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1.06μm激光辐照CCD探测器的热力效应分析

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红外与激光工程 2013年第S2期42卷 380-386页

作者：聂劲松王玺李化卞进田郝向南脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院) 安徽合肥230037

根据CCD探测器的结构特点和传热学理论,建立了1.06μm激光辐照CCD探测器的理论模型,利用有限元法对1.06μm激光辐照CCD探测器中的温度和应力分布进行了数值分析,讨论了CCD探测器的激光损伤机理,并比较了不同重频激光的损伤效果。计算结... 详细信息

根据CCD探测器的结构特点和传热学理论,建立了1.06μm激光辐照CCD探测器的理论模型,利用有限元法对1.06μm激光辐照CCD探测器中的温度和应力分布进行了数值分析,讨论了CCD探测器的激光损伤机理,并比较了不同重频激光的损伤效果。计算结果表明,遮光铝膜与SiO2层的分离和硅材料的应力、熔融损伤会导致CCD器件损伤;平均功率密度一定的条件下,高重频激光比连续激光更容易造成CCD探测器的损伤,且重频越低,损伤越容易发生。

关键词：激光损伤数值分析 CCD探测器

1064nm高重频激光对可见光CCD探测器的干扰实验

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红外与激光工程 2013年第S2期42卷 387-390页

作者：王玺聂劲松李化雷鹏郝向南脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院) 安徽合肥230037

分别采用1 064 nm连续激光、不同高重频激光对可见光CCD探测器进行了干扰实验,观察到CCD的串扰、饱和以及高重频激光作用时产生的横向亮线等一系列干扰现象。同时测量计算了各种干扰现象相应的激光功率,研究了阈值功率与重频之间的关系... 详细信息

分别采用1 064 nm连续激光、不同高重频激光对可见光CCD探测器进行了干扰实验,观察到CCD的串扰、饱和以及高重频激光作用时产生的横向亮线等一系列干扰现象。同时测量计算了各种干扰现象相应的激光功率,研究了阈值功率与重频之间的关系,进一步分析了高重频激光的干扰机理。实验表明:重频激光与连续激光具有不同的干扰现象,重频激光的干扰效果没有连续激光好,使CCD传感器发生全屏饱和、全屏灰屏所需要的阈值功率比连续激光要高。

关键词：激光干扰高重频激光可见光CCD探测器阈值功率

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不同工作状态激光对可见光CCD的损伤实验

光电工程 2012年第9期39卷 113-118页

作者：郝向南李化聂劲松卞进田雷鹏解放军电子工程学院脉冲功率激光技术国家重点实验室合肥230037

分别用连续激光、40kHz和5kHz重频激光对可见光CCD进行损伤实验,发现了相似的损伤现象,即点损伤、线状损伤和完全损伤,并分别测量了各个损伤状态下的驱动电极与衬底间的阻抗变化;分别对三组实验中损伤的CCD芯片进行电镜扫描,微观分析各... 详细信息

分别用连续激光、40kHz和5kHz重频激光对可见光CCD进行损伤实验,发现了相似的损伤现象,即点损伤、线状损伤和完全损伤,并分别测量了各个损伤状态下的驱动电极与衬底间的阻抗变化;分别对三组实验中损伤的CCD芯片进行电镜扫描,微观分析各个损伤位置处的损伤形貌,详细解释了出现三种损伤现象的原因,并比较了三种工作状态激光的不同作用机理。得到的结论是:点损伤现象与CCD表层的损伤有关,线损伤现象与漏光和电极间短路有关、完全损伤现象与绝缘层的损伤有关;连续激光作用的过程以热熔融为主、40kHz重频激光作用的过程以汽化烧蚀为主、5kHz重频激光作用的过程包括汽化烧蚀、强汽化"冲刷"以及反冲压力。

关键词：连续激光高重频激光可见光CCD 损伤机理

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CCD强光饱和效应的温度因素分析

光电工程 2011年第7期38卷 54-58页

作者：郝向南聂劲松李化脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院) 合肥230037

采用1.06μm的连续激光对可见光CCD成像系统进行干扰实验,依次观察到了饱和串扰、串扰亮线加粗、全屏饱和与全屏布满黑白雪花点的实验现象。利用有限元分析的方法对实验中的探测器升温情况进行模拟计算。并通过数值分析,发现随着温度的... 详细信息

采用1.06μm的连续激光对可见光CCD成像系统进行干扰实验,依次观察到了饱和串扰、串扰亮线加粗、全屏饱和与全屏布满黑白雪花点的实验现象。利用有限元分析的方法对实验中的探测器升温情况进行模拟计算。并通过数值分析,发现随着温度的升高,暗电流不断增大,当温度超过350K时,增大的速度显著上升;像元的饱和阈值相应地减小,当温度达到350K时,其数值就已经减为零。根据模拟升温的大小,结合温度升高时探测器暗电流、像元饱和阈值的变化,对实验现象进行了合理的解释。结果表明:除了考虑光电转换产生的光电子以外,由于激光辐照导致探测器表面升温,进而引起暗电流增大和像元饱和阈值减小,是CCD产生饱和效应的重要影响因素。

