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480×6长波红外探测器的低噪声采集系统设计

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激光与红外 2009年第11期39卷 1177-1182页

作者：谢宝蓉傅雨田张滢清中国科学院上海技术物理研究所上海200083 上海太阳能工程技术研究中心有限公司上海200241

480×6长波制冷红外探测器是一款480列,6阶TD I的高探测器率的CMOS探测器。以此探测器为例,介绍了长波红外探测器采集系统的低噪声设计过程。着重解决了硬件电路在满足驱动的条件下如何降低噪声的问题,试验结果表明采集系统工作正常,且... 详细信息

480×6长波制冷红外探测器是一款480列,6阶TD I的高探测器率的CMOS探测器。以此探测器为例,介绍了长波红外探测器采集系统的低噪声设计过程。着重解决了硬件电路在满足驱动的条件下如何降低噪声的问题,试验结果表明采集系统工作正常,且具有较好的噪声特性,在300 K黑体直接照射情况下,整个采集系统所测得的均值噪声为1.20 mV,信噪比可达到55 dB以上。

关键词： CMOS TDI 长波采集系统低噪声

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推扫成像中积分时间对孔径函数的影响分析

红外技术 2007年第3期29卷 147-150页

作者：张滢清傅雨田华侨大学信息科学与工程学院福建泉州362021 中科院上海技术物理研究所上海200083

分析了线列推扫成像中,积分时间对采样孔径函数的影响。给出了在推扫方向上随着积分时间变化的梯形采样孔径函数,并根据该孔径函数,分析了积分时间和输入频率对截取过程中的调制传递函数值下降速度的影响,同时对细分采样叠加成像方式与... 详细信息

分析了线列推扫成像中,积分时间对采样孔径函数的影响。给出了在推扫方向上随着积分时间变化的梯形采样孔径函数,并根据该孔径函数,分析了积分时间和输入频率对截取过程中的调制传递函数值下降速度的影响,同时对细分采样叠加成像方式与积分延迟效应的类似性作了简要对比。这些分析有助于更清晰地了解推扫成像方式中积分时间对系统成像质量的影响。

关键词：孔径函数截取推扫积分时间调制传递函数

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长波红外相机细分采样迭加像元传递函数分析

红外与激光工程 2003年第3期32卷 309-312页

作者：张滢清傅雨田王建宇中国科学院上海技术物理研究所上海200083

根据长波红外探测器的特点,阐述了细分采样迭加技术的应用目的和原理,在像元传递函数(PTF)的基础上分析细分采样和迭加对PTF的影响,给出了不同细分倍数m对应的细分采样迭加PTF。随着m的增加,推扫采样方式由单次瞬时采样(m=1)转变为全驻... 详细信息

根据长波红外探测器的特点,阐述了细分采样迭加技术的应用目的和原理,在像元传递函数(PTF)的基础上分析细分采样和迭加对PTF的影响,给出了不同细分倍数m对应的细分采样迭加PTF。随着m的增加,推扫采样方式由单次瞬时采样(m=1)转变为全驻留时间积分采样(m趋于无穷大)。当细分倍数m>4时,PTF的变化已经不明显了。

关键词：细分采样像元传递函数迭加红外相机线列焦平面

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高分辨率遥感卫星有效载荷系统技术

红外 2001年第8期22卷 1-10页

作者：张瀅清中国科学院上海技术物理研究所

所谓高分辨率图像是指那些地面分辨率优于5 m或5 m左右的陆地遥感图像数据.高分辨率遥感系统有着比常规遥感系统高得多的功能密度(即性能高,重量轻).1960年10月,美国KH-1普查型照相侦察卫星发射成功,标志着高分辨率成像卫星遥感的开始,... 详细信息

所谓高分辨率图像是指那些地面分辨率优于5 m或5 m左右的陆地遥感图像数据.高分辨率遥感系统有着比常规遥感系统高得多的功能密度(即性能高,重量轻).1960年10月,美国KH-1普查型照相侦察卫星发射成功,标志着高分辨率成像卫星遥感的开始,也是这一技术在军事领域应用的开始.1962年4月,前苏联发射成功了"宇宙-4"照相侦察卫星.自此,两国在这一领域展开了激烈的竞争,同时在世界上垄断着这一领域.1995年7月,法国发射"太阳神1A"光学侦察卫星成功,同年以色列也发射成功了"地平线3号"小型战术成像侦察卫星.

关键词：高分辨率图像遥感卫星有效载荷系统陆地观测

细分采样叠加技术在推扫式长波红外成像中的应用

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量子电子学报 2006年第2期23卷 263-267页

作者：张滢清王建宇傅雨田中国科学院上海技术物理研究所上海200083

在推扫式长波红外成像系统中,由于强辐射背景的存在,探测器的饱和积分时间只占像元驻留时问的十分之一甚至几十分之一,针对这种情况,将细分采样叠加技术应用在该类成像系统中,可以有效地利用推扫成像方式相对于机械扫描成像方式在驻留... 详细信息

在推扫式长波红外成像系统中,由于强辐射背景的存在,探测器的饱和积分时间只占像元驻留时问的十分之一甚至几十分之一,针对这种情况,将细分采样叠加技术应用在该类成像系统中,可以有效地利用推扫成像方式相对于机械扫描成像方式在驻留时间上的优势,达到提高系统信噪比的目的。文中首先针对短积分时间长波红外探测器的特点阐述了细分采样叠加技术原理,从理论上分析了叠加对PTF和图像信噪比SNR 的影响。接着简要叙述了基于细分采样叠加技术的长波红外成像系统的软硬件研制情况,最后通过成像实验, 验证了系统所采用的各种方法的有效性。

