering) 2007年第10期8卷 1543-1552页

作者： NIARAKI Asli Rahebeh mirzakuchaki sattar NAVABI Zainalabedin RENOVELL Michel College of Electrical and Computer Engineering Iran University of Science and Technology 16846-13114 Tehran Iran Electrical and Computer Engineering Department University of Tehran 14399 Tehran Iran Laboratoire d'informatique Robotique et Microeiectronique de Montpelier (LIRMM) 161 Rue Ada 34392 Montpellier Cedex 5 France

This paper presents a standard scalable and reconfigurable design for testability (SR DfT) in order to increase ac- cessibility to deeply embedded A/MS cores and to limit application of costly off-chip mixed-signal testers. SR DfT is an oscilla- tion-based wrapper compatible with digital embedded core-based SoC test methodologies. The impact of the optimized oscilla- tion-based wrapper design on MS SoC testing is evaluated in two directions: area and test time. Experimental results are presented for several SoCs from the ITC’02 test benchmarks with inclusion of eight analog filters.

关键词： Scalable design for testability (DIT) Reconfigurable architecture Embedded A/MS testing Modular testing Built-in self test (BIST)

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A Low Power and High Bandwidth Anti Aliasing Filter with Transconductance Structure for DAB Receivers

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通讯和计算机（中英文版） 2011年第5期8卷 373-380页

作者： Mohammad Mehdi Farhad sattar mirzakuchaki Engineering-Department of Electronic Islamic Azad University Saveh branch Saveh 39197-15179 lran Electrical Engineering Department Electronic Research Center Iran University of Science ＆ Technology Tehran 16846 Iran

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