关键词： CCD饱和效应有限元分析暗电流像元饱和阈值温度影响

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脉冲宽度对CCD探测器激光损伤效果的影响

红外与激光工程 2013年第S2期42卷 403-406页

作者：李化王玺聂劲松卞进田雷鹏郝向南脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院) 安徽合肥230037

采用1 064 nm激光在5 kHz、不同脉宽条件下对CCD探测器进行了损伤实验,观察到饱和干扰、线状损伤和完全损伤等一系列的损伤现象,并测量计算了各种损伤现象相应的损伤阈值,研究了损伤阈值与脉冲宽度之间的关系。结果表明,脉冲宽度不同的5... 详细信息

采用1 064 nm激光在5 kHz、不同脉宽条件下对CCD探测器进行了损伤实验,观察到饱和干扰、线状损伤和完全损伤等一系列的损伤现象,并测量计算了各种损伤现象相应的损伤阈值,研究了损伤阈值与脉冲宽度之间的关系。结果表明,脉冲宽度不同的5 kHz重频激光的损伤阈值基本相同,CCD探测器的损伤效果与重频激光的脉冲宽度变化关系不大。影响可见光CCD探测器激光损伤阈值的主要因素是单脉冲功率密度的量级大小,当脉宽减小导致单脉冲功率密度的量级显著增大时,损伤阈值减小;当单脉冲功率密度的量级不变时,损伤阈值也基本不变。

关键词：激光损伤高重频激光损伤阈值脉冲宽度

外交场合中委婉语的使用和翻译策略——以中美高层战略对话汉英口译为例

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现代语言学 2022年第3期10卷 538-544页

作者：郝向南武玉莲天津大学外国语言与文学学院天津

外交委婉语是外交场合中的一种独特的语言现象和修辞方式,也是中国外交语言的一贯风格和鲜明特点。主要围绕中美高层战略对话中方发言内容,结合实例归纳总结了外交委婉语在词汇、句法、修辞三个层面的具体表现形式;根据现场口译员的翻... 详细信息

外交委婉语是外交场合中的一种独特的语言现象和修辞方式,也是中国外交语言的一贯风格和鲜明特点。主要围绕中美高层战略对话中方发言内容,结合实例归纳总结了外交委婉语在词汇、句法、修辞三个层面的具体表现形式;根据现场口译员的翻译文本,通过分析语料,分析了直译、意译和词义增减三种外交委婉语的口译策略;简要讨论了译员在汉英口译过程中的委婉性表达,为外交场合中委婉语的使用和翻译提供参考。

关键词：外交委婉语语料分析口译策略口译委婉性表达

10.6μm激光对HgCdTe焦平面器件热应力的分析

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激光与红外 2012年第7期42卷 790-794页

作者：郝向南聂劲松李化卞进田雷鹏脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院) 安徽合肥230037

建立了HgCdTe红外焦平面器件的多膜层理论模型,利用有限元分析的方法,对10.6μm激光辐照下HgCdTe红外焦平面器件的升温情况与热应力分布情况进行模拟,并通过参考已有文献的实验结果,验证了理论模型的合理性。理论分析结果表明:激光作用... 详细信息

建立了HgCdTe红外焦平面器件的多膜层理论模型,利用有限元分析的方法,对10.6μm激光辐照下HgCdTe红外焦平面器件的升温情况与热应力分布情况进行模拟,并通过参考已有文献的实验结果,验证了理论模型的合理性。理论分析结果表明:激光作用时探测器的温度场变化剧烈,200 W/cm2连续激光作用1 s后,HgCdTe感光层所受热应力为-986 MPa;脉宽100 ns,功率密度15 MW/cm2脉冲激光作用后,HgCdTe感光层所受热应力为-1300 MPa,都比器件制造过程中由于热失配而产生的热应力大;应力损伤发生的概率增大,可能比热损伤先发生,是HgCdTe红外焦平面器件激光损伤中的重要原因。

关键词： HgCdTe红外焦平面器件热失配效应激光热应力作用有限元分析

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重复频率激光对硅材料的热力作用研究

重复频率激光对硅材料的热力作用研究

安徽省光学学会2010年激光年会

作者：郝向南李化聂劲松脉冲功率激光技术国家重点实验室解放军电子工程学院

＜正＞Si是CCD光电探测器的基底材料,因此研究激光对Si材料的热力耦合作用是研究CCD激光损伤效应的重要环节。针对平均功率和脉宽保持不变,而重复频率不同的脉冲激光,利用傅里叶传热模型和有限元分析的方法,对激光作用的热效应进行模拟...

＜正＞Si是CCD光电探测器的基底材料,因此研究激光对Si材料的热力耦合作用是研究CCD激光损伤效应的重要环节。针对平均功率和脉宽保持不变,而重复频率不同的脉冲激光,利用傅里叶传热模型和有限元分析的方法,对激光作用的热效应进行模拟,得到了硅材料的温度场分布、表层温度随时间变化情况和表层瞬时高温与重频的对应关系;针对能量为1.115 mJ的单脉冲作用,利用热力耦合模型,对

关键词：

来源： cnki会议评论

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出租汽车计价器使用及维护

经营管理者 2016年第4期 394-394页

作者：郝向南朝阳市计量测试所

本文介绍了出租汽车计价器的主机工作原理、使用、常见故障分析处理和日常维护。

关键词：出租汽车计价器工作原理使用故障分析处理维护