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TFT-LCD边缘暗带不良机理研究与改善

液晶与显示 2020年第11期35卷 1134-1141页

作者：马健孙福坤廖伟经黄正峰刘来峰翟承凯郭晓斌合肥鑫晟光电科技有限公司安徽合肥230012

针对薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-LCD)边缘亮度偏低、出现暗带的不良现象,对不良机理及影响因子进行研究,并总结较优工艺条件。实验结果表明从液晶面板设计角度,均匀的边缘盒厚有助于提升边... 详细信息

针对薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-LCD)边缘亮度偏低、出现暗带的不良现象,对不良机理及影响因子进行研究,并总结较优工艺条件。实验结果表明从液晶面板设计角度,均匀的边缘盒厚有助于提升边缘亮度均一性,故适中的液晶量、硅球尺寸、硅球掺杂比及较硬的封框胶其性能更优,同时贴附偏光片后的液晶面板越平坦其暗带程度越轻;从背光源角度,模组成品的边缘暗带不良与背光源批次存在强相关性,但主要受背光源的平坦度等尺寸参数影响而非背光源自身的暗带程度。此外,老化工艺释放了背光源与液晶屏组装时产生的内应力,缓和边缘位置的形变,适当延长老化时间有利于降低边缘暗带不良发生率。通过以上较优条件的导入,成功改善了TFT-LCD显示器边缘暗带不良,有效地提升了产品竞争力。

关键词：液晶显示器边缘暗带亮度均匀性盒厚背光

水溶性丙烯酰胺-双丙酮丙烯酰胺共聚物的合成及其感光性能研究

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塑料工业 2007年第B06期35卷 93-96页

作者：黄正峰汪济奎杨成龙董擎之华东理工大学材料科学与工程学院上海200237 上海中大科技公司发展有限公司上海201702

丙烯酰胺(AM)和双丙酮丙烯酰胺(DAAM)在氧化还原引发体系过硫酸钾和亚硫酸钠的引发下,在水介质中以自由基聚合得到水溶性的聚丙烯酰胺-双丙酮丙烯酰胺(PAD),研究了引发剂种类、用量、反应温度、反应时间、单体投料比对聚合反应以及产物... 详细信息

丙烯酰胺(AM)和双丙酮丙烯酰胺(DAAM)在氧化还原引发体系过硫酸钾和亚硫酸钠的引发下,在水介质中以自由基聚合得到水溶性的聚丙烯酰胺-双丙酮丙烯酰胺(PAD),研究了引发剂种类、用量、反应温度、反应时间、单体投料比对聚合反应以及产物感光性能的影响,并对产物的结构进行了表征。结果表明,反应为恒比共聚,所合成的聚合物是AM和DAAM的交替共聚物。所合成的感光材料感光度高、分辨率高、工艺一致性好、易于实现工业化生产。

关键词：感光高分子水溶性丙烯酰胺双丙酮丙烯酰胺 PAD

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一种低开销的三点翻转自恢复锁存器设计

电子与信息学报 2021年第9期43卷 2508-2517页

作者：黄正峰李先东陈鹏徐奇宋钛戚昊琛欧阳一鸣倪天明合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230601 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230601 安徽工程大学电气工程学院芜湖241000

随着集成电路特征尺寸的不断缩减,在恶劣辐射环境下,纳米级CMOS集成电路中单粒子三点翻转的几率日益增高,严重影响可靠性。为了实现单粒子三点翻转自恢复,该文提出一种低开销的三点翻转自恢复锁存器(LC-TNURL)。该锁存器由7个C单元和7... 详细信息

随着集成电路特征尺寸的不断缩减,在恶劣辐射环境下,纳米级CMOS集成电路中单粒子三点翻转的几率日益增高,严重影响可靠性。为了实现单粒子三点翻转自恢复,该文提出一种低开销的三点翻转自恢复锁存器(LC-TNURL)。该锁存器由7个C单元和7个钟控C单元组成,具有对称的环状交叉互锁结构。利用C单元的阻塞特性和交叉互锁连接方式,任意3个内部节点发生翻转后,瞬态脉冲在锁存器内部传播,经过C单元多级阻塞后会逐级消失,确保LC-TNURL锁存器能够自行恢复到正确逻辑状态。详细的HSPICE仿真表明,与其他三点翻转加固锁存器(TNU-Latch, LCTNUT, TNUTL, TNURL)相比,LC-TNURL锁存器的功耗平均降低了31.9%,延迟平均降低了87.8%,功耗延迟积平均降低了92.3%,面积开销平均增加了15.4%。相对于参考文献中提出的锁存器,LC-TNURL锁存器的PVT波动敏感性最低,具有较高的可靠性。

