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检索条件"作者=Ahemd ElMelegy"
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Monte Carlo method in optical atomic force microscopy
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Journal of Measurement Science and Instrumentation 2021年 第3期12卷 267-271页
作者: ahemd elmelegy Sarwat Zahwi Engineering and Surface Metrology Laboratory National Institute of Standards (NIS) Giza 12211 Egypt
Scanning probe microscopy(SPM)is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the *** force microscopy is one of the SPM family which is considered as a very versatile tool fo... 详细信息
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