检索结果-南通市图书馆

在线全文

cnki会议

学校读者我要写书评

暂无评论

用于ICF的光栅特性

用于ICF的光栅特性

作者：杨春林周礼书许乔杨李茗

针对透射光栅的减反射技术、ICF系统使用的多用途光栅的性质以及部分相干光在光栅中传输的特性等方面进行了详细的分析和模拟计算,较为系统的研究了用于ICF的光栅特性。针对透射光栅的表面反射不利因素,将光栅的工作角度设置到布儒斯特...

针对透射光栅的减反射技术、ICF系统使用的多用途光栅的性质以及部分相干光在光栅中传输的特性等方面进行了详细的分析和模拟计算,较为系统的研究了用于ICF的光栅特性。针对透射光栅的表面反射不利因素,将光栅的工作角度设置到布儒斯特角附近,利用光束成布儒斯特

关键词：

在线全文

cnki会议

学校读者我要写书评

暂无评论

大口径衍射光学元件技术

大口径衍射光学元件技术

作者：杨春林柴立群杨李茗许乔

为保证ICF驱动系统的正常、安全运行,驱动器中的每一路激光,需要对其三倍频光进行分光、检查抽样和整形。这些功能是利用衍射光学原理所制备的元件来实现的。在NIF 系统中,由分光光栅(CSG)、取样光栅(BSG)和整形器件(KPP)三块光栅完成...

为保证ICF驱动系统的正常、安全运行,驱动器中的每一路激光,需要对其三倍频光进行分光、检查抽样和整形。这些功能是利用衍射光学原理所制备的元件来实现的。在NIF 系统中,由分光光栅(CSG)、取样光栅(BSG)和整形器件(KPP)三块光栅完成。神光Ⅲ原型装置最重要的设计实现目标是“1ns,3ω,1kJ/束,小焦斑进洞”。在三倍频终端光学系统中,设计方案也使用了前述的三类大口径衍射光学元件。大口径衍射光学元件的制作需要解决一系列关键技术问题,包括大口径匀胶技术,BSG全息光刻技术,CSG 光刻技术和光栅检测几个方面。

关键词：

在线全文

cnki会议

学校读者我要写书评

暂无评论

激光等离子体效应对硅表面损伤特征的影响

光谱学与光谱分析 2011年第12期31卷 3185-3189页

作者：范卫星韩敬华李海波杨李茗冯国英高翔刘岩岩包凌东黄永忠四川大学电子信息学院四川成都610064 奥普镀膜技术(广州)有限公司广东广州510730 成都精密光学工程研究中心四川成都610041

硅材料作为光电探测器的基础材料,研究其在强激光辐照下的损伤问题在激光探测、国防领域很有意义。对高强度纳秒激光作用下硅表面的损伤形貌特征进行了研究,结果表明:激光等离子体的热效应及冲击波效应,使激光作用区域内的物质迅速向外... 详细信息

硅材料作为光电探测器的基础材料,研究其在强激光辐照下的损伤问题在激光探测、国防领域很有意义。对高强度纳秒激光作用下硅表面的损伤形貌特征进行了研究,结果表明:激光等离子体的热效应及冲击波效应,使激光作用区域内的物质迅速向外飞溅,形成点坑,并在点坑周围形成辐射状冷却物;散射光与入射激光干涉产生形成周期性分布的热应力使得硅材料表面张力发生变化,冷却后会在坑底表面产生周期性结构;从激光等离子体的光谱中可以发现N,O和Si的特征光谱,在重复激光脉冲作用下会在硅表面上覆盖一层导致色变的SiOx和SiNx复合薄膜,是激光等离子体的喷射产物。

关键词：激光等离子体多晶硅激光诱导损伤周期性结构

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

一种新颖的点衍射干涉轻敲模式原子力显微镜

光学仪器 2005年第3期27卷 65-69页

作者：冷炜杨甬英杨李茗浙江大学现代光学仪器国家重点实验室浙江杭州310027 成都精密光学工程研究中心四川成都610041

论述了一种新颖的原子力显微镜,它利用硅微探针的特殊结构和相关光学系统所引起的点衍射干涉现象[1]来扫描成像,因为硅微探针被用作反射型点衍射板,故光路完全共路,再结合锁相检测技术,使得该仪器抗干扰力极强且结构精巧紧凑,可适用于... 详细信息

