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检索条件"作者=KAGESHIMA M"
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应用非接触AFm鉴别表面下的原子种类(英文)
应用非接触AFM鉴别表面下的原子种类(英文)
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第三届中日原子级别表征学术研讨会
作者: 菅原康弘 KAWASAKI K 李艳君 NAITOH Y kageshima m 大阪大学应用物理系 大阪大学应用物理系 大阪大学应用物理系 大阪大学应用物理系 大阪大学应用物理系
<正>The noncontact atomic force microscope(NC- AFm)using frequency modulation(Fm)technique can resolve the atomic features of the various surfaces. Recently,we found that the NC-AFm has a capability to identify ...
来源: cnki会议 评论
应用非接触AFm鉴别表面下的原子种类
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现代科学仪器 2006年 第Z1期23卷 18-19页
作者: 菅原康弘 KAWASAKI K 李艳君 NAITOH Y kageshima m 大阪大学 应用物理系日本
  The noncontact atomic force microscope(NCAFm)using frequency modulation(Fm)technique can resolve the atomic features of the various ***,we found that the NC-AFm has a capability to identify or recognize atom speci... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
5K下针尖导致Si(001)表面结构变化的NC-AFm观察
收藏 引用
现代科学仪器 2006年 第Z1期23卷 40-41页
作者: 李艳君 NOmURA H OZAKI N NAITOH Y kageshima m SUGAWARA Y 大阪大学 应用物理系日本
  The Si(001)surface has attracted much attention because of its practical importance in most LSI devices t11at are fabricated on this ***,recent STm studies performed at low temperatures(LT)questioned whether the c... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
Growth and low-energy electron microscopy characteri- zation of monolayer hexagonal boron nitride on epitaxial cobalt
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Nano Research 2013年 第5期6卷 335-347页
作者: Carlo m. Orofeo Satoru Suzuki Hiroyuki kageshima Hiroki Hibino NTT Basic Research Laboratories NTT Corporation A tsugi Kanagawa 243-0198 Japan
低精力的电子显微镜学(LEEm ) 习惯于原子地薄的六角形的硼氮化物(h-BN ) 的层的结构,起始的生长取向,生长前进,和数字拍摄的学习。h-BN 电影在低压力用化学蒸汽免职(CVD ) 在 heteroepitaxial 公司上被种。我们从 LEEm 的调查结果... 详细信息
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