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Adaptive-optical 3D microscopy for microfluidic multiphase flows

Light(Advanced Manufacturing) 2024年第3期5卷 105-119页

作者： clemens bilsing Erik Nützenadel Sebastian Burgmann Jürgen Czarske Lars Büttner Laboratory of Measurement and Sensor System Techniques TUD Dresden University of Technology01069 DresdenGermany Chair of Fluid Mechanics Bergische Universitát Wuppertal42119 WuppertalGermany BIOLAS Laboratory of Measurement and Sensor System Techniques01069 DresdenGermany

Measurements based on optical microscopy can be severely impaired if the access exhibits variations of the refractive *** the case of fluctuating liquid-gas boundaries,refraction introduces dynamical aberrations that increase the measurement *** is prevalent at multiphase flows(***,film flows)that occur in many technical applications as for example in coating and cleaning processes and the water management in fuel *** this paper,we present a novel approach based on adaptive optics for correcting the dynamical aberrations in real time and thus reducing the measurement *** shape of the fluctuating water-air interface is sampled with a reflecting light beam(Fresnel Guide Star)and a Hartmann-Shack sensor which makes it possible to correct its influence with a deformable mirror in a closed ***-dimensional flow measurements are achieved by using a double-helix point spread *** measure the flow inside a sessile,oscillating 50-μl droplet on an opaque gas diffusion layer for fuel cells and show that the temporally varying refraction at the droplet surface causes a systematic underestimation of the flow field magnitude corresponding to the first droplet eigenmode which plays a major role in their detachment *** demonstrate that the adaptive optics correction is able to reduce this systematic ***,the adaptive optics system can pave the way to a deeper understanding of water droplet formation and detachment which can help to improve the efficiency of fuels cells.

关键词： Double-Helix point spread function Adaptive optics Particle tracking velocimetry Aberration correction Depth-resolving microscopy Closed-loop control

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