关键词：光电子学长波红外细分采样叠加 PTF

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长波红外探测器接收的冷屏内壁辐射估算

红外与激光工程 2007年第Z1期36卷 221-224页

作者：张滢清张鑫傅雨田华侨大学信息科学与工程学院福建泉州362021 冲科院上海技术物理研究所上海200083 冲科院上海技术物理研究所上海200083

长波红外相机中的背景辐射来源于多个系统部件,其中包括实际工程忽略的冷屏内壁.通过对冷屏和探测器的建模,在冷屏内壁发黑情况下对辐射量级进行估算,并考虑一次反射的情况,得出在相关假设条件下探测器中心单元接收到的冷屏背景辐射功... 详细信息

长波红外相机中的背景辐射来源于多个系统部件,其中包括实际工程忽略的冷屏内壁.通过对冷屏和探测器的建模,在冷屏内壁发黑情况下对辐射量级进行估算,并考虑一次反射的情况,得出在相关假设条件下探测器中心单元接收到的冷屏背景辐射功率估算值,为工程中的忽略做法提供一个定量依据,同时为进行其他类似的背景辐射的估算提供一个算法参考.

关键词：冷屏背景辐射长波红外

320×256长波红外探测器低噪声采集系统设计

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红外技术 2010年第4期32卷 191-194,203页

作者：谢宝蓉傅雨田张滢清中国科学院上海技术物理研究所上海200083 上海太阳能工程技术研究中心有限公司上海200241

针对320×256长波红外焦平面探测器工作原理和输出信号特点,从低噪声角度出发,设计了长波红外探测器采集系统,着重解决了如何在满足驱动能力条件下降低噪声问题。对提供精密偏置电压和输出信号处理过程给出了详细的设计思路和实现方法... 详细信息

针对320×256长波红外焦平面探测器工作原理和输出信号特点,从低噪声角度出发,设计了长波红外探测器采集系统,着重解决了如何在满足驱动能力条件下降低噪声问题。对提供精密偏置电压和输出信号处理过程给出了详细的设计思路和实现方法。实验结果表明,系统获得了较好的噪声特性,在300 K和310K黑体照射下、探测器积分80μs且远未饱和情况下,平均噪声等效温差为80 mK。

关键词： 320×256 长波红外低噪声噪声等效温差

缓冲层对p-a-Si/n-c-Si异质结太阳电池影响的计算分析

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中国科学：物理学、力学、天文学 2013年第8期43卷 923-929页

作者：白晓宇郭群超柳琴庞红杰张滢清李红波上海太阳能工程技术研究中心上海200241

采用AFORS-HET和MATLAB从理论上研究了缓冲层对HIT电池性能的影响机理.首先对P层进行优化,发现高掺杂、薄厚度的P层有利于电池效率的提升.缓冲层主要的影响有两方面,一是界面态密度,二是与晶体硅形成能带失配.模拟发现,界面态增大导致... 详细信息

采用AFORS-HET和MATLAB从理论上研究了缓冲层对HIT电池性能的影响机理.首先对P层进行优化,发现高掺杂、薄厚度的P层有利于电池效率的提升.缓冲层主要的影响有两方面,一是界面态密度,二是与晶体硅形成能带失配.模拟发现,界面态增大导致复合中心密度上升,开路电压下降;能带失配的增大可以降低界面处少子浓度,起到场钝化效果,提高开路电压.短路电流和填充因子受到界面处的影响较小,与P层的工艺条件有比较大的关系.

关键词： p-a-Si n-c-Si异质结太阳电池缓冲层界面态密度能带失配

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PECVD法生长晶化硅薄膜的机理

材料科学与工程学报 2013年第3期31卷 361-364,435页

作者：白晓宇郭群超柳琴庞宏杰张滢清李红波上海太阳能工程技术研究中心上海200241 上海空间电源研究所上海200245

硅薄膜在太阳电池中有非常重要的应用,薄膜的晶化对硅薄膜的性质和太阳电池效率都有很大影响,研究薄膜晶化理论具有重要意义。选择刻蚀模型认为H原子会轰击薄膜生长表面,打断吸附较弱的化学键,促使形成强的Si-Si键,使薄膜发生晶化。通过... 详细信息

硅薄膜在太阳电池中有非常重要的应用,薄膜的晶化对硅薄膜的性质和太阳电池效率都有很大影响,研究薄膜晶化理论具有重要意义。选择刻蚀模型认为H原子会轰击薄膜生长表面,打断吸附较弱的化学键,促使形成强的Si-Si键,使薄膜发生晶化。通过Monte Carlo法对具体的生长晶化过程进行了模拟计算,发现薄膜晶相的转变发生在生长温度350K(77℃)以上,并且在低温(T<550K)下,晶化的过程主要发生在氢稀释度90%以上。结果与实验数据在高氢稀释下基本吻合,低氢稀释下有偏差。认为低氢稀释下晶化反应所需中间产物产量少,模型中未被考虑的其他基团影响了它们的相对数量,造成模拟结果的偏差。模型对硅薄膜晶化过程的理论解释有一定的合理性。

关键词：硅薄膜晶化选择刻蚀模型