关键词：锁存器抗辐射加固设计 C单元自恢复三点翻转

45 nmCMOS工艺三模冗余加固锁存器的性能评估

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合肥工业大学学报（自然科学版） 2020年第3期43卷 364-369页

作者：黄正峰王敏李雪筠鲁迎春倪天明合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥230601 安徽工程大学电气工程学院安徽芜湖241000

集成电路器件处在辐射敏感环境中时,易受到粒子轰击产生单粒子效应,使得电路的逻辑值发生翻转,影响电路的可靠性。为了提高电路的可靠性,需要针对单粒子效应引起的单粒子翻转(single event upset,SEU)问题进行加固研究,三模冗余(triple ... 详细信息

集成电路器件处在辐射敏感环境中时,易受到粒子轰击产生单粒子效应,使得电路的逻辑值发生翻转,影响电路的可靠性。为了提高电路的可靠性,需要针对单粒子效应引起的单粒子翻转(single event upset,SEU)问题进行加固研究,三模冗余(triple modular redundancy,TMR)锁存器是最简单有效的抗SEU加固锁存器。文章阐述了TMR相关基础知识,包括结构组成、可靠性分析和工作原理。TMR锁存器分为主级和从级。主级是由3个相同模块组成的,从级是“三中取二”表决器。文中使用的表决器为2种传统表决器和9种晶体管级表决器。传统表决器是由门级单元构成,晶体管级表决器是由PMOS管和NMOS管组合构成。文章分析比较了11种不同结构的TMR锁存器,利用Hspice仿真工具测得TMR锁存器的功耗、延迟、面积开销,并进行综合性能比较。

关键词：三模冗余(TMR) 表决器容错晶体管级

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低开销的信号违规检测结构LSVD

电子测量与仪器学报 2014年第1期28卷 10-16页

作者：梁华国徐辉梁丽波黄正峰常郝合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 安徽理工大学计算机科学与工程学院淮南232001

多故障同时在线检测是目前故障检测领域的研究热点之一,但多故障同时在线检测往往在功能、面积和功耗等问题上难以取得较好的折中。本文针对以前的检测策略进行了改进,提出了一种低开销的信号违规检测器LSVD(low-cost signal violation ... 详细信息

多故障同时在线检测是目前故障检测领域的研究热点之一,但多故障同时在线检测往往在功能、面积和功耗等问题上难以取得较好的折中。本文针对以前的检测策略进行了改进,提出了一种低开销的信号违规检测器LSVD(low-cost signal violation detector,LSVD)。仿真结果表明,与目前最有影响的ARSC和SVFD故障检测策略相比较,LSVD不仅能同时在线检测软错误、延迟故障,预测老化,还拥有优越的自身抗老化性能。相对于ARSC和SVFD,面积开销降低了72.19%和40.85%,功耗降低了89.39%和97.63%。

关键词：软错误延迟故障老化延迟稳定性违规

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面向多位扫描单元的可诊断性设计方法

郑州大学学报（理学版） 2021年第1期53卷 80-87页

作者：国欣祯井鹏飞叶靖黄正峰李晓维李华伟合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥230601 中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室北京100190 中国科学院大学人工智能学院北京100190 中国科学院大学北京100190

提出了面向多位扫描单元的扫描链重连可诊断性设计方法,在满足多位扫描单元约束与后端设计限制的情况下,利用启发式算法实现了扫描单元分配优化。在ISCAS′89基准电路的实验结果表明,采用所提方法对含有多位扫描单元的电路进行优化后,b1... 详细信息

提出了面向多位扫描单元的扫描链重连可诊断性设计方法,在满足多位扫描单元约束与后端设计限制的情况下,利用启发式算法实现了扫描单元分配优化。在ISCAS′89基准电路的实验结果表明,采用所提方法对含有多位扫描单元的电路进行优化后,b17电路SA-0和SA-1故障的平均诊断分辨率分别为优化前的12.59倍和13.37倍;s38417电路SA-0和SA-1故障的平均诊断分辨率分别为优化前的19.95倍和3.04倍。

