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SDIPS-EM3扫描类电镜用数字图像处理系统

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云南大学学报（自然科学版） 1992年第S1期14卷 169-172页

作者：胡问国吴永强周开邻马琳胡志华云南大学物理系昆明物理研究所

本文提出了一种SDIPS-EM3扫描类电镜用数字图像处理系统,它可直接联接到任一台扫描电镜、电子探针、扫描隧道显微镜等扫描类电镜上直接采集图像电信号,并应用多种数字图像处理技术对图像进行处理.处理过的图像的信噪比得到极大的提高,... 详细信息

本文提出了一种SDIPS-EM3扫描类电镜用数字图像处理系统,它可直接联接到任一台扫描电镜、电子探针、扫描隧道显微镜等扫描类电镜上直接采集图像电信号,并应用多种数字图像处理技术对图像进行处理.处理过的图像的信噪比得到极大的提高,清晰度得到明显的改善,可视信息明显地增加.而且明确地看到了一些新信息.此外,还可以用256种伪彩色显示,大大地改善了视觉效果.可免去用户对电镜图像进行拍照、冲印等繁杂手续即可长期保存电镜图像.

关键词：扫描电镜数字图像 SDIPS-EM3

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用扫描电子显微镜透视半导体和集成电路

电子显微学报 2001年第4期20卷 404-405页

作者：梁竹关李亚文肖玲王建周开邻李萍徐晓华 Pay Э И 胡问国云南大学物理系昆明650091 昆明物理研究所昆明650223 俄罗斯

用普通扫描电子显微镜(SEM)只能观测样品的表面形貌,不能观测到隐藏在表面绝缘层下面的半导体材料和集成电路的微结构.在普通的SEM中安装了我们研制成功的透表面检测仪后就可以突破普通的SEM只能观测样品表面形貌的限制,透过表面绝缘层... 详细信息

用普通扫描电子显微镜(SEM)只能观测样品的表面形貌,不能观测到隐藏在表面绝缘层下面的半导体材料和集成电路的微结构.在普通的SEM中安装了我们研制成功的透表面检测仪后就可以突破普通的SEM只能观测样品表面形貌的限制,透过表面绝缘层透视到下面的半导体材料的缺陷和集成电路的微结构.我们在本文中首次公布用改装的SEM观测到该绝缘层下面的半导体材料缺陷的微结构(图1).

关键词：扫描电镜半导体材料集成电路微结构分析透视缺陷透表显微内窥法

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JD-1Y型汽车酒敏断电器的研究

数据采集与处理 1989年第A10期4卷 56-57页

作者：胡问国马鸿喜吴永强周开邻黄惠珍胡志宇云南大学

机动车驾驶员酒后违章开车肇事,车毁人亡,造成人民生命财产的巨大损失。可否防止这类恶性事故的发生呢?回答是肯定的。我们研究的JD-1Y型汽车酒敏断电器就是一种能有效地防止这类恶性事故发生的保安装置。当驾驶员酒后违章开车时,由驾... 详细信息

机动车驾驶员酒后违章开车肇事,车毁人亡,造成人民生命财产的巨大损失。可否防止这类恶性事故的发生呢?回答是肯定的。我们研究的JD-1Y型汽车酒敏断电器就是一种能有效地防止这类恶性事故发生的保安装置。当驾驶员酒后违章开车时,由驾驶员呼出的微量酒精气可被JD-1Y发现,并发出指令动作报警,使汽车不能开动。驾驶员无法开车,这就避免事故发生。

关键词：汽车酒敏断电器气敏无件安全

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透表面显微内窥半导体和集成电路的新方法

电子显微学报 2000年第4期19卷 589-590页

作者：李亚文梁竹关肖玲李萍徐晓华王建周开邻 РАУЗ.И. 胡问国昆明物理研究所云南大学物理系

在信息时代,面对铺天盖地大量涌来的各种信息,需要对其进行采集、处理、传输、存储编辑、显示、打印和应用.这就需要使用计算机、通讯和自动化等各种技术手段来完成上述任务,而这些技术手段又是以半导体材料和集成电路为基础的.随着需... 详细信息

在信息时代,面对铺天盖地大量涌来的各种信息,需要对其进行采集、处理、传输、存储编辑、显示、打印和应用.这就需要使用计算机、通讯和自动化等各种技术手段来完成上述任务,而这些技术手段又是以半导体材料和集成电路为基础的.随着需要采集和处理的信息量越来越大,对半导体材料和集成电路的要求也越来越高,要求制作出集成度更高的高可靠性的超大规模、甚大规模和巨大规模的集成电路.为了要保证高可靠性,就必须对半导体材料和集成电路在制作过程中和制作完成后都要能进行严密科学的检测,以便保证所制作出来的集成电路能可靠地工作.

关键词：透表面显微内窥集成电路半导体材料

Lock-in用于无损显微分层内窥透视集成电路法

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数据采集与处理 2001年第Z1期16卷 112-115页

作者：王建李亚文肖玲梁竹关周开邻李萍徐晓华胡问国 Рау,З,И 云南大学物理系昆明650091 昆明物理研究所昆明650000 云南大学物理系昆明650091 云南大学物理系昆明650091 云南大学物理系昆明650091 昆明物理研究所昆明650000 昆明物理研究所昆明650000 云南大学物理系昆明650091 俄罗斯科学院微电子研究所

提出一种新的扫描电子显微镜电子束非接触无损显微分层内窥透视半导体和多层结构集成电路表面层下亚表面层内半导体的缺陷和多层结构集成电路微结构的检测法(简称分层法)和用此法所观测到的分层内窥透视的图像.同时。

关键词：扫描电子显微镜电子束非接触无损显微分层内窥透视检测法半导体和多层结构集成电路分层的微结构和缺陷锁相放大器

透绝缘层内窥透视集成电路法中Lock-in的应用

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数据采集与处理 2001年第Z1期16卷 108-111页

作者：王建肖玲梁竹关周开邻胡问国李亚文李萍徐晓华 Рау З И 云南大学物理系昆明物理研究所俄罗斯科学院微电子研究所

提出一种新的在扫描电子显微镜中非接触无损透过半导体和集成电路表面绝缘层显微内窥透视检测掩盖在其绝缘层下面的半导体的缺陷和集成电路微结构的检测法(简称透表法)和用此法所观测到的图像。同时，本文还介绍了在此新检测法中Lock-i... 详细信息

提出一种新的在扫描电子显微镜中非接触无损透过半导体和集成电路表面绝缘层显微内窥透视检测掩盖在其绝缘层下面的半导体的缺陷和集成电路微结构的检测法(简称透表法)和用此法所观测到的图像。同时，本文还介绍了在此新检测法中Lock-in的应用。

关键词：扫描电子显微镜透过表面绝缘层非接触无损显微内窥透视检测法半导体和集成电路微结构和缺陷锁相放大器

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基于VHDL的开关消抖电路的研究

实验科学与技术 2010年第2期8卷 1-2,11页

作者：王彩君周开邻黄智进云南大学物理科学技术学院昆明650091

介绍了3种开关消抖方案的工作原理,给出了基于VHDL的相关实现程序和测试结果,并就结构、抗干扰、时序配合等方面对电路性能进行分析讨论。电路实用性强,对学生设计电路有一定的启发引导。

关键词：开关消抖 VHDL语言

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真空微电子管的扫描电镜研究

真空微电子管的扫描电镜研究