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检索条件"作者=G. Trimmel"
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Characterization of org.nic thin films by atomic force microscopy based techniques
Characterization of organic thin films by atomic force micro...
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第18届国际真空大会
作者: A. Pavitschitz g. Hlawacek M. Kratzer A. Lex g. trimmel H.-g. Flesch T. Potocar T. g.iesser R. Resel A. Winkler W. Kern C. Teichert Institute of Physics University of Leoben Institute of Chemistry and Technolog. of Org.nic Materials Graz University of Technology Institute of Solid State Physics Graz University of Technology Institute of Chemistry of Polymeric Materials University of Leoben
This contribution will be dedicated to the mechanical and electrical characterization of org.nic thin films by friction force microscopy (FFM), conductive atomic force microscopy (C-AFM) and transverse shear micro... 详细信息
来源: cnki会议 评论