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Nonlinear properties of fractal growth of thin films at low temperature

Communications in Nonlinear science and Numerical Simulation 2001年第2期6卷 61-67页

作者： fengmin wu, jiefang zhang,{2., zhejiang university of technology, hangzhou 3.0014, China Institute of Nonlinear Physics, zhejiang Normal university, Jinhua 32.004, China Shao Yifu Hospital of zhejiang Provin research center of{2. Zhejiang University of Technology Hangzhou 310014 China Institute of Nonlinear Physics Zhejiang Normal University Jinhua 321004 China Shao Yifu Hospital of zhejiang Province Hangzhou 310005 China Department of Astronomy and Applied Physics University of Science and Technology of China Hefei 230026 China

Fractal growth of thin films at low temperature (75-2.0 K) is simulated by kinetic Monte Carlo method, using realistic growth model-Ag on Pt(111) surface and physical parameters. It is shown that the fractal growth of thin films is nonlinear, i. e., the island size S(t) grows with time t as tk ) where the growth exponent k is slightly less than 1 because of the growth competition of islands and the competition between nucleation and growth of islands. The further results indicate that the branch width of islands b increases with increasing island size S as b -Sa, where a is approximately equal to 1/3 because of the geometrical structure of the triangular substrate.

关键词： fractal growth thin film Monte Carlo method

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