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X射线荧谱中影响理论计算相对强度的主要因素
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化学学报 1998年 第9期56卷 873-879页
作者: 陶光仪 卓尚军 吉昂 中国科学院上海硅酸盐研究所 上海200050
提高理论相对强度计算准确度对X射线荧定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X管原级谱... 详细信息
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X射线荧谱分析
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分析试验室 1995年 第3期14卷 92-100页
作者: 陶光仪 中国科学院上海硅酸盐研究所
本文是“分析试验室”定期评述中“X射线荧谱分析”学科的第五篇评述。它收集了国内学者1992年7月到1994年6月期间发表在国内外刊物上的171篇文章。并对此期间我国X射线荧谱分析的概况和发展进行评述。内容包括... 详细信息
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X射线荧分析中用于校正元素间吸收-增强效应的一个新经验校正方程
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化学学报 1982年 第2期40卷 141-149页
作者: 陶光仪 吉昂 中国科学院上海硅酸盐研究所
本文提出了一个新经验校正方程,用以校正X射线荧分析中的吸收-增强效应.它以影响系数和基体元素浓度间的相互关系的两次曲线拟合为基础.在该校正方程中,吸收效应和增强效应均考虑为相同的表达形式.影响系数用多变量最小二乘法计算,分... 详细信息
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X射线荧谱在晶体材料组成分析中的应用
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无机材料学报 2003年 第1期18卷 19-26页
作者: 卓尚军 陶光仪 吉昂 盛成 申如香 中国科学院上海硅酸盐研究所 上海200050
介绍了X射线荧谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反... 详细信息
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X射线荧谱分析中计算机软件的新进展
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冶金分析 1994年 第2期 31-34页
作者: 陶光仪 中国科学院上海硅酸盐研究所
本文对X射线荧谱测定中的定性、半定量和定量分析用的计算机软件近年来的新进展进行了简要的评述,并列出参考文献39篇。
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含硫化合物的SK_αX射线荧谱的研究
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化学学报 1996年 第9期54卷 912-916页
作者: 刘红超 吉昂 陶光仪 王庆广 中国科学院上海硅酸盐研究所 上海200050 地质科学院测试中心 北京100037 中国科学院北京生态环境中心 北京100085
在RIGAKU 3070X射线(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK_a谱;用统计试验最优化方法处理实验数据,得到了谱峰的峰位,非对称因子,半高宽度等信息;并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷.讨论了硫化合物SK_a谱化学位移的变化规... 详细信息
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等离子体谱/质谱中悬浮液进样研究进展
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谱学与谱分析 2006年 第3期26卷 542-547页
作者: 汪正 邱德仁 陶光仪 杨芃原 中国科学院上海硅酸盐研究所 上海200050 复旦大学化学系 上海200433
等离子体谱/质谱法是无机元素分析主要的分析方法之一,但其通常要求以溶液形式进样。文章在介绍目前几种固体试样直接进样方法的基础上,着重对悬浮液进样等离子体谱/质谱研究进展进行综述。叙述悬浮液的制备方法及表征,包括球磨法... 详细信息
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悬浮液雾化进样感耦等离子体基本参数研究Ⅰ.等离子体激发温度测定
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谱学与谱分析 2009年 第3期29卷 793-796页
作者: 汪正 邱德仁 陶光仪 杨芃原 中国科学院上海硅酸盐研究所 上海200050 复旦大学化学系 上海200433
研究了悬浮液雾化进样感耦等离子体原子发射谱基本参数——等离子体激发温度。实验用“线为温标线,并采用多谱线法测量溶液雾化进样和0.05%二氧化钛悬浮液雾化进样等离子体激发温度。测定结果显示这两种雾化进样方式的等离子体激... 详细信息
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中国古代瓷的X射线荧非破坏分析
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中国 1991年 第5期 58-62页
作者: 陶光仪 中国科学院上海硅酸盐研究所 200050
本文提出了一个用于分析中国古瓷胎和釉中十个主、次量组分的非破坏X-射线荧谱方法。该方法最重要之特点是试样仅作短时间的X照射,因此无论如何不会损坏样品。这一点对贵重的中国古瓷来说,尤为重要。
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X射线荧谱分析
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分析试验室 1997年 第3期16卷 94-100页
作者: 陶光仪 中科院上海硅酸盐所 上海
X射线荧谱分析陶光仪1964年毕业于南京大学化学系,先后在中国科学院化学研究所和上海硅酸盐研究所从事成分分析工作。1973年起进入X射线荧谱(XRF)分析领域。1982~1993年期间曾在美国国家标准局分析化... 详细信息
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