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ECT Image Analysis Methods for Shear Zone Measurements during Silo Discharging Process

Chinese Journal of Chemical Engineering 2012年第2期20卷 337-345页

作者： krzysztof grudzien Zbigniew Chaniecki Andrzej Romanowski Maciej Niedostatkiewicz Dominik Sankowski Computer Engineering Department Technical University of LodzStefanowskiego 18/22 str90-924 LodzPoland Department of Fundamentals of Building and Material Engineering Gdansk University of TechnologyGdanskPoland

The paper covers the electrical capacitance tomography(ECT) data analysis on shear zones formed during silo discharging *** is due to the ECT aptitude for detection of slight changes of material *** the basis of ECT visualisations,wall-adjacent shear zone profiles are analysed for different wall roughness *** analysis on changes of material concentration,based on ECT images,enables the calculation for the characteristic parameters of shear zones-size and material concentration inside the shear zone in a dynamic process of silo *** order to verify the methodology a series of experiments on gravitational flow of bulk solids under various conditions were conducted with different initial granular material packing densities and silo wall *** investigation shows that the increase in container wall roughness is an effective method for reducing the dynamic effects during the material discharging,since these effects are resulted from the resonance between hopper construction and trembling *** effects will damage industrial equipment in practical applications and need further investigation.

关键词： electrical capacitance tomography silo flow shear zone

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AMBIENT TEMPERATURE MERCURY ZINC TELLURIDE PHOTODETECTORS CAN ACHIEVE DETECTIVITY HIGHER THAN 1*108 cmHz1/2W-1 AT 10.6μm

AMBIENT TEMPERATURE MERCURY ZINC TELLURIDE PHOTODETECTORS CA...

引用

International Conference on Millimeter Wave and far-Infrared Technology

作者： Jozef Piotrowski Microslaw grudzien Institute of Plasma Physics and Laser Hicrofusion P. O. Box 49 00-908 Warsaw 49 Poland Vigo Ltd. P. O. Box 45 00-908 Warsaw 49 Poland

＜正＞ Ambient temperature 10.6μm HgZnTe photoconductors are reported. The calculations show that the figure of merit of this material for ambient temperature long-wavelength photoconductors is higher compared to the...

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10.6微米非冷却CdHgTe光磁电红外探测器的性能

引用

红外技术 1982年第1期 21-26页

作者： D.Genzow ,M.grudzien ,J.Piotrowski ,王玉琴

应用光磁电效应的一般理论,分析了CdHgTe PEM远红外探测器的参数。确定了标准响应率Rv,探测率D*和响应时间常数τ;它们与探测器的几何形状及样品表面和体内的复合速度有关。300K工作的CdHgTe样品,当波长>8μm时,吸收是弱的,并且αL<1。... 详细信息

应用光磁电效应的一般理论,分析了CdHgTe PEM远红外探测器的参数。确定了标准响应率Rv,探测率D*和响应时间常数τ;它们与探测器的几何形状及样品表面和体内的复合速度有关。300K工作的CdHgTe样品,当波长>8μm时,吸收是弱的,并且αL<1。α为吸收系数,而L为非平衡载流子的扩散长度。在此情况下,为得到好的性能,要求探测器的正反两面表面复合速度不相同。对于典型的探测器性能参数获得了定量研究结果。

关键词：探测器性能参数厚度几何形状 CdHgTe 响应率

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