关键词：多位扫描单元故障诊断敏感单元

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汽车防撞雷达多目标识别测量算法研究

计量学报 2017年第1期38卷 106-111页

作者：张鉴童睿周道逵杨文华黄正峰戚昊琛合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥230009

针对目前汽车防撞系统中常用的调频连续波测距雷达对多目标识别的不足,基于频移键控雷达的联合作用,提出一种新型的测量方法,该算法采用一种类梯形调频波形,利用调制频率的周期性变化特征分别对单目标和多目标实现有效检测,使雷达不仅... 详细信息

针对目前汽车防撞系统中常用的调频连续波测距雷达对多目标识别的不足,基于频移键控雷达的联合作用,提出一种新型的测量方法,该算法采用一种类梯形调频波形,利用调制频率的周期性变化特征分别对单目标和多目标实现有效检测,使雷达不仅可测量单目标在不同运动状态下的距离和速度,同时也可识别多目标,并对其完成测距与测速。利用Matlab对所提出的算法进行了仿真与验证,表明该算法不仅能准确捕捉所探测目标,并且在测量中有着较高的精度,适用于毫米波汽车防撞雷达在行驶中的目标测量。

关键词：计量学汽车防撞雷达调频连续波频移键控多目标识别测量方法

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考虑NBTI的动态休眠管尺寸电源门控设计

合肥工业大学学报（自然科学版） 2017年第3期40卷 351-356页

作者：袁野易茂祥张林甘应贤黄正峰徐辉合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥230009 安徽理工大学计算机科学与工程学院安徽淮南232001

当前纳米互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor,CMOS)集成电路设计中,利用电源门控(power gating,PG)技术来降低静态功耗已成为一种趋势。随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,负偏置温度不稳定性(negative bias t... 详细信息

当前纳米互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor,CMOS)集成电路设计中,利用电源门控(power gating,PG)技术来降低静态功耗已成为一种趋势。随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)带来的电路老化问题越来越严重。当Header型PG电路处于正常工作模式时,休眠管(sleep transistor,ST)会受到NBTI老化效应的影响,导致PG电路的性能损失加重。文章通过对PG电路的NBTI老化特性分析,提出了考虑NBTI的PG电路性能损失模型;利用PG电路的NBTI老化特性将ST进行分组,并通过间断接通ST,等效于动态调节ST的尺寸或导通电阻,来减小由ST老化引起的PG电路性能损失。结果表明,动态ST尺寸方法与传统ST尺寸方法相比,可以使PG电路的使用寿命提高30%左右,并且提出的模型与HSPICE仿真结果所得到的趋势相吻合。

关键词：电源门控(PG) 负偏置温度不稳定性(NBTI) 性能损失休眠管(ST) 动态尺寸

基于FPGA的微处理器SET敏感性评估方法

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合肥工业大学学报（自然科学版） 2019年第11期42卷 1509-1514,1568页

作者：孙骏梁华国姚瑶黄正峰徐秀敏合肥工业大学电子科学与应用物理学院

为了快速准确地的评估微处理器单粒子瞬态(single event transient,SET)软错误敏感性,文章提出了一种改进的基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)故障注入的软错误敏感性评估方法。该方法通过分析微处理器门级网... 详细信息

为了快速准确地的评估微处理器单粒子瞬态(single event transient,SET)软错误敏感性,文章提出了一种改进的基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)故障注入的软错误敏感性评估方法。该方法通过分析微处理器门级网表和时序文件,提取SET故障注入位置和传输延时信息,使用扫描链实现SET故障脉冲的注入,同时考虑了时窗屏蔽效应、逻辑屏蔽效应和电气屏蔽效应对SET故障脉冲传播的影响;并使用该方法对PIC16F54微处理器进行了故障注入。实验结果表明,基于该方法进行故障注入及软错误敏感性评估所需的时间比Isim软件仿真方法提高了约4个数量级。

关键词：单粒子瞬态(SET) 现场可编程门阵列(FPGA) 微处理器故障注入敏感性评估