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基于Hough变换和深度学习的条形码识别

现代电子技术 2025年第01期48卷 157-162页

作者：屈源昊张丰收昌继宝丰瑞博河南科技大学机电工程学院

为了解决复杂背景下条形码不易定位识别的难题，提出一种基于Hough变换和深度学习相结合的方法对条形码进行校正定位。首先对待检测图像进行灰度化、高斯模糊以及边缘检测等预处理；然后利用Hough变换检测条形码图像中的线段，进行旋转... 详细信息

为了解决复杂背景下条形码不易定位识别的难题，提出一种基于Hough变换和深度学习相结合的方法对条形码进行校正定位。首先对待检测图像进行灰度化、高斯模糊以及边缘检测等预处理；然后利用Hough变换检测条形码图像中的线段，进行旋转校正，校正后的图像经Yolov5对条形码进行识别和提取，完成条形码的识别分割。文中方法对不同样式条形码均有较好的识别效果，旋转校正的精确度达到99.31%，识别平均精确度达到99.40%，召回率达到99.79%，推理时间为10.5 ms。提出的方法可对任意角度倾斜进行校正，识别条码具有较高的准确率，对条形码定位识别具有一定的应用价值。

关键词： Hough变换 Yolov5 倾斜校正条码识别图像处理机器视觉

基于密度泛函理论研究Co、Ni、As掺杂载金黄铁矿的电子结构和稳定性

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原子与分子物理学报 2025年第1期42卷 145-155页

作者：吴德宝唐云李国辉吴波聂光华贵州大学矿业学院贵阳550025 贵州省非金属矿产资源综合利用重点试验室贵阳550025 紫金矿业集团股份有限公司龙岩364000

Co、Ni、As掺杂的黄铁矿晶体具有不同物理性质,会影响其载金性能和氧化行为.论文基于密度泛函理论计算,采用了CASTEP软件对载金黄铁矿以及不同晶体缺陷的载金黄铁矿进行模拟计算,以研究Co、Ni、As掺杂载金黄铁矿的电子结构,并据此分析... 详细信息

Co、Ni、As掺杂的黄铁矿晶体具有不同物理性质,会影响其载金性能和氧化行为.论文基于密度泛函理论计算,采用了CASTEP软件对载金黄铁矿以及不同晶体缺陷的载金黄铁矿进行模拟计算,以研究Co、Ni、As掺杂载金黄铁矿的电子结构,并据此分析其稳定性.综合半导体类型和能量分析,不同晶体缺陷的载金黄铁矿稳定性顺序为:Fe_(32)S_(63)AsAu

关键词：载金黄铁矿掺杂密度泛函理论氧化预处理

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低轨增强对北斗量化信号载噪比的影响

电子设计工程 2025年第1期33卷 154-159,165页

作者：宋玉龙杨春宝华南理工大学电子信息学院广东广州510610 广州晶维天腾微电子技术有限公司广东广州510670 广州海格通信集团股份有限公司广东广州510670

为了评估频点兼容下低轨增强对北斗信号接收的影响,从而指导接收机设计,通过概率统计理论推导了低轨增强下北斗信号的量化效应和载噪比损耗模型,并通过蒙特卡罗仿真给出了1~6 bit量化位宽下北斗信号的载噪比损耗与前端增益以及低轨增强... 详细信息

为了评估频点兼容下低轨增强对北斗信号接收的影响,从而指导接收机设计,通过概率统计理论推导了低轨增强下北斗信号的量化效应和载噪比损耗模型,并通过蒙特卡罗仿真给出了1~6 bit量化位宽下北斗信号的载噪比损耗与前端增益以及低轨增强功率的关系,仿真与理论结果的一致性较好。实验结果表明,北斗信号最小载噪比损耗对应的最优前端增益与低轨增强功率无关,但最小载噪比衰减值会随着低轨信号功率的增强而增大,1~2 bit量化位宽下有明显的量化损耗,3 bit及以上量化位宽下北斗信号载噪比衰减特性基本一致。

关键词：低轨增强北斗概率统计理论量化效应载噪比损耗模型蒙特卡罗仿真

不同海拔高度下电晕放电等离子体粒子特性的仿真研究

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原子与分子物理学报 2025年第3期42卷 94-100页

作者：冷雪健金福宝马山刚陈科元青海大学能源与电气工程学院西宁810000

电晕放电作为等离子体的一种重要获取手段,它的放电特性及其降解能力与所处空气环境有着密切的关系.为了得到不同海拔高度对电晕放电特性和等离子体降解能力的影响,本文通过COMSOL软件基于流体动力学模型,对不同海拔高度的放电模型进行... 详细信息

电晕放电作为等离子体的一种重要获取手段,它的放电特性及其降解能力与所处空气环境有着密切的关系.为了得到不同海拔高度对电晕放电特性和等离子体降解能力的影响,本文通过COMSOL软件基于流体动力学模型,对不同海拔高度的放电模型进行数值模拟计算.分别对电流波形、影响等离子体降解能力的电子密度、平均电子能量等物理量随海拔高度变化的规律进行研究.结果表明,海拔越高,气压越低,环境温度越低,电流脉冲峰值越高,频率越高,脉冲启动时间越提前.脉冲波形的上升时间减小、下降时间增大.同时,电子密度以及平均电子能量也会随着海拔高度的升高而增强.

关键词：等离子体电晕放电 COMSOL仿真电子密度