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几何量微纳米级精密测量技术研究的若干新进展

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计量学报 2006年第Z1期27卷 1-5页

作者：叶孝佑高思田中国计量科学研究院北京100013 中国计量科学研究院北京100013

介绍了几何量测量领域中微纳米精密测量技术和装置的研究新成果,涉及到一维微纳米级长度和尺寸测量、二维微纳米级坐标测量、三维微坐标测量以及三维微观表面测量.详细介绍了微纳米技术研究中所应用的关键技术的特点、目前的测量水平和... 详细信息

介绍了几何量测量领域中微纳米精密测量技术和装置的研究新成果,涉及到一维微纳米级长度和尺寸测量、二维微纳米级坐标测量、三维微坐标测量以及三维微观表面测量.详细介绍了微纳米技术研究中所应用的关键技术的特点、目前的测量水平和能力,提供了最新技术的应用实例.并根据目前微纳米技术的发展状况,从科研和产业两个角度讨论了新型几何量计量仪器的发展和研究趋势.

关键词：计量学一维微纳米长度和尺寸测量二维微纳米坐标测量三维微坐标测量三维微观表面测量

基于X射线掠射法的纳米薄膜厚度计量与量值溯源研究

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物理学报 2014年第6期63卷 109-116页

作者：崔建军高思田精密测试技术及仪器国家重点实验室(天津大学) 天津300072 中国计量科学研究院北京100013

为了实现纳米薄膜厚度的高精度计量,研制了可供台阶仪、扫描探针显微镜等接触测量的纳米薄膜样片,研究了X射线掠射法测量该纳米薄膜样片厚度的基本原理和计算方法,导出了基于Kiessig厚度干涉条纹计算膜层厚度的线性拟合公式,并提出了一... 详细信息

为了实现纳米薄膜厚度的高精度计量,研制了可供台阶仪、扫描探针显微镜等接触测量的纳米薄膜样片,研究了X射线掠射法测量该纳米薄膜样片厚度的基本原理和计算方法,导出了基于Kiessig厚度干涉条纹计算膜层厚度的线性拟合公式,并提出了一种可溯源至单晶硅原子晶格间距和角度计量标准的纳米膜厚量值溯源方法,同时给出了相应的不确定度评定方法.实验证明:该纳米薄膜厚度H测量相对扩展不确定度达到U=0.3 nm+1.5%H,包含因子k=2.从而建立了一套纳米薄膜厚度计量方法和溯源体系.

关键词：纳米计量纳米薄膜厚度 X射线掠射厚度计量

Optimizing battery deployment: Aging trajectory prediction enabling homogenous performance grouping

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Journal of Energy Chemistry 2025年第1期100卷 565-577页

作者： Shuquan Wang Feng gao Zhan Ma Hao tian Yusen Zhang School of Control Science and Engineering Shandong University Key Lab of Power System Intelligent Dispatch and Control of Ministry of Education Shandong University

As battery deployments in electric vehicles and energy storage systems grow, ensuring homogeneous performance across units is crucial. We propose a multi-derivative imaging fusion(MDIF) model, employing advanced imaging and machine learning to predict battery aging trajectories from minimal initial data, thus facilitating effective performance grouping before deployment. Utilizing a derivative strategy and Gramian Angular Difference Field for dimensional enhancement, the MDIF model uncovers subtle predictive features from discharge curve data after only ten cycles. The architecture includes a parallel convolutional neural network with lateral connections to enhance feature integration and *** on a self-developed dataset, the model achieves an average root-mean-square error of 0.047 Ah and an average mean absolute percentage error of 1.60%, demonstrating high precision and *** robustness is further validated through transfer learning on two publicly available datasets, adapting with minimal retraining. This approach significantly reduces the testing cycles required, lowering both time and costs associated with battery testing. By enabling precise battery behavior predictions with limited data, the MDIF model optimizes battery utilization and deployment strategies, enhancing system efficiency and sustainability.

