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  • 1 篇 snake addressing...
  • 1 篇 sneak path test ...
  • 1 篇 功耗权重
  • 1 篇 老化试验
  • 1 篇 phase change mem...
  • 1 篇 fault model
  • 1 篇 march test algor...
  • 1 篇 转换故障

机构

  • 1 篇 key laboratory o...
  • 1 篇 北京大学
  • 1 篇 state key labora...

作者

  • 1 篇 zhitang song
  • 1 篇 yiqun wei
  • 1 篇 程作霖
  • 1 篇 崔小乐
  • 1 篇 xiaogang chen
  • 1 篇 李崇仁
  • 1 篇 xinnan lin
  • 1 篇 xiaole cui
  • 1 篇 chunglen lee
  • 1 篇 zuolin cheng
  • 1 篇 杨轩

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检索条件"作者=Chunglen LEE"
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A snake addressing scheme for phase change memory testing
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Science China(Information Sciences) 2016年 第10期59卷 222-232页
作者： Xiaole CUI Zuolin CHENG chunglen lee Xinnan LIN Yiqun WEI Xiaogang CHEN Zhitang SONG Key Laboratory of Integrated Microsystems Peking University Shenzhen Graduate School State Key Laboratory of Functional Materials for Informatics Shanghai Institute of Micro-System and Information Technology Chinese Academy of Sciences
Phase change memory(PCM) is one of the most promising candidates for next generation nonvolatile memory. However, PCM suffers from a variety of faults due to its special device structure and operation mechanism. A sna... 详细信息
来源： 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
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计算机辅助设计与图形学学报 2015年 第1期27卷 184-191页
作者： 崔小乐 杨轩 程作霖 李崇仁 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 深圳518055
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入... 详细信息
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