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Optimizing Fa.tory Performa.ce for Unit Cost in Semiconductor Ma.ufa.turing

Open Journa. of Optimiza.ion 2023年第2期12卷 61-71页

作者： adar a. kalir Ma.ufa.turing Science a. Intel Corp. Qiriat-Gat Israel Ruppin a.a.emic Center Ben-Gurion University Beersheba Israel

The integra.ed circuit (IC) ma.ufa.turing process is ca.ita. intensive a.d complex. The production process of unit product (or die, a. it is commonly referred to) ta.es severa. weeks. Semiconductor fa.tories (fa.s) continuously a.tempt to improve their productivity, a. mea.ured in output a.d cycle time (or mea. flow time). The conflicting objective of producing ma.imum units a. minima. production cycle time a.d a. the highest qua.ity, a. mea.ured by die yield, is discussed in this pa.er. The inter-rela.ed effects a.e cha.a.terized, a.d a.model is proposed to a.dress this multi-objective function. We then show tha., with this model, die cost ca. be optimized for a.y given opera.ing conditions of a.fa.. a.numerica. exa.ple is provided to illustra.e the pra.tica.ity of the model a.d the proposed optimiza.ion method.

关键词： Semiconductor Ma.ufa.turing Cycle Time Die Cost Unit Cost Yield Optimiza.ion Productivity

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