论述了一种新颖的原子力显微镜,它利用硅微探针的特殊结构和相关光学系统所引起的点衍射干涉现象[1]来扫描成像,因为硅微探针被用作反射型点衍射板,故光路完全共路,再结合锁相检测技术,使得该仪器抗干扰力极强且结构精巧紧凑,可适用于测试软硬不同材料样品,对软质高分子膜材料检测得到了实际的链状结构。

关键词：原子力显微镜点衍射锁相轻敲模式干涉术

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

三阶非线性效应对三次谐波振荡转换的影响

光学学报 2005年第3期25卷 387-391页

作者：赵华君杨李茗冯国英张清泉朱启华陈建国四川大学电子信息学院成都610064 成都精密光学工程研究中心成都610041 中国工程物理研究院激光聚变研究中心绵阳621900

使用快速傅里叶变换和四阶龙格库塔法,对KDP晶体内以Ⅰ/Ⅱ类角度失谐设置方式的高强度激光三次谐波振荡转换进行了研究,考虑了谐波转换过程中的三阶非线性χ(3)、衍射、离散等效应,并着重研究了KDP晶体的三阶非线性效应对高强度激光三... 详细信息

使用快速傅里叶变换和四阶龙格库塔法,对KDP晶体内以Ⅰ/Ⅱ类角度失谐设置方式的高强度激光三次谐波振荡转换进行了研究,考虑了谐波转换过程中的三阶非线性χ(3)、衍射、离散等效应,并着重研究了KDP晶体的三阶非线性效应对高强度激光三次谐波转换的影响。研究表明,三阶非线性效应降低了三次谐波振荡转换效率,增大了相位扰动对3ω光束的强度调制,然而通过增加二倍频的失谐角Δθs,可以避免三阶非线性效应对三次谐波振荡转换带来的不利影响。

关键词：非线性光学三次谐波振荡三阶非线性 KDP晶体 Ⅰ/Ⅱ类角度失谐失谐角

HF酸刻蚀过程中熔石英亚表面划痕形貌的原子力显微原位跟踪检测

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

HF酸刻蚀过程中熔石英亚表面划痕形貌的原子力显微原位跟踪检测

第十五届全国光学测试学术交流会

作者：李源杨李茗李莉李晓蕾巨新马颖鏊北京科技大学中物院激光聚变研究中心四川省成都市高新区科园一路3号成都精密光学工程研究中心

熔石英元件广泛应用于各类激光装置,其紫外波段抗激光损伤的能力是提高大型激光器输出功率的关键因素。本征损伤和缺陷损伤致使熔石英元件抗激光损伤能力降低。缺陷损伤主要由表面加工产生的破碎性缺陷和污染性缺陷引起的光子吸收所导...

熔石英元件广泛应用于各类激光装置,其紫外波段抗激光损伤的能力是提高大型激光器输出功率的关键因素。本征损伤和缺陷损伤致使熔石英元件抗激光损伤能力降低。缺陷损伤主要由表面加工产生的破碎性缺陷和污染性缺陷引起的光子吸收所导致。而破碎性缺陷的主要表现形式是划痕。目前的加工水平下,仅凭加工仍无法完全去除这类缺陷,特别是亚表面缺陷的控制更加隐性和困难。目前较为有效地处理方法是采用HF酸加兆声辅助的方法让亚表面缺陷爆出并刻蚀钝化至平滑状态。本文针对熔石英元件的亚表面划痕,利用原子力显微镜,采用原位跟踪检测的方法,检测熔其在HF酸刻蚀(静态和兆声辅助)过程中形貌的变

关键词：

在线全文

cnki会议

学校读者我要写书评

暂无评论

空间频谱分析法研究非线性介质中的成丝现象

空间频谱分析法研究非线性介质中的成丝现象

中国光学学会2004年学术大会

作者：冯国英杨李茗陈建国张小民四川大学电子信息学院中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川大学电子信息学院中国工程物理研究院激光聚变研究中心