关键词： Lithium-ion battery Battery prognostics Fusion model Convolutional neural network Transfer learning

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单频纳米激光干涉仪非线性误差及其修正方法

计量学报 2006年第Z1期27卷 26-30页

作者：高宏堂高思田邵宏伟中国计量科学研究院北京100013 中国计量科学研究院北京100013 中国计量科学研究院北京100013

介绍了单频纳米激光干涉仪的非线性误差,分析了各种典型的单频激光干涉仪非线性误差修正方法,如Heydemann方法、频谱分析方法、基于干涉信号波峰和波谷的方法、基于神经网络的NN方法.在基于干涉信号波峰和波谷的方法的基础上,提出了一... 详细信息

介绍了单频纳米激光干涉仪的非线性误差,分析了各种典型的单频激光干涉仪非线性误差修正方法,如Heydemann方法、频谱分析方法、基于干涉信号波峰和波谷的方法、基于神经网络的NN方法.在基于干涉信号波峰和波谷的方法的基础上,提出了一种改良方法(P方法),试验结果表明,P方法具有运算简单、误差修正精度高和抗干扰性能较强等优点,可以在非计量环境下用该法对干涉仪的非线性误差进行修正,实用价值较大.

关键词：计量学单频激光干涉仪非线性误差误差修正纳米测量

Mainchain conformation ordering self-assembly tailored room temperature phosphorescence emission

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Science China Chemistry 2025年第1期68卷 329-336页

作者： Yuzhu Li Yumeng gao Feng tian Yu Wang Yuan Yao Shaoliang Lin Xiang Ma Binbin Xu Shanghai Key Laboratory of Advanced Polymeric Materials Key Laboratory for Ultrafine Materials of Ministry of Education School of Materials Science and Engineering East China University of Science and Technology Shanghai Synchrotron Radiation Facility Shanghai Advanced Research Institute Chinese Academy of Sciences Key Laboratory for Advance Materials and Feringa Noble Prize Scientist Joint Research Centre Frontiers Science for Materiobiology and Dynamic Chemistry School of Chemistry and Molecular Engineering East China University of Science & Technology

Developing organic room-temperature phosphorescence （RTP） materials with a wide range of tunable-emission is significant in expanding the applications of RTP ***,we rationally designed amphiphilic alternating copolymers poly(1,2-bis（4-alkoxyphenyl）ethane-1,2-dione-alt-（ethylene glycol）x)(P（Bz-alt-EGx）) that combined the advantage of alternating benzil and EGxskeleton,and tunable mainchain *** a mainchain conformation ordering assembly （COA） process,P（Bz-alt-EGx） self-assembled into well-defined platelets,and such assemblies emitted blue RTP at ca.425 nm due to the ordered folded-chain conformation and confined *** contrast,traditional self-assembly （TA） of P（Bz-alt-EGx） obtained less ordered aggregates,such as asymmetric worms,vesicles,and rod-like *** resultant less ordered aggregates exhibited yellow-green RTP at ca.550 *** wide-tuning RTP emission in solution （between blue and yellow-green,over125 nm） is realized using the P（Bz-alt-EGx） alternating copolymers under the treatment of different self-assembly *** study uncovers a new strategy to tailor the RTP emission through different self-assembly pathways and holds great promise for the fabrication of advanced optical materials.

关键词： self-assembly conformation ordering alternating copolymer phosphorescence emission

纳米光栅栅距的精确测量与nano4国际比对

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计量学报 2008年第B9期29卷 118-121页

作者：高思田邵宏伟王春艳中国计量科学研究院北京100013

对Littrow衍射方法测量纳米光栅的基本原理、构造及其安装误差进行了分析研究，并利用所建立的测量装置参加了国际计量技术委员会长度咨询委员会组织的一维纳米光栅国际比对。比对结果证明了该测量系统具有优良的计量性能，能够用于纳... 详细信息

对Littrow衍射方法测量纳米光栅的基本原理、构造及其安装误差进行了分析研究，并利用所建立的测量装置参加了国际计量技术委员会长度咨询委员会组织的一维纳米光栅国际比对。比对结果证明了该测量系统具有优良的计量性能，能够用于纳米光栅栅距的检定校准。

