检索结果-南通市图书馆

Journal of Systems Engineering and Electronics 2015年第2期26卷 317-328页

作者： Aijun Zhu chuanpei xu Zhi Li Jun Wu Zhenbing Liu School of Mechano-Electronic Engineering Xidian University School of Electronic Engineering and Automation Guilin University of Electronic Technology Guangxi Key Laboratory of Automatic Detecting Technology and Instruments Guilin University of Aerospace Technology

A new meta-heuristic method is proposed to enhance current meta-heuristic methods for global optimization and test scheduling for three-dimensional （3D） stacked system-on-chip （SoC） by hybridizing grey wolf optimization with differential evo- lution （HGWO）. Because basic grey wolf optimization （GWO） is easy to fall into stagnation when it carries out the operation of at- tacking prey, and differential evolution （DE） is integrated into GWO to update the previous best position of grey wolf Alpha, Beta and Delta, in order to force GWO to jump out of the stagnation with DE＇s strong searching ability. The proposed algorithm can accele- rate the convergence speed of GWO and improve its performance. Twenty-three well-known benchmark functions and an NP hard problem of test scheduling for 3D SoC are employed to verify the performance of the proposed algorithm. Experimental results show the superior performance of the proposed algorithm for exploiting the optimum and it has advantages in terms of exploration.

关键词： meta-heuristic global optimization NP hard problem

基于量子粒子群算法的SOC测试调度优化研究

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仪器仪表学报 2011年第1期32卷 113-119页

作者：许川佩胡红波桂林电子科技大学电子工程学院桂林541004

在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化... 详细信息

在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化这一难题,本文采用群智能优化算法-量子粒子群(quantum-behaved partic le swarm optim ization,QPSO)算法来实现这一目标。结合QPSO算法和测试调度问题,设计算法的适应度计算法则并建立测试时间与测试功耗的协同优化数学模型。通过实验确定算法中参数的最佳取值。最后利用算法搜索最优解确定IP核在TAM(test access m echan ism)上的分配,实现SOC功耗与时间的协同优化。经过国际标准SOC电路验证表明在解决功耗约束下的SOC测试调度优化问题上量子粒子群算法与已有算法相比,不仅能够更好的达到缩短SOC测试时间的目的,而且算法收敛速度快,需要调整的参数少,实现简单。

关键词： SOC IP核测试调度量子粒子群算法

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带分复用的三维片上网络测试规划研究

仪器仪表学报 2015年第9期36卷 2120-2128页

作者：许川佩刘洋莫玮桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西自动检测技术与仪器重点实验室桂林541004

三维片上网络(3D No C)中IP核的测试问题日趋突出,测试规划是提高测试效率的有效方法。基于重用No C作为测试存取机制的并行测试方法,针对IP核测试数据传输带宽与TAM带宽不匹配的问题,提出带分复用方法,对有限带宽的TAM进行动态细分,将... 详细信息

三维片上网络(3D No C)中IP核的测试问题日趋突出,测试规划是提高测试效率的有效方法。基于重用No C作为测试存取机制的并行测试方法,针对IP核测试数据传输带宽与TAM带宽不匹配的问题,提出带分复用方法,对有限带宽的TAM进行动态细分,将多核的测试数据共享同一物理TAM实施并行传输,并结合3D No C结构设计二维编码,建立带宽分配和测试顺序模型,采用多种群遗传模拟退火算法,在总功耗、层功耗双重约束下对IP核的带宽分配和测试顺序进行双重优化,提高并行测试效率以获得最短测试时间。算法中针对测试顺序优化设计移位互换杂交策略,并运用精英配对方法加快种群寻优速度,设计求精操作进一步优化测试时间,通过比较、淘汰、替换机制加强种群间交流,增加种群多样性,避免算法陷入局部最优。以ITC'02标准电路作为测试对象,实验结果表明,该方法通过提高带宽利用率,提升了并行测试效率,降低了资源占用,有效地缩短了测试时间。

关键词：三维片上网络带分复用并行测试多种群遗传模拟退火算法双重优化

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基于量子进化算法的SoC测试结构优化

仪器仪表学报 2007年第10期28卷 1792-1799页

作者：许川佩王征李智桂林电子科技大学电子工程学院

本文针对SoC测试结构的特点,采用多进制的编码方式,建立改进的量子进化算法数学模型。通过选取合适的模型参数,以缩短测试时间为目标,完成对群体的观测,确定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现基于量子进化算法... 详细信息

