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Optical Nonlinearity in a Novel Optical Signal Regeneration System Based on Cross-Gain Modulation Using Cascaded Semiconductor Optical Amplifiers

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光学学报 2003年第S1期23卷 544-545页

作者： Hidekazu Takeda hiroyuki uenohara Microsystem Research Center P&I Lab. Tokyo Tech. 4259 Nagatsuta Midori-ku Yokohama 226-8503 JapanMicrosystem Research Center P&I Lab. Tokyo Tech. 4259 Nagatsuta Midori-ku Yokohama 226-8503 Japan

We propose a novel optical signal regeneration system based on wavelength converters by use of cross gain modulation in cascaded semiconductor optical amplifiers. The nonlinearity in optical input/output characteristi... 详细信息

关键词： into of In this SOA Optical Nonlinearity in a Novel Optical Signal Regeneration System Based on Cross-Gain Modulation Using Cascaded Semiconductor Optical Amplifiers dBm for on NRZ from

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Optical Packet Routing Performance of an Optical Packet Switch With an Optical Digital/Analog-Conversion-Type Header Processor (Wavelength Label Switch)

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光学学报 2003年第S1期23卷 701-702页

作者： hiroyuki uenohara Takeshi Seki Kohroh Kobayashi Microsystem Research Center P&I Laboratory Tokyo Institute of Technology 4259 Nagatsuta Midori-ku Yokohama -shi Kanagawa 226-8503 JapanMicrosystem Research Center P&I Laboratory Tokyo Institute of Technology 4259 Nagatsuta Midori-ku Yokohama -shi Kanagawa 226-8503 JapanMicrosystem Research Center P&I Laboratory Tokyo Institute of Technology 4259 Nagatsuta Midori-ku Yokohama -shi Kanagawa 226-8503 Japan

We demonstrate the routing operation of optical packets by an optical packet switch consisting of an optical digital-to-analog conversion-type header processor, a wavelength converter using an electrically-tunable laser, and an arrayed-waveguide grating router. A packet transfer by two-bit optical header was achieved for the first time.

关键词： SSG for SOA as DBR AWG Wavelength Label Switch Optical Packet Routing Performance of an Optical Packet Switch With an Optical Digital/Analog-Conversion-Type Header Processor of

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Ghost Imaging with Deep Learning for Position Mapping of Weakly Scattered Light Source

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Nanomanufacturing and Metrology 2021年第1期4卷 37-45页

作者： Yasuhiro Mizutani Shoma Kataoka Tsutomu uenohara Yasuhiro Takaya Department of Mechanical Engineering Osaka UniversityOsaka 565-0871Japan

We propose ghost imaging(GI)with deep learning to improve detection ***,which uses an illumination light with random patterns and a single-pixel detector,is correlation-based and thus suitable for detecting weak ***,its detection time is too long for practical *** overcome this problem,we applied a convolutional neural network that was constructed based on a classification of the causes of ghost image degradation.A feasibility experiment showed that when using a digital mirror device projector and a photodiode,the proposed method improved the quality of ghost images.

关键词： Inspection Metrology Defect mapping Ghost imaging Single-pixel imaging Deep learning Weak light imaging

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