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Position-resolved Surface Characterization and Nanofabrication Using an Optical Microscope Combined with a Nanopipette/Quartz Tuning Fork Atomic Force Microscope
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Nano-Micro Letters 2014年 第1期6卷 70-79页
作者： Sangmin An Baekman Sung Haneol Noh Corey Stambaugh Soyoung Kwon Kunyoung Lee Bongsu kim qhwan kim Wonho Jhe Center for Nano-Liquid Department of Physics and AstronomySeoul National University National Institute of Standards and Technology
In this work, we introduce position-resolved surface characterization and nanofabrication using an optical microscope(OM) combined with a nanopipette-based quartz tuning fork atomic force microscope(nanopipette/QTF-AF... 详细信息
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