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Spectroscopy and Microscopy Using Monochromated XPS
Spectroscopy and Microscopy Using Monochromated XPS
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2001年纳米和表面科学与技术全国会议
作者： M.Sander M.Merkel M.Escher J.Settemeyer d.funnemann A.Oelsner Ch.Ziethen O.Schmidt M.Klais G.Schnhense OMICRON GmbH D-65232 TaunussteinGermany FOCUS GmbH D-65510 Hunstetten-GorsrothGermany Johannes Gutenberg-Universitat D-55099 MainzGermany
Monochromated X-rays are widely used for the examination of the chemical states and composition of surfaces using photoelectron spectroscopy (XPS). In parallel to the rapid development towards nanotechnology, the requ...
来源： cnki会议 评论
Advances in Chemical Imaging: NanoSAM and NanoESCA
Advances in Chemical Imaging: NanoSAM and NanoESCA
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2003年纳米和表面科学与技术全国会议
作者： Lenz J. Westermann J. Schafer G. funnemann d. Omicron NanoTechnology GmbH Germany
Electron spectroscopy has been a proven tool for scientific applications for decades. Recently, new challenging applications are emerging from the fields of Semiconductor- and Nanotechnology. A key issue for these app...
来源： cnki会议 评论
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