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Si基微绝热结构PLZT厚膜红外探测器阵列
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材料研究学报 2004年 第3期18卷 308-314页
作者: 曾亦可 刘梅冬 黄焱球 华中科技大学电子科学与技术系 武汉市430074 华中科技大学
介绍了一种制备非致冷红外探测器阵列的新方法,此方法避免了使用传统的微电子机械系统(MEMS)工艺来加工微桥.研究了如何在Si基片表面形成ZnO膜层网格状结构的方法.ZnO纳米粉末和PLZT厚膜采用改进的溶胶-凝胶法制备.表征了ZnO纳米粉末的... 详细信息
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热压烧结对锆钛酸铅镧陶瓷电卡效应的影响
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硅酸盐学报 2015年 第6期43卷 728-733页
作者: 王顺达 朱定洋 曾亦可 华中科技大学光学与电子信息学院 武汉430074
探讨热压烧结工艺对PLZT(锆钛酸铅镧)陶瓷材料介电击穿性能、饱和极化强度以及电卡性能的影响。通过X射线衍射和扫描电子显微镜,分析陶瓷样品的相组成和微观结构。结果表明,热压烧结法有助于控制陶瓷晶粒的生长,提高陶瓷的致密度并增大... 详细信息
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BST溶胶-凝胶的化学与热反应过程研究
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华中科技大学学报(自然科学版) 2003年 第11期31卷 38-40页
作者: 曾亦可 刘梅冬 姜胜林 刘少波 华中科技大学电子科学与技术系
以国产Ba和Sr醋酸盐为主要原材料 ,采用Sol Gel技术制备了稳定性极好的 (Ba0 .73 Sr0 .2 7)TiO3(BST2 7)溶胶 凝胶 .研究了BST2 7溶胶 凝胶的化学和热反应过程 .用透射电子显微镜 (TEM)分析BST2 7溶胶可知 ,其接触达到分子级水平且混合... 详细信息
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热处理温度对PST铁电薄膜微结构的影响
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华中科技大学学报(自然科学版) 2005年 第6期33卷 92-94页
作者: 曾亦可 胡勇 肖腊连 李秀峰 华中科技大学电子科学与技术系 湖北武汉430074
以Pb(OOCCH3)2·3H2O,Sc(OOCCH3)3·xH2O和Ta(OC2H5)5为原材料,用SolGel方法在Pt/Ti/SO2/Si(100)基片上成功地制备出厚度达1.5μm,无裂纹的PbSc0.5Ta0.5O3(PST)铁电薄膜.对(220)主晶向生长的PST薄膜分别在10~20min、650~800℃范围内... 详细信息
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铁电材料I-V特性测试系统
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仪器仪表学报 2006年 第11期27卷 1365-1368页
作者: 曾亦可 陈刚 张洋洋 邓传益 俞丹 华中科技大学电子科学与技术系 武汉430074
本文介绍了铁电材料的I-V特性及测量原理、测试系统的组成,并给出了测试软件的流程图。用该测试系统对PZT10铁电陶瓷进行I-V特性测试,测量结果与有关报道相符合。本文设计的系统软件不仅可以对所测的铁电样品进行参数计算、修改和保存数... 详细信息
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用丝网印刷法制备Pt电极及其性能
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材料研究学报 2008年 第5期22卷 479-484页
作者: 张海波 姜胜林 张洋洋 曾亦可 华中科技大学电子科学与技术系教育部敏感陶瓷工程研究中心 武汉430074
采用单层和双层印刷法在氧化铝衬底上制备功能陶瓷厚膜用Pt电极,研究了烧结温度、升温速率和电极厚度对Pt电极层的表面形貌、表面覆盖率和表面粗糙度的影响,以揭示晶粒长大、气孔生长及致密化机制.结果表明,在单层印刷Pt电极的烧结过程... 详细信息
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一种新型三路自适应热释电系数测试系统
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压电与声光 2009年 第1期31卷 126-128,131页
作者: 谢静菁 曾亦可 王聪 罗旖旎 姜胜林 华中科技大学电子科学与技术系 湖北武汉430074
基于动态电流法设计了一种新型热释电系数测试系统,其新颖之处在于首创设计了三路自适应微电流放大电路模块,该模块解决了弱热释电材料需要小动态范围,高灵敏度微电流放大而强热释电材料需要大动态范围,低灵敏度微电流放大的矛盾。系统... 详细信息
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PZT铁电薄膜结构及疲劳特性研究
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功能材料 1995年 第6期26卷 524-527页
作者: 王培英 刘梅冬 曾亦可 何恩培 饶韫华 华中理工大学固体电子学系
铁电薄膜的电疲劳是铁电存储器等应用的主要障碍。我们用Sol-gel(溶胶-凝胶)方法制备的PZT铁电薄膜,对其结构和疲劳特性的研究表明:组分及工艺因素会影响薄膜的结构,具有玫瑰花形的PZT薄膜内部存在较多的带电缺陷。... 详细信息
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纯氧高气压溅射PZT铁电薄膜
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硅酸盐学报 2005年 第3期33卷 358-361页
作者: 曾亦可 姜胜林 邓传益 陈实 刘梅冬 华中科技大学电子科学与技术系 武汉430074
用Pb(Zr0.55Ti0.45)O3烧结陶瓷作为靶材,在纯氧、高气压溅射条件下成功地原位沉积了锆钛酸铅(leadzirconatetitanate,PZT)铁电 薄膜。为了弥补靶材在烧结过程中Pb的挥发及溅射成膜过程中发生Pb的损失,以PbO计,加入了质量分数为5.0%的过... 详细信息
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退火温度对ZnO陶瓷薄膜低压压敏特性的影响
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材料研究学报 2005年 第1期19卷 102-106页
作者: 姜胜林 林汝湛 曾亦可 刘梅冬 华中科技大学电子科学与技术系 教授武汉市430074 华中科技大学
应用新型溶胶-凝胶法制备了ZnO陶瓷薄膜,研究了退火温度对ZnO陶瓷薄膜低压压敏电阻电性能的影响.结果表明,采用溶胶掺杂在550℃退火条件下可形成Zn7Sb2O12及ZnCr2O4相,且在退火温度范围内(550-950℃)基本上没有焦绿石相形成.当退火温度... 详细信息
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