采用空间频谱分析法探讨了在非线性介质中传输的受调制的高功率激光束形成高亮度细丝的可能性。研究表明,在传输过程中伴随着输入场中调制场的高次谐波项的产生和发展,逐渐形成了具有细丝结构的高亮度光场横向分布,细丝的高亮度区可以... 详细信息

采用空间频谱分析法探讨了在非线性介质中传输的受调制的高功率激光束形成高亮度细丝的可能性。研究表明,在传输过程中伴随着输入场中调制场的高次谐波项的产生和发展,逐渐形成了具有细丝结构的高亮度光场横向分布,细丝的高亮度区可以追踪到入射场（本底加调制场）的“明亮”部分。

关键词：空间频谱分析法非线性成丝空间高次谐波

高重复频率激光脉冲光束大小对吸收玻璃损伤特征的影响

在线全文

cnki会议

学校读者我要写书评

暂无评论

物理学报 2011年第2期60卷 736-742页

作者：韩敬华冯国英杨李茗张秋慧傅玉青牛瑞华朱启华谢旭东周寿桓四川大学电子信息学院成都610064 中国工程物理研究院激光聚变研究中心绵阳621900

针对高重复频率对吸收性滤光片损伤问题,研究了高重复频率(kHz量级)激光脉冲的光束半径大小对吸收玻璃的形貌特征和损伤机理.研究发现在总的激光作用个数、单脉冲能量和脉冲作用频率固定时,吸收玻璃的损伤特性发生很大变化:在光束半径... 详细信息

针对高重复频率对吸收性滤光片损伤问题,研究了高重复频率(kHz量级)激光脉冲的光束半径大小对吸收玻璃的形貌特征和损伤机理.研究发现在总的激光作用个数、单脉冲能量和脉冲作用频率固定时,吸收玻璃的损伤特性发生很大变化:在光束半径较大时,激光能量分散,主要损伤形貌是熔化破坏;随着光束半径的减小,激光脉冲能量变得集中,热量的累积效果变得明显,逐渐变成熔化破坏和气化破坏;当激光光束半径小到一定程度,则会由于光强过大使得介质表面发生击穿而产生激光等离子体冲击波,同时由于热量沉积的集中使光束作用中心处产生超热液体,当满足相爆炸发生的条件时,气化物、液滴和固体颗粒的混合物会向外飞溅,在损伤凹陷的周围形成气化物、液滴的冷凝区和固体颗粒溅射区.

关键词：激光诱导损伤高重复激光脉冲吸收玻璃相爆炸

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

一种实时压电扫描器非线性软件校正的方法

一种实时压电扫描器非线性软件校正的方法

第十届全国光学测试学术讨论会

作者：杨甬英吴璀罡陆元彪陈阳杰杨李茗浙江大学信息学院光电工程系四川成都精密光学工程研究中心

压电式扫描器已经被普遍地应用于光学测试的各个领域。而在精密检测中,特别是条纹移相式系统中,压电式扫描器的非线性对测量结果的正确性带来了很大的影响。为此有各种压电式扫描器非线性软硬件校正的方法。本文提出了一种实时压电晶体...

压电式扫描器已经被普遍地应用于光学测试的各个领域。而在精密检测中,特别是条纹移相式系统中,压电式扫描器的非线性对测量结果的正确性带来了很大的影响。为此有各种压电式扫描器非线性软硬件校正的方法。本文提出了一种实时压电晶体非线性软件校正的方法,该方法是在移相式干涉系统中,依据系统的实际工作状态,利用CCD)采集多幅干涉图像,通过对干涉图像的数据分析及处理,获得压电晶体特征点的电压一位移曲线。首先由计算机向移相系统发送数据,使高压放大电路输出阶梯电压,驱动压电式扫描器的位移,每增加△V采集一张干涉图像,可以得到N幅干涉图像。提取这些图像上某一个固定特征点的灰度信息,如图1所示,实际上灰度变化就是位相或位移的变化。可以看出

关键词：