关键词：计量学纳米计量光栅 Littrow衍射方法

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纳米精度MEMS平面运动测量技术

天津大学学报 2008年第4期41卷 423-428页

作者：高思田陈治胡晓东傅星胡小唐天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072

为实现MEMS谐振器在周期运动过程中各个时刻的运动特性及其动态特性参数的纳米精度测量,提出了一种基于块匹配的最优根值亚像素运动估计测量方法.该方法在双线性插值细分技术基础上,将物体亚像素位移的定位转换为求解方程的最优根值的方... 详细信息

为实现MEMS谐振器在周期运动过程中各个时刻的运动特性及其动态特性参数的纳米精度测量,提出了一种基于块匹配的最优根值亚像素运动估计测量方法.该方法在双线性插值细分技术基础上,将物体亚像素位移的定位转换为求解方程的最优根值的方式,通过最小均方差法获得物体运动位移的纳米级分辨力测量结果.该算法避免了传统算法中由于迭代所引起的大量运算.利用该算法对MEMS器件的运动历程做分析,得到特定驱动频率下MEMS器件的幅度-相位曲线.实验结果表明,采用该方法得到的平面位移测量分辨力为5 nm.

关键词： MEMS谐振器动态特性块匹配亚像素

利用计量型原子力显微镜进行两维纳米格栅的测量

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计量学报 2006年第Z1期27卷 6-10页

作者：高思田杜华卢明臻崔建军中国计量科学研究院北京100013 中国计量科学研究院北京100013 清华大学北京100084 中国计量科学研究院北京100013

二维纳米格栅是纳米测量仪器的重要校准标准之一,也是国际计量局长度咨询委员会(BIPM/CCL)组织的五种纳米计量标准比对项目之一.计量院研制的计量型原子力显微镜在x,y,z三个方向固接有无阿贝误差布局的激光干涉仪,干涉仪的激光光源用碘... 详细信息

二维纳米格栅是纳米测量仪器的重要校准标准之一,也是国际计量局长度咨询委员会(BIPM/CCL)组织的五种纳米计量标准比对项目之一.计量院研制的计量型原子力显微镜在x,y,z三个方向固接有无阿贝误差布局的激光干涉仪,干涉仪的激光光源用碘稳频激光进行了校准,使得二维纳米格栅的测量结果可以直接溯源到米定义si单位.使用高斯滤波器对测量数据进行了预处理,并研究了重心法二维格栅间距与夹角的计算方法.最后根据不确定度分析导则给出了格栅测量的不确定度评定分析.

关键词：计量学纳米计量原子力显微镜两维格栅栅距测量不确定度

计量型原子力测头用于纳米台阶高度样板的测量

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计量学报 2008年第3期29卷 193-197页

作者：卢明臻高思田杜华崔建军清华大学精密仪器与机械学系北京100084 中国计量科学研究院北京100013

为"大范围纳米结构测量系统"研制的计量型原子力测头,采用光束偏转法检测探针悬臂偏转。原子力测头的布置在X、Y方向无阿贝误差。在50 mm×50 mm×2 mm的测量全程内,测头与样品的相对位移可以由激光干涉仪直接读数,因此可溯源到米定义... 详细信息

为"大范围纳米结构测量系统"研制的计量型原子力测头,采用光束偏转法检测探针悬臂偏转。原子力测头的布置在X、Y方向无阿贝误差。在50 mm×50 mm×2 mm的测量全程内,测头与样品的相对位移可以由激光干涉仪直接读数,因此可溯源到米定义国家基准。激光波长由Elden公式计算修正。使用德国物理技术研究院(PTB)提供的台阶高度样板一套,所得测量结果与PTB测量结果进行比对,结论为:测量系统的测量重复性不大于0.82 nm;比对系数En≤1,验证了测量结果是准确的,测量不确定度评定是合理、可信的。

关键词：计量学原子力显微镜台阶高度样板阿贝误差激光干涉仪溯源