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一种在电子扫描显微镜下测量微应变的新型拉伸试验机

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中国检验检测 1990年第6期 35-36页

作者： A schenk 徐励

1.前言在固体材料的发展和生产中,材料的力学性能试验是非常重要的。目前,许多试验方法已经得到完善,其中最超遍的一种试验是拉伸试验,就是试件受拉伸力产生变形,并测得该力与变形。这种试验只向我们提供了材料的"宏观"力学性能,但对于... 详细信息

1.前言在固体材料的发展和生产中,材料的力学性能试验是非常重要的。目前,许多试验方法已经得到完善,其中最超遍的一种试验是拉伸试验,就是试件受拉伸力产生变形,并测得该力与变形。这种试验只向我们提供了材料的"宏观"力学性能,但对于更深入地研究,我们还要了解材料的微观行为。电子扫描显微镜(SEM)是达到这个目的最有力的工具。SEM

关键词：拉伸试验电子扫描显微镜 SEM 抗拉试验材料试验微应变真空室低压室

一种在电子扫描显微镜下测量微应变的新型拉伸试验机

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国外计量 1990年第6期 35-36页

作者： schenk,A 徐励

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物流仓储——为内部物流树立新标准

现代包装 2013年第6期 64-65页

作者： CHRISTOPH schenk

ES3、LLC和SSI Schafer公司一起与食品批发商C＆S Wholesale Grocers公司合作，对其在约克（美国宾西法尼亚州）的分销中心实现了进一步的自动化。ES3选用了SSI Schafer公司的箱式拣选系统Case／Picking System，该系统把高效率和通用... 详细信息

ES3、LLC和SSI Schafer公司一起与食品批发商C＆S Wholesale Grocers公司合作，对其在约克（美国宾西法尼亚州）的分销中心实现了进一步的自动化。ES3选用了SSI Schafer公司的箱式拣选系统Case／Picking System，该系统把高效率和通用的物流自动化结合在了一起。

关键词：物流仓储物流自动化标准 Case SSI LLC 批发商系统

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电机智能化

现代制造 2007年第23期 30-31页

作者： Wolfgang schenk

关键词：同步伺服电机智能化机电设备驱动装置变频器逆变器开关柜

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为内部物流树立新标准

现代制造 2013年第13期 34-35页

作者： CHRISTOPH schenk

ES3、LLC和SSI Schafer公司一起与食品批发商C＆S Wholesale Grocers公司合作，对其在约克（美国宾西法尼亚州）的分销中心实现了进一步的自动化。

关键词：标准物流 SSI LLC 批发商自动化

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驱动与CNC合作成就高精密加工

机电产品市场 2007年第12期 58-59页

作者： Leopold schenk

如果要进行精密切削,那么机床、驱动和控制装置就必须能够密切合作。为了最终得到一个精确到微米的结果,每个元素都要求具有最佳效率和精确性。

关键词：精密加工合作驱动 CNC 精密切削控制装置最佳效率精确性

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捷克和斯洛伐克的地震危险性

防灾减灾工程学报 1995年第S1期 42-43页

作者： Vladimír schenk

1 地震危险性评定历史从1973年捷克斯洛伐克的建筑规范(?)SN73007 b就可看出地震危险性评定的初端。1978年为核电站选址,进行了地震危险性研究。通过结合Cornell的SERIAL程序算法的统计方法而提出的抗震设计计算中应用了这些地震危险性... 详细信息

1 地震危险性评定历史从1973年捷克斯洛伐克的建筑规范(?)SN73007 b就可看出地震危险性评定的初端。1978年为核电站选址,进行了地震危险性研究。通过结合Cornell的SERIAL程序算法的统计方法而提出的抗震设计计算中应用了这些地震危险性评定。SERIAL程序可考虑现有的地震资料、场地条件和局部衰减特征(schenk et al..1981,schenkouáet al..1981)。EQRISK程序用于在一给定区域,地震危险值的初步评定(McGuire,1976)。提出了一种新的确定最大预期强震效应的方法(Schonk,1984;schenk and Mcmtlik1985),编制了修正的捷克斯洛伐克地震区划图(Kárnik,et al.,1988)。

关键词：地震危险性核电站统计方法核电厂发电厂地震构造大地构造斯洛伐克地震活动区捷克

蓝光光盘(Blu-ray Disc)的真实缺陷尺寸检测

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记录媒体技术 2006年第Z2期 29-30页

作者： schenk GmbH 顾颖

This unique optical design,integrated in the inline scanner ***+,is the only known solution that enables correct and real defect size evaluation for yield *** addition,even the slightest de? ecting irregularities on the complete disc can be detected,which otherwise could lead to focus and tracking *** is achieved by using two individual optical setups:a special near dark-fi eld channel and a separate 0° contrast channel.

关键词：蓝光光盘尺寸检测 Blu-ray Disc 缺陷图像光学装置检测仪光学头线扫描高分辨率图

Coulomb-actuated microbeams revisited: experimental and numerical modal decomposition of the saddle-node bifurcation

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Microsystems & Nanoengineering 2021年第3期7卷 111-123页

作者： Anton Melnikov Hermann A.G.schenk Jorge M.Monsalve Franziska Wall Michael Stolz Andreas Mrosk Sergiu Langa Bert Kaiser Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems IPMS Dresden 01109Germany Arioso Systems GmbH Dresden 01109Germany Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg Cottbus 03046Germany

Electrostatic micromechanical actuators have numerous applicati ons in scie nee and *** many applications,they are operated in a narrow frequency range close to resonanee and at a drive voltage of low ***,new applications,such as microelectromechanical systems(MEMS)microspeakers(μSpeakers),have emerged that require operation over a wide frequency and dynamic *** the dynamic performance under such circumstances is still highly ***-of-the-art finite element analysis struggles with pull-in instability and does not deliver the necessary in formation about un stable equilibrium states *** lumped-parameter models amenable to direct physical interpretation are *** inhibits the in dispensable in-depth analysis of the dynamic stability of such *** this paper,we take a major step towards mending the *** combining the finite element method(FEM)with an arc-length solver,we obtain the full bifurcation diagram for electrostatic actuators based on prismatic Euler-Bernoulli beams.A subsequent modal analysis then shows that within very narrow error margins,it is exclusively the lowest Euler-Bernoulli eigenmode that dominates the beam physics over the entire relevant drive voltage *** experiment directly recording the deflection profile of a MEMS microbeam is performed and confirms the numerical findings with astonishing *** enables modeling the system using a single spatial degree of freedom.

关键词： bifurcation modal narrow