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检索条件"作者=Donald K.Nichols ,william E.price ,Carl J.Malone ,刘英清"
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半导体器件的单核致翻转(SeU)——jPL试验数据一览
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微电子学 1984年 第6期 10-15页
作者： donald k.nichols ,william e.price ,carl j.malone ,刘英清
本文发表60种半导体器件单次核致翻转(位数改变)的试验数据一览表,并提供直至1982年五月的jPL试验的贮存元件数据。这些数据取自15次使用质子和重离子的加速器试验。
来源： 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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