本文针对SoC测试结构的特点,采用多进制的编码方式,建立改进的量子进化算法数学模型。通过选取合适的模型参数,以缩短测试时间为目标,完成对群体的观测,确定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现基于量子进化算法的片上系统芯片的测试结构优化。针对国际标准片上系统芯片验证表明,量子进化算法可应用于多扫描链IP核构成的包含多条TAM的SoC测试,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间。

关键词：量子进化算法测试结构 SoC

基于蚁群算法的数字微流控生物芯片在线测试路径优化

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仪器仪表学报 2014年第6期35卷 1417-1424页

作者：许川佩蔡震胡聪桂林电子科技大学电子工程与自动化学院桂林541004

由于数字微流控生物芯片的应用安全要求苛刻,为保证系统的可靠性,需要不断地对芯片进行全面和严格的测试。针对芯片的结构故障,提出一种基于蚁群算法的测试路径优化方案,实现对数字微流控芯片的在线测试,且能够兼容规则和非规则形状的... 详细信息

由于数字微流控生物芯片的应用安全要求苛刻,为保证系统的可靠性,需要不断地对芯片进行全面和严格的测试。针对芯片的结构故障,提出一种基于蚁群算法的测试路径优化方案,实现对数字微流控芯片的在线测试,且能够兼容规则和非规则形状的芯片。该方案先用Floyd算法将芯片阵列转化为起点与终点确定的动态TSP问题模型,在不影响实验液滴正常工作下,建立蚁群算法的选择策略、禁忌判断规则与信息素更新机制,实现测试路径的寻优遍历,完成芯片的在线测试研究。实验结果表明,该方案与欧拉回路法等测试方法相比较,能够有效减少芯片的在线测试时间,提高测试和工作效率。

关键词：数字微流控系统蚁群算法测试调度

基于粒子群算法的多约束3D NoC协同测试规划

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仪器仪表学报 2017年第3期38卷 765-772页

作者：许川佩李克梅桂林电子科技大学电子工程与自动化学院桂林541004 广西自动检测技术与仪器重点实验室桂林541004

为了提高三维片上网络(3D NoC)资源内核的测试效率,对多约束下的3D NoC进行测试规划。在硅通孔(TSV)数量、功耗以及带宽约束下,分别将TSV位置、IP核测试数据分配作为两个寻优变量,利用离散粒子群算法协同进化,以减少测试时间并提高TSV... 详细信息

为了提高三维片上网络(3D NoC)资源内核的测试效率,对多约束下的3D NoC进行测试规划。在硅通孔(TSV)数量、功耗以及带宽约束下,分别将TSV位置、IP核测试数据分配作为两个寻优变量,利用离散粒子群算法协同进化,以减少测试时间并提高TSV利用率。在算法中引入全局次优极值对粒子进行指导,提高全局搜索能力;并通过自适应参数调整策略增加种群多样性,从而改善粒子搜索的停滞现象。以国际标准测试集ITC'02中的电路作为仿真对象,仿真结果表明,算法能够有效地完成在多约束下对TSV位置的寻优并合理分配通信资源,缩短了测试时间,提高了TSV利用率。

关键词：三维片上网络测试规划硅通孔技术多约束离散粒子群算法

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动态带分复用的三维片上网络协同优化研究

仪器仪表学报 2016年第12期37卷 2821-2828页

作者：许川佩凌景胡聪桂林电子科技大学电子工程与自动化学院桂林541004 广西自动检测技术与仪器重点实验室桂林541004 巢湖学院合肥238000

采用动态带分复用进行三维片上网络测试规划和调度协同优化研究,在测试中,给IP核动态分配带宽固定的TAM,同一时刻可使多个核的测试数据共享同一物理TAM并行传输,解决IP核测试数据传输带宽与TAM带宽不匹配的问题,实现IP核并行测试的最大... 详细信息

采用动态带分复用进行三维片上网络测试规划和调度协同优化研究,在测试中,给IP核动态分配带宽固定的TAM,同一时刻可使多个核的测试数据共享同一物理TAM并行传输,解决IP核测试数据传输带宽与TAM带宽不匹配的问题,实现IP核并行测试的最大化。对带宽分配的结果设计多种群云进化算法进行TAM内调度,实施精英种群间交叉变异提高多样性,协同开展测试规划和调度优化以获得最短调度时间。以ITC’02基准电路作为实验对象实施仿真验证,实验结果表明,在满足功耗、带宽约束的条件下,动态带分复用的测试策略通过提高带宽利用率,有效地减小了测试时间,提高了测试效率。

