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SiC_xN_y:H薄膜的FTIR研究
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红外与毫米波学报 1991年 第4期10卷 253-258页
作者: 郭慧 张伟 朱景兵 苏诚培 邬建根 王季陶 屈逢源 复旦大学物理系 上海200433
用低温PECVD方法制备出成分连续可交的SiC_xN_y:H薄膜,用FTIR和AES方法分析了薄膜的组分。实验表明FTIR吸收谱可以快速地估计SiC_xN_y:H薄膜中N/N+C的比例,快速灯光退火薄膜的FTIR分析表明用PECVD制作的SiC_xN_y:H薄膜用做硅器件钝化膜... 详细信息
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喇曼散射光极值法定闪锌矿结构薄层的晶向
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Journal of Semiconductors 1990年 第7期11卷 500-507页
作者: 吴华生 邬建根 屈逢源 复旦大学物理系
测定金刚石结构薄层晶体的喇曼散射光极值法被推广到测定闪锌矿结构薄层晶体的晶向。导出了闪锌矿结构晶体LO和TO声子的喇曼散射光强和晶体的方位及入射光偏振方向间的函数关系。由函数的极值可以确定簿层的晶向。对GaP晶片比较了本方... 详细信息
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凝聚态光学性质的研究和进展 八  1
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1996年
作者: 陈良尧 褚君浩 邬建根
全国凝聚态光学性质学术会议是由中国物理学会主办的,每两年一次的全国性学术会议。第八届会议于1996年 9月23一27日在杭州举行。本届会议由复旦大学、中国科学院上海技术物理研究所、浙江省物理学会和上海应用物理研究中心联合承办‘,
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现场光热光谱法研究银电极行为
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化学学报 1992年 第4期50卷 372-377页
作者: 江志裕 向阳 王江涛 邬建根 时炳文 沈寿彭 复旦大学化学系 上海200433 中国科学院上海有机化学研究所 上海200032
利用聚偏二氟乙烯(PVDF)热释电膜作为热传感器,本文首次独立设计了现场光热光谱研究用的电解池,对电解池的光热信息进行了理论分析,并用该法研究了碱性溶液中银电极表面氧化层的性质。从光谱的变化证实:Ag表面Ag_2O层的生成与循环伏安... 详细信息
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灯光退火装置及其均匀性
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固体电子学研究与进展 1990年 第4期10卷 374-378页
作者: 朱景兵 邬建根 屈逢源 复旦大学物理系
设计制造了快速灯光退火装置,对灯光退火装置的退火均匀性作了理论计算,将灯光退火均匀性的计算结果与作者自行设计的装置所得的实验结果进行比较.结果表明,作者应用自己提出的计算方法设计制造的灯光通火装置各项指标都达到设计要求.... 详细信息
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含氮直拉硅中复合浅施主的光热电离光谱研究
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红外与毫米波学报 1991年 第5期10卷 327-331页
作者: 胡灿明 黄叶肖 叶红娟 沈学础 祁明维 邬建根 李晓雷 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家实验室 上海200083 中国科学院上海冶金研究所 上海200050 复旦大学物理系 上海200433
报道N型含氮直拉硅单晶的光热电离光谱(PTIS)除观察到P的谱线系列外,还观察到三个与氮、氧有关的复合型浅施主中心D(N-O)的谱线系,首次报道了它们3p_±以上的谱线位置,并精确测定了其电离能为36.16meV、36.41meV和37.37meV。变温分析表... 详细信息
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部分完美晶体器件工艺的改进和pn结反向电流的降低
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固体电子学研究与进展 1991年 第4期11卷 307-312页
作者: 郑国祥 周寿通 屈逢源 邬建根 郑凯 复旦大学物理系 上海200433 上海无线电十七厂 200010
为降低pn结反向电流可在器件制作工艺中采用一系列完美晶体器件工艺(PCDT).在实施过程中,作者对吸除工艺,应力补偿工艺等作了改进,进一步降低了反向电流.
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高纯真空区熔硅单晶在快速热退火下的红外吸收
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稀有金属 1991年 第3期15卷 187-189页
作者: 张继昌 邬建根 马碧兰 屈逢源 朱景兵 同济大学 复旦大学 中国科学院红外物理国家实验室
高纯真空区熔硅单晶经离子注入和氮气氛中的快速热退火后,在4.2K的红外吸收谱中观察到1136cm^(-1)的氧特征峰;而类似的样品未经快速热退火,则无此吸收峰。利用硅表面的SiO_2层中氧的恒定表面浓度扩散近似,得到样品中氧的计算值和实验值... 详细信息
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硅中载流子浓度的红外自由载流子吸收测定法
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稀有金属 1991年 第6期15卷 465-467页
作者: 马碧兰 邬建根 屈逢源 朱景兵 张继昌 复旦大学 中国科学院上海技术物理研究所 同济大学
硅材料和硅器件的许多性质和性能都与载流子浓度有直接依赖关系。测定硅中载流子浓度已发展有许多方法,如四探针法、霍耳系数法,C-V法、光致荧光法、杂质吸收法等等。1958年吴仲墀等人利用室温下10.6μm处自由载流子的吸收系数α测定硅... 详细信息
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快速热退火铝合金降低硅p^+-n结的漏电流
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固体电子学研究与进展 1990年 第4期10卷 369-373页
作者: 郭慧 邬建根 沈孝良 屈逢源 金辅政 张建平 朱景兵 复旦大学物理系 上海无线电十七厂 中国科学院上海技术物理研究所
快速热退火铝合金工艺可以明显改善硼扩硅P^+-n结的漏电流.X射线衍射实验表明,铝原子补偿了硼原子在硅片中造成的应变,改善了晶体的完整性.
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