关键词：三维片上网络动态带分复用多种群云进化算法测试规划测试调度

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蚂蚁算法在时序电路测试生成中的应用研究

仪器仪表学报 2005年第2期26卷 187-190页

作者：许川佩李智莫玮桂林电子工业学院电子工程系

数字集成电路的发展对测试提出了日益紧迫的要求 ,测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈问题。尤其时序电路的测试生成 ,理论上是个没有完全解决的问题。通过结合电路的结构信息 ,提出了基于蚂蚁算法的时序电路自动测试生成 ,该算法分... 详细信息

数字集成电路的发展对测试提出了日益紧迫的要求 ,测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈问题。尤其时序电路的测试生成 ,理论上是个没有完全解决的问题。通过结合电路的结构信息 ,提出了基于蚂蚁算法的时序电路自动测试生成 ,该算法分初始化和故障检测两个阶段实现。实验结果表明 ,基于蚂蚁算法的测试生成能取得较好的故障覆盖率 ,并且测试生成所耗费的CPU时间非常短 ,说明这是个值得探索的方法。

关键词：测试生成时序电路蚂蚁算法应用数字集成电路故障覆盖率 CPU时间瓶颈问题 VLSI 结构信息结合电路故障检测完全解初始化

引脚受限数字微流控芯片的多液滴并行测试研究

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仪器仪表学报 2020年第8期41卷 255-263页

作者：许川佩祝佳黄喜军桂林电子科技大学电子工程与自动化学院桂林541004 广西自动检测技术与仪器重点实验室桂林541004

随着数字微流控芯片系统复杂度和电极数目的增加,共用引脚的电极控制方式应运而生。但该控制方式会造成芯片物理结构繁杂,使得芯片故障测试工作变得更加困难。提出一种基于改进的化学反应优化算法(CRO)的并行测试策略,设计引脚受限芯片... 详细信息

随着数字微流控芯片系统复杂度和电极数目的增加,共用引脚的电极控制方式应运而生。但该控制方式会造成芯片物理结构繁杂,使得芯片故障测试工作变得更加困难。提出一种基于改进的化学反应优化算法(CRO)的并行测试策略,设计引脚受限芯片测试模型,针对引脚互连的特点设计约束条件与禁忌判断规则,通过遍历测试模型中顶点和边的方式检测灾难性故障。该方案构建测试路径序列的初始分子结构,在编码中添加虚拟节点,有针对性地设计分子的撞墙、分解、合成和交换反应,采用动态参数机制控制四种反应的频率,并在CRO算法中引入Metropolis准则以改善求解效率,在约束条件下规划测试路径。实验结果表明,该方案能实现对引脚受限芯片的故障测试,无论离线或在线测试,与标准CRO算法相比,测试路径优化了2%以上,而与单液滴测试相比,优化了27%以上,表明所提方法能够有效缩短测试路径,提高测试工作的效率。

关键词：数字微流控芯片引脚受限改进CRO算法多液滴并行测试

基于埃特金逐步插值滤波器的TIADC时间误差校准方法

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仪器仪表学报 2023年第2期44卷 93-100页

作者：许川佩江林黄喜军桂林电子科技大学电子工程与自动化学院桂林541004 广西自动检测技术与仪器重点实验室桂林541004

拉格朗日插值滤波器可以应用于TIADC时间误差校准,并且该方法有较好的校准效果。但是拉格朗日插值滤波器的阶数不易调节,这使得该滤波器在实际应用时不灵活。本文针对此问题,提出了基于埃特金逐步插值滤波器的TIADC时间误差校准方法。... 详细信息

拉格朗日插值滤波器可以应用于TIADC时间误差校准,并且该方法有较好的校准效果。但是拉格朗日插值滤波器的阶数不易调节,这使得该滤波器在实际应用时不灵活。本文针对此问题,提出了基于埃特金逐步插值滤波器的TIADC时间误差校准方法。本文化简了埃特金插值多项式的计算公式,并设计了一种新增插值结点的选取方法,从而将埃特金逐步插值算法应用于时间误差的校准。本文方法能根据TIADC采样系统的输入信号频率和设定的精度要求自动调节埃特金逐步插值滤波器的阶数。仿真结果表明,在90%的奈奎斯特频带范围内,本校准方法能有效抑制时间误差引起的杂散分量,且能自动调节滤波器的阶数,当输入信号的归一化频率为0.35时,校准后的SNDR提高了40.37 dB。并通过实验验证本校准方法的效果。

关键词：时间交织ADC 采样时间误差校准埃特金插值滤波器阶数可调